射频识别(Radio Frequency Identification，RFID)是一种允许非接触式数据采集的自动识别技术。其中工作在超高频(Ultra High Frequency，UHF)频段的无源RFID系统，由于在物流与供应链管理等领域的潜在应用，近年来得到了人们的广泛关注。这种系统所使用的无源标签具有识别距离长、体积小、成本低廉等突出特点。目前在市场上出现了各种品牌型号的UHF RFID无源标签，由于不同品牌型号的标签在设计与制造工艺上的差异，这些标签在性能表现上各不相同，这就给终端用户选择合适自己应用的标签带来了困难。RFID基准测试就是在实际部署RFID系统前对RFID标签的性能进行科学评估的有效手段。然而为了在常规实验室条件下得到准确公正的测试结果，需要对基准测试的性能指标及测试方法学开展进一步的研究。本文正是研究符合EPC Class1 Gen2标准的RFID标签基准测试。 本文首先分析了当前广泛应用的超高频无源RFID标签基准测试性能指标与测试方法上的局限性与不足之处。例如，在真实的应用环境中，由于受到各种环境因素的影响，对同一品牌型号的标签，很难得到一致的识读距离测试结果。另外，在某些测试场景中，使用识读速率作为测试指标，所得到的测试结果数值非常接近，以致分辨度不足以区分不同品牌型号标签的性能差异。在这些分析基础上，本文把路径损耗引入了RFID基准测试，通过有限点的测量与数据拟合分别得到不同类型标签的路径损耗方程，结合读写器天线的辐射方向图，进一步得到各种标签受限于读写器接收灵敏度的覆盖区域。无源标签由于其被动式能量获取方式，其实际工作区域仍然受限于前向链路。本文通过实验测试出这些标签的最小激活功率后，得出了各种标签在一定读写器发射功率下的激活区域。完成这些步骤后，根据这两种区域的交集可以确定标签的工作区域，从而进行标签间的比较并达到基准测试的目的，并能找出限制标签工作范围的瓶颈。 本文最后从功率损耗的角度研究了标签之间的相互干扰，为用户在密集部署RFID标签的场景中设置标签之间的最小间隔距离具有重要的参考意义。
上传时间： 2013-04-24
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现场总线技术是当前自动化技术中的一个热点，但目前国际上常用的多种现场总线协议均由世界级厂商提出和垄断。CAN总线是公认的最具发展前景的现场总线之一，其应用层协议有国外公司的CANopen和DeviceNet，由广州致远电子推出的现场总线iCAN协议以其简洁方便的特点受到广泛关注，尤其得到国内用户的积极相应。为了在高校的现场总线教学中推广具有我们国家自主知识产权的现场总线应用，需要为学生提供一套功能完善、综合性强的基于iCAN协议现场总线技术的实验室教学系统。本课题正是针对这一问题而构建基于现场总线iCAN协议的综合测试系统，力求使学生通过该系统的学习掌握现场总线iCAN协议相关知识，为将来快速进入相关工作岗位打下基础。 本文首先介绍基于现场总线iCAN协议综合测试系统的研究背景、目的及其意义，详细介绍了现场总线技术和CAN总线的相关知识，对iCAN协议进行了详细的介绍和分析。所设计的基于现场总线iCAN协议的综合测试系统由基本系统和扩展系统两部分构成。基本测试系统设计面向基本的标准实验设备，利用广州致远的iCAN系列功能模块构成；扩展系统设计面向测试系统的综合性设计，实现iCAN网络与其它控制网络如PLC网络的互连，并通过CANET-100转换器实现iCAN总线与上位PC机的通信。测试系统的上位监控界面设计采用工业组态软件MCGS完成，MCGS与总线的数据交互采用OPC方式实现。通过OPC实现iCAN网络与MCGS间的数据传输。在完成基于现场总线iCAN协议综合测试系统的基础上，本文还进一步讨论了如何采用基于DSPTMS320LF2407A主控芯片设计iCAN综合数据采集卡，叙述了其整体设计思想， 给出了具体的硬件和软件设计以及如何实现对iCAN协议的解析。本文的最后通过设计三个实际的实验例子，进一步展示了系统的构成和功能。 综上所述，该测试系统由基本测试系统和综合测试系统构成，并提供iCAN综合数据采集卡的设计方法和三个实验例程，可为学生提供分层学习、综合学习以及设计开发平台，实践证明该系统具有良好的新颖性和实用性。本课题研究的测试系统模式同样适用于其它工业现场总线测试系统。 关键词：CAN总线，iCAN协议，DSP，PLC，组态软件
上传时间： 2013-04-24
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光伏阵列是光伏系统的重要组成部分，它决定了光伏系统的发电量，同时也是光伏系统成本的主要部分。因此合理配置光伏阵列，提高光伏阵列的利用效率一直是光伏系统设计的研究重点，也是降低光伏系统发电成本的重要措施。本文采用了可变电子负载现场测试方法，设计并研制出基于Philips公司的LPC2214的光伏阵列测试仪样机。本文主要工作及创新在于： 1.在基于LPC2214测试控制部分的硬件电路设计中，为电压和电流的采样各设置了四路不同量程的采样通道。采样时系统自动选择最合适的量程，提高电压和电流大范围测量时的精度； 2.通过对系统进行一次预采样来确定光伏阵列的开路电压和短路电流。预采样的方法只需要使可变电子负载完成一次由阻值为零到阻值为无穷大的操作； 3.对测试得到的数据首先将电压值进行从小到大的升序重组，其对应的电流值采用lagrange中值法对进行数字滤波处理，从而消除由于偶然出现的脉冲性干扰所引起的采样值偏差； 4.对辅助电源、测试控制电路和液晶显示进行了一体化的设计，使光伏阵列特性的测量和显示可以在本测试仪上一次完成； 5.本测试仪样机可以利用光伏阵列的数学模型以及测量的实时数据对光伏阵列的特性曲线进行预估和分析。 通过对光伏阵列进行实际测量，得到的实验结果表明：该样机测试系统运行稳定、携带方便、测量精度较高、一次完整的测试只需14ms左右，测试速度快，并且测量得到的伏安特性可以在液晶上直接以曲线的形式显示，使测得的阵列特性更为直观，能满足工程应用的需要。
