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Test-Bus_Controller

  • FET430PIF自制资料

    The MSP-FET430PIF is a Parallel Port interface (does not include target board) that is used to program and debug MSP430 FET tools and test boards through the JTAG interface. This interface is included in our FET tools, but sold without the development board. This interface uses a Parallel PC Port to communicate to the Debugger Software (IAR Kickstart software included) running on the PC. The interface uses the standard 14 pin header to communicate to the MSP430 device using the standard JTAG protocol. The flash memory can be erased and programmed in seconds with only a few keystrokes, and since the MSP430 flash is extremely low power, no external power supply is required. The tool has an integrated software environment and connects directly to the PC which greatly simplifies the set-up and use of the tool. The flash development tool supports development with all MSP430 flash parts. Features MSP430 debugging interface to connect a MSP430-Flash-device to a Parallel port on a PC Supports JTAG debug protocol (NO support for Spy-Bi-Wire (2-wire JTAG) debug protocol, Spy-Bi-Wire (2-wire JTAG) is supported by MSP-FET430UIF) Parallel Port cable and a 14-conductor target cable Full documentation on CD ROM Integrated IAR Kickstart user interface which includes: Assembler Linker Limulator Source-level debugger Limited C-compiler Technical specifications: Backwardly compatable with existing FET tool boards.

    标签: FET 430 PIF

    上传时间: 2013-10-26

    上传用户:fengweihao158@163.com

  • 常用三星单片机烧写电压设置参考表

    常用三星单片机烧写电压设置参考表 烧写电压说明:Vdd 电压指烧写时加载到芯片Vdd 端子的逻辑电压,Vpp 电压指烧写时加载到芯片Vpp(Test)端子的编程电压, Vpp=12V 是编程器的默认烧写电压,无须特别设置. 由于编程器的默认输出Vpp 电压均为12V,因此在烧写Vpp=3.3V/5.0V 的芯片时,需要对烧写转换适配器作以下改动:将烧写器烧写座引出的Vpp 端子完全空置不用, 并在适配器上将Vdd端子直接连接Vpp 端即可.当用户采用在PCB板上烧写方式时,建议最好能在PCB芯片端的Vpp脚并接一个104 的电容入地,可有效保护在烧写电压加载时板子电路共同作用产生的瞬间过压脉冲不会输入到Vpp 脚而造成Vpp 击穿.S3F84K4 烧写特别说明,由于三星半导体DATA SHEET 要求在对该芯片进行烧写时,须在Vpp 脚加接一个101 的电容到地,因此在使用我站各款烧写器烧写84K4 时,须将烧写器主板上的Vpp 端原来并接的10uf/50V-电解电容和104 电容去掉,另行并接一个101 电容入地即可.不过,据本人特别测试结果,其实不做以上处理对烧写过程没有任何影响, 估计可能是三星半导体对芯片有做过改版,老版本的84K4 才会有以上特别要求,新版本是没有这个要求的.

    标签: 三星 单片机 烧写 电压设置

    上传时间: 2013-10-10

    上传用户:wcl168881111111

  • Nios 的用户定义接口逻辑实例

    Nios 的用户定义接口逻辑实例 有许多人问我使用 Nios 的用户定义接口逻辑怎么用,想了几天决定设计一个实例来说明。该例为一个使用 user to interface logic 设计的 PWM 实例,其中包括三个文件:    plus32.v 是一个为 32bit nios 设计的 pwm 实例。    plus16.v 是一个为 16bit nios 设计的 pwm 实例。    test.s   是一个使用中断调用 pwm 的汇编语言测试程序。以上模块和程序均调试通过,并可稳定工作。这里让大家参考是使大家通过该例来真正理解 user to interface logic 设计方法,和nios 中通过汇编调用中断的方法,所以超值喔。另外热烈欢迎大家的指导。 注:在设计 Nios 时,将你调用的 user to interface logic 插件重命名为 plus_0,这样我的 test.s 可不作任何改动,你就可用示波器通过 nios 的 plus 管脚观察到一个要求的输出。

    标签: Nios 用户 定义 接口

    上传时间: 2013-11-15

    上传用户:cc1915

  • Designing Boards with Atmel AT

    Designing Boards with Atmel AT89C51, AT89C52, AT89C1051, and AT89C2051 for Writing Flash at In-Circuit Test:Recent improvements in chips andtesters have made it possible for thetester to begin taking over the role traditionallyassigned to the PROM programmer.Instead of having a PROM programmerwrite nonvolatile memoriesbefore assembling the board, the in-circuittester writes them during in-circuittesting operations. Many Teradyne Z18-series testers are now in use loadingcode into nonvolatile memories, microcontrollersand in-circuit programmable logic devices. The purpose of this note is to explain how the Z18 approaches the writing task for Atmel AT89C series IC’s,so that designers of boards using these chips can get the best results.

