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并行测试

  • 基于FPGA的ADC并行测试方法研究.rar

    高性能ADC产品的出现,给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化,减少了单个ADC的平均测试时间,从而降低ADC测试成本。 本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上,总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法,并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。 通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统,完成音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent 33220A任意信号发生器提供模拟激励信号,共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道,并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块,并行地实现了ADC参数的评估算法。 在样本数分别为128和4096的实验条件下,对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估,被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明,通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块,可并行地实现对2个相同ADC的参数评估,减小单个ADC的平均测试时间。 FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制,就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估,配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现,具有可行性,但由于噪声的影响,测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。 关键词:ADC测试;并行;参数评估;FPGA;FFT

    标签: FPGA ADC 并行测试

    上传时间: 2013-07-11

    上传用户:tdyoung

  • 基于FPGA的ADC并行测试方法研究

    高性能ADC产品的出现,给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化,减少了单个ADC的平均测试时间,从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上,总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法,并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。    本研究通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统,完成了音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent33220A任意信号发生器提供模拟激励信号,共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道,并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块,并行地实现了ADC参数的评估算法。在样本数分别为128和4096的实验条件下,对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估,被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明,通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块,可并行地实现对2个相同ADC的参数评估,减小单个ADC的平均测试时间。FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制,就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估,配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现,具有可行性,但由于噪声的影响,测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。

    标签: FPGA ADC 并行测试 方法研究

    上传时间: 2013-06-07

    上传用户:gps6888

  • usb的测试源码 PDIUSBD12 是一款性价比很高的USB 器件它通常用作微控制器系统中实现与微控制器进行通信的 高速通用并行接口它还支持本地的DMA 传输 这种实现USB 接口的标准组件使得设计

    usb的测试源码 PDIUSBD12 是一款性价比很高的USB 器件它通常用作微控制器系统中实现与微控制器进行通信的 高速通用并行接口它还支持本地的DMA 传输 这种实现USB 接口的标准组件使得设计者可以在各种不同类型微控制器中选择出最合适的微控制器 这种灵活性减小了开发的时间风险以及费用通过使用已有的结构和减少固件上的投资从而用最快捷 的方法实现最经济的USB 外设的解决方案

    标签: USB PDIUSBD usb DMA

    上传时间: 2015-03-25

    上传用户:曹云鹏

  • 32位并行乘法器的测试文件

    32位并行乘法器的测试文件,已经经过验证,可以直接使用

    标签: 并行 乘法器 测试

    上传时间: 2014-01-10

    上传用户:qilin

  • 1、PVM&XPVM并行环境的配置与测试。 2、mandelbrot程序的并行化实现

    1、PVM&XPVM并行环境的配置与测试。 2、mandelbrot程序的并行化实现,并计算时间及加速比

    标签: mandelbrot XPVM PVM 并行环境

    上传时间: 2016-05-05

    上传用户:as275944189

  • 8*8乘法器及其测试:采用booth编码的乘法器:1. ultipler_quick_add_4 即4位的并行全加器

    8*8乘法器及其测试:采用booth编码的乘法器:1. ultipler_quick_add_4 即4位的并行全加器,在这里主要起了两个作用:第一个是在求部分积单元时,当编码为3x时用来输出部分积;另外一个是在将部分积加起来时,求3到6位时所用到。 2. ultiplier_quick_add_5 即5位的并行全加器,这里用来分别计算积的7到11位和12到16位。 3. ultiplier_unit_4 这个模块是用来实现部分积的,每一个模块实现一个部分积的4位,因此一个部分积需要4个这个模块来实现。总共需要12个这样的模块。 4.Multiplier_full_add 这是一位的全加器,在实现部分积相加的时候,通过全加器的阵列来实现的。

    标签: ultipler_quick_add booth 乘法器 测试

    上传时间: 2016-07-12

    上传用户:zhaiye

  • 用于并行计算模式串匹配可以根据每个源程序代码附加的测试结果加深理解

    用于并行计算模式串匹配可以根据每个源程序代码附加的测试结果加深理解

    标签: 并行计算 串匹配 代码 模式

    上传时间: 2014-11-26

    上传用户:1427796291

  • 编程测试并行平台MPI层的带宽和延迟: 单向通信时间简单表示为:t=Latency+Message_Size/Bandwidth 利用该方程得到系统的带宽和延迟

    编程测试并行平台MPI层的带宽和延迟: 单向通信时间简单表示为:t=Latency+Message_Size/Bandwidth 利用该方程得到系统的带宽和延迟

    标签: Message_Size Bandwidth Latency MPI

    上传时间: 2014-01-14

    上传用户:jackgao

  • 该源码使用MPI并行语言实现Cannon数值算法,在Linux下测试实现.需要配置多节点分布环境

    该源码使用MPI并行语言实现Cannon数值算法,在Linux下测试实现.需要配置多节点分布环境

    标签: Cannon Linux MPI 源码

    上传时间: 2013-12-16

    上传用户:开怀常笑

  • ST7920芯片的并行接口显示程序.下载进51就可以测试12864

    ST7920芯片的并行接口显示程序.下载进51就可以测试12864

    标签: 12864 7920 ST 芯片

    上传时间: 2017-05-07

    上传用户:阳光少年2016