随着现代通信与信号处理技术的不断发展，对于高速高精度AD转换器的需求越来越大。但是，随着集成电路工艺中电路特征线宽的不断减小，在传统单通道ADC框架下同时实现高速、高精度的数模转换愈加困难。此时，时分交替ADC 作为...
上传时间： 2013-07-08
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高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法，并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。 本研究通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统，完成了音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent33220A任意信号发生器提供模拟激励信号，共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道，并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块，并行地实现了ADC参数的评估算法。在样本数分别为128和4096的实验条件下，对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估，被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明，通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块，可并行地实现对2个相同ADC的参数评估，减小单个ADC的平均测试时间。FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制，就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估，配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现，具有可行性，但由于噪声的影响，测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。
上传时间： 2013-06-07
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LM3S系列ADC例程：多种采样触发方式
上传时间： 2013-05-29
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LM3S系列ADC例程：内置的温度传感器
上传时间： 2013-04-24
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基于STM32F103移植最新固件库3.5.0，包括常用外设如DAC,ADC,SPI,I2C,DMA,FSMC,TFT等，有详细的中文注释，在STM32F103ZET上调试通过，是完整的工程项目，可以完全移植到自己的项目上。
上传时间： 2013-05-31
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freescale k40/k60 adc 例程
上传时间： 2013-06-30
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freescale k40/k60 cortex m4 12bit dac 例程
上传时间： 2013-05-23
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freescale k40/k60 cortex m4 pdb-adc 例程
上传时间： 2013-04-24
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STM32F4-Discovery ADC-Interleaved_DMAmode2 keil&iar例程
标签： ADC-Interleaved_DMAmode Discovery STM 32
上传时间： 2013-04-24
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DSP的ADC原理，对软硬件AD采样精度有帮助
上传时间： 2013-06-18
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