    标签: Designing Boards Atmel with

    上传时间: 2013-11-20

    上传用户:lijianyu172

  • SPCE061A指令系统

    SPCE061A采用的内核           SPCE061A采用的内核(CPU)为μ‘nSP。          μ‘nSP(读做micro-n-S-P)是凌阳科技推出的16位微处理器,它的突出特点是较高的处理速度,这就使其有能力进行复杂的数字信号处理(DSP,Digital Signal Processing)。 μ‘nSP内核由凌阳自主开发,因而也具备它自己的指令系统。 指令系统.61 3.1 指令系统的概述及符号约定.61 3.2 数据传送指令62 3.3 算术运算..66 3.3.1 加法运算..67 3.3.2 减法运算..68 3.3.3 带进位的加减运算.70 3.3.4 取补运算..70 3.3.5 SPCE061A的乘法指令.71 3.3.6 SPCE061A的n项内积运算指令.71 3.3.7 比较运算(影响标志位N,Z,S,C)..73 3.4 SPCE061A的逻辑运算.74 3.4.1 逻辑与..74 3.4.2 逻辑或..75 3.4.3 逻辑异或..76 3.4.4 测试(TEST).78 3.4.5 SPCE061A的移位操作.80 3.5 SPCE061A的控制转移类指令..83 3.6 伪指令86 3.6.1 伪指令的语法格式及特点..87 3.6.2 伪指令符号约定..87 3.6.3 标准伪指令.87 3.6.4 宏定义与调用98 3.6.5 段的定义与调用101 3.6.6 结构的定义与调用..102 3.6.7 过程的定义与调用..106 3.6.8 伪指令的应用举例..106

    标签: SPCE 061A 061 指令系统

    上传时间: 2013-10-31

    上传用户:xuanchangri

  • 基于单片机控制的二氧化碳浓度测试计

    基于单片机控制的二氧化碳浓度测试计:基于CDM4161二氧化碳气体浓度测试模块以及ATtiny26单片机,提出了一种二氧化碳浓度测试计的设计方案。该方案具有硬件电路简单、成本低、可靠性高、测量准确等优点,具有较高的实用价值。 Abstract: Abstract:A desigh scheme of CO2 concentration meter based on CDM4161carbon dioxide concentration test module and ATtiny26micro-controller is presented in this paper.The design scheme features simple hardware circuit,low-cost,high reli-ability,accurate measurement and it has a high practical value.

    标签: 单片机控制 二氧化碳 测试

    上传时间: 2013-11-14

    上传用户:zjwangyichao

  • Emulating a synchronous serial

    The C500 microcontroller family usually provides only one on-chip synchronous serialchannel (SSC). If a second SSC is required, an emulation of the missing interface mayhelp to avoid an external hardware solution with additional electronic components.The solution presented in this paper and in the attached source files emulates the mostimportant SSC functions by using optimized SW routines with a performance up to 25KBaud in Slave Mode with half duplex transmission and an overhead less than 60% atSAB C513 with 12 MHz. Due to the implementation in C this performance is not the limitof the chip. A pure implementation in assembler will result in a strong reduction of theCPU load and therefore increase the maximum speed of the interface. In addition,microcontrollers like the SAB C505 will speed up the interface by a factor of two becauseof an optimized architecture compared with the SAB C513.Moreover, this solution lays stress on using as few on-chip hardware resources aspossible. A more excessive consumption of those resources will result in a highermaximum speed of the emulated interface.Due to the restricted performance of an 8 bit microcontroller a pin compatible solution isprovided only; the internal register based programming interface is replaced by a set ofsubroutine calls.The attached source files also contain a test shell, which demonstrates how to exchangeinformation between an on-chip HW-SSC and the emulated SW-SSC via 5 external wiresin different operation modes. It is based on the SAB C513 (Siemens 8 bit microcontroller).A table with load measurements is presented to give an indication for the fraction of CPUperformance required by software for emulating the SSC.

    标签: synchronous Emulating serial

    上传时间: 2014-01-31

    上传用户:z1191176801

  • 使用软件程序仿真C500微控制器系列SSC(同步串行通道)功

    The solution presented in this paper and in the attached source files emulates the mostimportant SSC functions by using SW routines implemented in C. The code is focused onthe SAB C513, but will fit to all C500 derivatives.Beyond the low level software drivers a test shell is delivered. This shell allows a quicktest of the software drivers by an emulator or a starter kit demo board.

