L3G4200D测试程序
标签： L3G4200D 测试程序
上传时间： 2014-12-29
上传用户：xz85592677
电磁辐射到军械上是危险的，潜在的电磁辐射对军工品或电子爆炸装置有不利影响，自从50 年代以来这就是众所周知的 问题。为了避免不必要的爆炸或电起爆装置（EID）从发射电磁能量增殖，这对于所有的防卫机构来说是必不可少的。伴 随着功率输出和发射设备频率范围的持续增加，减小此威胁变得至关重要。 为了确保大炮和军火系统保持安全，在适当维护条件下，测量电子爆炸装置（ EED）上电磁能量影响的测试设备有很大 发展。几年后基于光纤技术的新一代仪器取代了使用热电偶或红外探测的系统。光纤传感器（ FOS）具有高精度和高准 确性，非常灵敏，提供的响应时间可满足高效的EED。由于电绝缘的特性，光纤传感器对电磁干扰（EMI）完全免疫，在 感应环境中可表现出来。由于此有利的参数，基于光纤技术的传感器现已成为HERO/RADHAZ 测试的标准。然而，什么 是该技术必要的条件以提供EED 装置可靠的辐射评估仍然没有明确，怎样去完全发挥此技术优势以完全获益呢？
标签： HERO EED 光纤 温度传感器
上传时间： 2013-11-16
上传用户：daijun20803
温度测试软件
标签： 温度测试 软件
上传时间： 2013-10-10
上传用户：完玛才让
本应用笔记描述AD7142传感器板的在线测试程序。该程序用于检查AD7142传感器板是否妥善连接到系统主控制器板，以及AD7142传感器板和传感器元件的工作性能是否符合预期。
标签： 7142 AD 传感器 生产测试
上传时间： 2013-10-28
上传用户：zjwangyichao
RealView+MDK+Jlink+Mini2440测试程序移植(成功)2
标签： RealView Jlink 2440 Mini
上传时间： 2013-11-10
上传用户：风为裳的风
嵌入式控制器软件安全性、可靠性测试方法及标准建议
标签： 控制器 安全测试 报告 软件
上传时间： 2013-11-14
上传用户：萍水相逢
意法半导体STM32F103核心板外扩测试程序
标签： F103 STM 103 32F
上传时间： 2013-11-02
上传用户：88mao
2.4G ZigBee矿井通讯效果评估测试报告介绍
标签： ZigBee 2.4 通讯 测试报告
上传时间： 2014-12-30
上传用户：wang5829
摘要:IC智能卡使用过程中出现的密码校验失效、数据丢失、应用区不能读写等一系列失效和可靠性问题,严重影响了其在社会生活各领域的广泛应用.分析研究了IC智能卡芯片碎裂、引线键合断裂、静电放电损伤等失效模式和失效机理,并结合IC卡制造工艺和失效IC卡的分析实例,对引起这些失效的根本原因作了深入探讨,就提升制造成品率、改善可靠性提出应对措施.关键词:IC卡;薄/超薄芯片;碎裂;键合
标签： IC智能卡 失效机理
上传时间： 2013-11-09
上传用户：wangjg
FM调频技术原理及FM芯片测试指南
标签： FM调频 芯片测试
上传用户：wdq1111