上传时间： 2013-04-24
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电子功能模件是机电产品的基本组成部分，其水平高低直接决定整个机电产品的工作质量。当前PCB自动测试系统大多为欧美产品，价格相当昂贵，远远超出我国中小电子企业的承受能力。为了提高我国中小企业电子设备的竞争力，本课题研发了适合于我国中小企业、价格低廉、使用方便的PCB路内测试系统。 本文首先详细介绍了PCB各种检测技术的原理和特点，然后根据本课题面向的用户群和他们对PCB测试的需求，组建PCB内测试系统。本系统基于虚拟仪器设计思想，以PCB上模拟电子器件、组合逻辑电路及由其构成的功能模块等为被测对象，包括路内测试仪、逻辑分析单元、信号发生器、高速数据采集器、多路通道扫描器及针床。其中：路内测试仪对不同被测对象选择不同测试方法，采用电位隔离法实现了被测对象与PCB上其他元器件的隔离，并采用自适应测试方法提高测试结果的准确度。逻辑分析单元主要采用反向驱动技术测试常见的组合逻辑电路。信号发生器能同时产生两路正弦波、方波、斜波、三角波等常用波形。数据采集器能同时采集四路信号，以USB接口与主机通讯。多路通道扫描器采用小型继电器阵列来实现，可扩展性好。针床采用新型夹具，既保证接触性能，又不至破坏触点。 实践表明，本系统能对常用电子功能模件进行自动测试，基本达到了预期目标。
上传时间： 2013-06-06
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高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。 本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法，并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。 通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统，完成音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent 33220A任意信号发生器提供模拟激励信号，共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道，并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块，并行地实现了ADC参数的评估算法。 在样本数分别为128和4096的实验条件下，对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估，被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明，通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块，可并行地实现对2个相同ADC的参数评估，减小单个ADC的平均测试时间。 FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制，就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估，配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现，具有可行性，但由于噪声的影响，测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。 关键词：ADC测试；并行；参数评估；FPGA；FFT
上传时间： 2013-07-11
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FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前广泛使用的一种可编程器件，FPGA的出现使得ASIC(Application Specific Integrated Circuits)产品的上市周期大大缩短，并且节省了大量的开发成本。目前FPGA的功能越来越强大，满足了目前集成电路发展的新需求，但是其结构同益复杂，规模也越来越大，内部资源的种类也R益丰富，但同时也给测试带来了困难，FPGA的发展对测试的要求越来越高，对FPGA测试的研究也就显得异常重要。 本文的主要工作是提出一种开关盒布线资源的可测性设计，通过在FPGA内部加入一条移位寄存器链对开关盒进行配置编程，使得开关盒布线资源测试时间和测试成本减少了99％以上，而且所增加的芯片面积仅仅在5％左右，增加的逻辑资源对FPGA芯片的使用不会造成任何影响，这种方案采用了小规模电路进行了验证，取得了很好的结果，是一种可行的测试方案。 本文的另一工作是采用一种FPGA逻辑资源的测试算法对自主研发的FPGA芯片FDP250K的逻辑资源进行了严格、充分的测试，从FPGA最小的逻辑单元LC开始，首先得到一个LC的测试配置，再结合SLICE内部两个LC的连接关系得到一个SLICE逻辑单元的4种测试配置，并且采用阵列化的测试方案，同时测试芯片内部所有的逻辑单元，使得FPGA内部的逻辑资源得完全充分的测试，测试的故障覆盖率可达100％，测试配置由配套编程工具产生，测试取得了完满的结果。