    标签: C500 SSC 软件 程序

    上传时间: 2013-11-24

    上传用户:363186

  • PCB可测性设计布线规则之建议―从源头改善可测率

    P C B 可测性设计布线规则之建议― ― 从源头改善可测率PCB 设计除需考虑功能性与安全性等要求外,亦需考虑可生产与可测试。这里提供可测性设计建议供设计布线工程师参考。1. 每一个铜箔电路支点,至少需要一个可测试点。如无对应的测试点,将可导致与之相关的开短路不可检出,并且与之相连的零件会因无测试点而不可测。2. 双面治具会增加制作成本,且上针板的测试针定位准确度差。所以Layout 时应通过Via Hole 尽可能将测试点放置于同一面。这样就只要做单面治具即可。3. 测试选点优先级:A.测垫(Test Pad) B.通孔(Through Hole) C.零件脚(Component Lead) D.贯穿孔(Via Hole)(未Mask)。而对于零件脚,应以AI 零件脚及其它较细较短脚为优先,较粗或较长的引脚接触性误判多。4. PCB 厚度至少要62mil(1.35mm),厚度少于此值之PCB 容易板弯变形,影响测点精准度,制作治具需特殊处理。5. 避免将测点置于SMT 之PAD 上,因SMT 零件会偏移,故不可靠,且易伤及零件。6. 避免使用过长零件脚(>170mil(4.3mm))或过大的孔(直径>1.5mm)为测点。7. 对于电池(Battery)最好预留Jumper,在ICT 测试时能有效隔离电池的影响。8. 定位孔要求:(a) 定位孔(Tooling Hole)直径最好为125mil(3.175mm)及其以上。(b) 每一片PCB 须有2 个定位孔和一个防呆孔(也可说成定位孔,用以预防将PCB反放而导致机器压破板),且孔内不能沾锡。(c) 选择以对角线,距离最远之2 孔为定位孔。(d) 各定位孔(含防呆孔)不应设计成中心对称,即PCB 旋转180 度角后仍能放入PCB,这样,作业员易于反放而致机器压破板)9. 测试点要求:(e) 两测点或测点与预钻孔之中心距不得小于50mil(1.27mm),否则有一测点无法植针。以大于100mil(2.54mm)为佳,其次是75mil(1.905mm)。(f) 测点应离其附近零件(位于同一面者)至少100mil,如为高于3mm 零件,则应至少间距120mil,方便治具制作。(g) 测点应平均分布于PCB 表面,避免局部密度过高,影响治具测试时测试针压力平衡。(h) 测点直径最好能不小于35mil(0.9mm),如在上针板,则最好不小于40mil(1.00mm),圆形、正方形均可。小于0.030”(30mil)之测点需额外加工,以导正目标。(i) 测点的Pad 及Via 不应有防焊漆(Solder Mask)。(j) 测点应离板边或折边至少100mil。(k) 锡点被实践证实是最好的测试探针接触点。因为锡的氧化物较轻且容易刺穿。以锡点作测试点,因接触不良导致误判的机会极少且可延长探针使用寿命。锡点尤其以PCB 光板制作时的喷锡点最佳。PCB 裸铜测点,高温后已氧化,且其硬度高,所以探针接触电阻变化而致测试误判率很高。如果裸铜测点在SMT 时加上锡膏再经回流焊固化为锡点,虽可大幅改善,但因助焊剂或吃锡不完全的缘故,仍会出现较多的接触误判。

    标签: PCB 可测性设计 布线规则

    上传时间: 2014-01-14

    上传用户:cylnpy

  • keil uvision2使用教程

    Keil uVision2是目前使用广泛的单片机开发软件,它集成了源程序编辑和程序调试于一体,支持汇编、C、PL/M语言。  这里我们仅仅介绍 Keil uVision2 的简单使用,更详细的使用方法见本光盘\单片机软件\Keil c51\Keil书籍与资料目录中的内容。     keil C51 v6.12 的安装:  先运行光盘中 单片机软件\setup\setup.exe 安装程序,选择安装“Eval Version”版进行安装。一直点击“Yes”或“Next”,直到“Finish”完成。  之后运行同目录中的 Keil uv2 汉化安装.exe 安装汉化程序。 keil C51 v6.12 的使用:  点击桌面快捷图标,可以直接进入主画面:现在,我们来做个实际程序,请跟着我一步一步学着做,实际体验一下从编辑源程序到程序调试的全过程。  这里让我们做一个 让单片机 P0 口所驱动的 LED 灯隔一个亮隔一个灭 的程序。  在Keil系统中,每做个独立的程序,都视为工程(或者叫项目)。首先从菜但的“工程”中“新建工程...”,建立我们将要做的工程项目:新建的工程要起个与工程项目意义一致的名字,可以是中文名;我们这里的程序是实验测试程序,所以起的名字为 Test ,并将 Test 工程“保存”到 C:\Keil 下:接下来,Keil环境要求我们为 Test 工程选择一个单片机型号;我们选择 Atmel 公司的 89C51(虽然我们使用的是89S51,但由于89S51与89C51内、外部结构完全一样,所以这里依然选择“89C51”)。“确定”后工程项目就算建立了。

    标签: uvision2 keil 使用教程

    上传时间: 2013-10-12

    上传用户:zzzzzz