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IC测试

任何一块集成电路都是为完成一定的电特性功能而设计的单片模块,IC测试就是集成电路的测试,就是。如果存在无缺陷的产品的话,集成电路的测试也就不需要了。由于实际的制作过程所带来的以及材料本身或多或少都有的缺陷,因而无论怎样完美的产品都会产生不良的个体,因而测试也就成为集成电路制造中不可缺少的工程之一。
  • LJD-SY-5200单片机实验系统实验指导书

    LJD-SY-5200实验系统的硬件部分主要由以下电路构成:显示电路(其中显示电路包括液晶显示,数码管显示,发光二极管显示及8X8三色LED点阵显示),键盘电路,USB电路,串口电路,时钟电路,I2C电路,D/A&A/D转换电路,测温湿度电路,1-WIRE总线电路,IC卡电路,语音电路,蜂鸣器&继电器电路,单脉冲发生电路,红外遥感电路等电路有机组合而成。而实验系统的软件部分则是精心编写并测试通过的所有硬件部分驱动程序和大量的综合实验例程。

    标签: LJD-SY 5200 单片机 实验系统

    上传时间: 2013-11-13

    上传用户:432234

  • 纺织设备中金属旋转体振动的单片机测试系统

    摘要:纺织机械中金属旋转体在旋转过程中由于自身的不平衡或安装不合理等原因引起振动,对设备的运行产生不良影响。本文提供一种用单片机测试系统测试金属旋转体振动的方法,并介绍其软件和硬件的设计及原理。关键词纺织机械 机构 金属旋转体 振动测试系统

    标签: 纺织 旋转体 振动 单片机

    上传时间: 2014-12-27

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  • 基于单片机的AFM纳米机械性能测试系统

    摘要:为解决采用原子力显微镜(AFM)系统进行纳米机械性能测试中存在的不能够直接获得载荷?压深曲线以及不能够随意改变加载、保载、卸载时间等问题,对AFM系统进行了改造,开发了一套基于单片机的信号输入输出模块。将该模块与AFM控制系统相联,形成新的纳米机械性能测试系统。该系统信号输出精度为0.15mV,信号采集精度为0.3mV,工作台的移动灵敏度为1.53nm,可以动态改变垂直载荷,并实时获得载荷?压深曲线。通过单片机设置模拟信号的输出速率可以实现加载、保载和卸载速率的改变;结合二维微动精密工作台,可以实现较大范围内高精度的点阵压痕测试。通过在聚碳酸酯、聚二甲基硅氧烷等材料表面进行实验测试表明:该系统可以高速高精度地测量样品的纳米机械性能参数,包括对样品进行纳米压痕测试和对样品的纯弹性变形过程进行检测,如聚二甲基硅氧烷或者各种微梁等微小构件。关 键 词:原子力显微镜(AFM);单片机;纳米机械性能;载荷-压深曲线

    标签: AFM 单片机 纳米机械 性能测试

    上传时间: 2013-10-18

    上传用户:a296386173

  • IC 卡保险箱

    本文详细介绍了利用逻辑加密卡SLE4442 设计IC 卡保险箱(DEMO 板)的过程该保险箱是利用P87LPC764 做处理器另扩展1 片E2PROM 组成的应用系统该保险箱具有如下功能卡号自学习读卡出错计数和非法卡计数达到设定次数保险箱死锁控制该保险箱有权限和功能不同3 种卡(1)用户卡最终用户开箱用权限最低(2)客户卡分配用户卡给指定的保险箱(3)超级卡用于死锁后开箱用权限最高

    标签: IC 保险箱

    上传时间: 2013-10-09

    上传用户:wang0123456789

  • HT45R3X系列触控IC按键识别SWIP介绍

    HT45R3X系列触控IC按键识别SWIP介绍 HOLTEK 用于触控按键的IC 有:HT45R34、HT45R36、HT45R38 等。为了帮助使用者,在利用这些IC 开发项目时,省去重复编写按键检测程序的工作,我们特此写出 SWIP,用于HT45R34,HT45R36,HT45R38 的触摸按键检测功能,使用者只需修改UserSet.inc 中的几个参数,便可实现对HT45R34,HT45R36,HT45R38 的触摸按键检测功能。

    标签: SWIP 45R HT 45

    上传时间: 2013-11-19

    上传用户:zjf3110

  • 利用MCP3905/6进行符合IEC标准的有功电能表设计,A

    MCP3905/6 电能表集成电路(Intergrated Circuits,IC)为单相家用电表设计提供有功功率测量。这些器件包含符合国际电工委员会(International Electrotechnical Commission,IEC)所要求的特性,如空载门限和启动电流。此外, MCP3905/6 电表参考设计还给出了根据IEC标准的要求通过EMC抗干扰的系统级设计的例子。 本应用笔记中使用的电表参考设计演示板进行了IEC 认证要求的EMC 测试。这些测试由第三方进行,测试结果见本应用笔记的末尾。

    标签: 3905 MCP IEC 标准

    上传时间: 2013-10-17

    上传用户:ysjing

  • 基于单片机和VFP9.0的IC卡管理系统设计

    针对目前主流的Philips 公司Mifare1 卡,提出了一套基于单片机和VFP9.0 的IC卡管理系统设计方案,给出了整体设计及编程思路,并对其中的技术细节做了详细说明。

    标签: VFP 9.0 单片机 IC卡

    上传时间: 2013-12-28

    上传用户:chaisz

  • UART测试程序-AT91SAM9260

    UART测试程序-AT91SAM9260://* The software is delivered "AS IS" without warranty or condition of any//* kind, either express, implied or statutory. This includes without//* limitation any warranty or condition with respect to merchantability or//* fitness for any particular purpose, or against the infringements of//* intellectual property rights of others.

    标签: UART 9260 SAM AT

    上传时间: 2013-11-18

    上传用户:yepeng139

  • 基于单片机控制的二氧化碳浓度测试计

    基于单片机控制的二氧化碳浓度测试计:基于CDM4161二氧化碳气体浓度测试模块以及ATtiny26单片机,提出了一种二氧化碳浓度测试计的设计方案。该方案具有硬件电路简单、成本低、可靠性高、测量准确等优点,具有较高的实用价值。 Abstract: Abstract:A desigh scheme of CO2 concentration meter based on CDM4161carbon dioxide concentration test module and ATtiny26micro-controller is presented in this paper.The design scheme features simple hardware circuit,low-cost,high reli-ability,accurate measurement and it has a high practical value.

    标签: 单片机控制 二氧化碳 测试

    上传时间: 2013-11-14

    上传用户:zjwangyichao

  • 基于单片机的霍尔传感器测试系统介绍

    介绍用单片机实现霍尔传感器检测的测试系统,并详细地分析了该系统的结构、硬件组成及系统功能。最后阐述了该系统程序编译过程中及现场调试过程中遇见的问题及其解决办法。

    标签: 单片机 霍尔传感器 测试系统

    上传时间: 2013-10-09

    上传用户:bruce5996