上传时间： 2013-06-11
上传用户：唐僧他不信佛
交流电源供电方式正在由集中式向分布式、全功能式发展，而实现分布式电源的核心就是模块的并联技术。多台逆变器并联可以实现大容量供电和冗余供电，可大大提高系统的灵活性，使电源系统的体积重量大为降低，同时其主开关器件的电流应力也可大大减少，从根本上提高了可靠性、降低成本和提高功率密度。本文主要研究逆变器并联技术。 本文首先对电压、电流双闭环逆变器控制系统进行了研究。通过对传递函数的分析，得到了基于等效输出阻抗的双闭环控制的逆变器并联系统模型。在分析逆变器模型的基础上设计了各控制器参数，并通过MATLAB仿真进行了验证。根据上述模型，分析了逆变器并联的环流特性，以及基于有功和无功功率的并联控制方案。 随着电子技术的不断发展，FPGA技术正在越来越多地用于工程实践中。本文在研究SPWM控制技术的基础上，应用FPGA芯片EP1C12Q240C8实现了SPWM数字控制器，用于多模块逆变器并联控制系统。文中给出了仿真结果和芯片的测试结果。 基于FPGA的三相逆变器并联数字控制器的研究具有现实意义，设计具有创新性。仿真和芯片的初步测试结果表明：本文设计的基于FPGA的逆变器并联数字控制器能够满足逆变器并联系统的要求。
上传时间： 2013-08-05
上传用户：huangzr5
随着FPGA(FieldProgrammableGateArray)器件的应用越来越广泛且重要，FPGA的测试技术也得到了广泛重视和研究。基于FPGA可编程的特性，应用独立的测试(工厂测试)需要设计数个测试编程和测试向量来完成FPGA的测试，确保芯片在任何用户可能的编程下都可靠工作。 本论文正是针对上述问题，以XilinxXC4000E系列FPGA为主要的研究对象，在详细研究FPGA内部结构的基础上，基于“分治法”的基本思路对FPGA的测试理论和方法做了探索性研究。 研究完成了对可编程逻辑模块(ConfigrableLogicBlock)及其子模块的测试。主要基于“分治法”对CLB及其子模块进位逻辑(CLM)、查找表(LUT)的RAM工作模式等进行了测试划分，分别实现了以“一维阵列”为基础的测试配置和测试向量，以较少了测试编程次数完成了所有CLB资源的测试。 研究完成了对互连资源(ConfigrableInterconnectResource)的测试。基于普通数据总线的测试方法，针对互连资源主要由线段和NMOS开关管组成的特点及其自身的故障模型，通过手工连线实现测试配置，仅通过4次编程就实现了对其完全测试。 在测试理论研究的基础上，我们开发了能对FPGA器件进行实际测试的测试平台。基于硬件仿真器的测试平台通过高速光纤连接工作站上的EDA仿真软件，把软件语言描述的测试波形通过硬件仿真器转化为真实测试激励，测试响应再读回到仿真软件进行观察，能够灵活、快速的完成FPGA器件的配置和测试。该平台在国内首次实现了软硬件协同在线测试FPGA。在该平台支持下，我们成功完成了对各军、民用型号FPGA的测试任务。 本研究成果为国内自主研发FPGA器件提供了有力保障，具有重大科研与实践价值，成功解决了国外公司在FPGA测试技术上的垄断问题，帮助国产FPGA器件实现完全国产化。
上传时间： 2013-05-17
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本文提出一种基于PC104嵌入式工业控制计算机与现场可编程门阵列(FPGA)的PCB测试机的硬件控制系统设计方案。方案中设计高效高压控制电路，实现测试电压与测试电流的精确数字控制。选用双高压电子开关形式代替高压模拟电子开关，大幅度提高测试电压。采用多电源方式在低控制电压下实现对高压电子开关的控制。设计高速信号处理电路对测试信号进行处理，从硬件上提高系统测试速度。 本设计中选用Altera公司的现场可编程器(FPGA)EP1K50，利用EDA设计工具Synplify、Modelsim、QuartusⅡ以及Verilog硬件描述语言完成了控制系统的硬件设计及调试，解决了由常规电路难以实现的问题。
上传时间： 2013-06-04
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论文首先介绍了SRAM型FPGA的典型代表XC4000系列的结构和主要特性，并对XC4000系列器件的配置模式和配置顺序做了简单介绍。根据XC4000系列器件各组成模块的功能和特点，可以将其分为可编程逻辑功能块(CLB)、输入输出功能块(IOB)、互连资源(IR)、可配置接口模块(CIM)和进位逻辑(CLM)等五大部分组成。 对于这五个功能模块，可以采用“分治法”分别考虑各个模块的测试问题。论文随后深入讨论了各模块的测试问题，由于RAM测试的特殊性，所以对函数发生器RAM模式的测试单独进行了讨论。
上传时间： 2013-06-29
上传用户：牛津鞋
