如何发现并解决FPGA设计中的时序问题OFFSET约束
上传时间： 2017-07-05
上传用户：huyiming139
高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。 本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法，并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。 通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统，完成音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent 33220A任意信号发生器提供模拟激励信号，共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道，并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块，并行地实现了ADC参数的评估算法。 在样本数分别为128和4096的实验条件下，对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估，被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明，通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块，可并行地实现对2个相同ADC的参数评估，减小单个ADC的平均测试时间。 FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制，就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估，配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现，具有可行性，但由于噪声的影响，测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。 关键词：ADC测试；并行；参数评估；FPGA；FFT
上传时间： 2013-07-11
上传用户：tdyoung
偏移正交相移键控(OQPSK：OFFSET Quadrature Phase Shift Keying)调制技术是一种恒包络调制技术，具有频谱利用率高、频谱特性好等特点，广泛应用于卫星通信和移动通信领域。 论文以某型侦收设备中OQPSK解调器的全数字化为研究背景，设计并实现了基于FPGA的全数字OQPSK调制解调器，其中调制器主要用于仿真未知信号，作为测试信号源。论文研究了全数字OQPSK调制解调的基本算法，包括成形滤波器、NCO模型、载波恢复、定时恢复等；完成了整个调制解调算法的MATLAB仿真。在此基础上，采用VHDL硬件描述语言在Xilinx公司ISE7.1开发环境下设计并实现了各个算法模块，并在硬件平台上加以实现。通过实际现场测试，实现了对所侦收信号的正确解调。论文还实现了解调器的百兆以太网接口，使得系统可以方便地将解调数据发送给计算机进行后续处理。
上传时间： 2013-06-30
上传用户：Miyuki
偏移正交相移键控(OQPSK：OFFSET Quadrature Phase Shift Keying)调制技术是一种恒包络调制技术，具有频谱利用率高、频谱特性好等特点，广泛应用于卫星通信和移动通信领域。 论文以某型侦收设备中OQPSK解调器的全数字化为研究背景，设计并实现了基于FPGA的全数字OQPSK调制解调器，其中调制器主要用于仿真未知信号，作为测试信号源。论文研究了全数字OQPSK调制解调的基本算法，包括成形滤波器、NCO模型、载波恢复、定时恢复等；完成了整个调制解调算法的MATLAB仿真。在此基础上，采用VHDL硬件描述语言在Xilinx公司ISE7.1开发环境下设计并实现了各个算法模块，并在硬件平台上加以实现。通过实际现场测试，实现了对所侦收信号的正确解调。论文还实现了解调器的百兆以太网接口，使得系统可以方便地将解调数据发送给计算机进行后续处理。
上传时间： 2013-05-19
上传用户：zl123！@#
随着各种通信系统数量的日益增多，为了充分地利用有限的频谱资源，高频谱利用率的调制技术不断被应用。偏移正交相移键控(OQPSK: OFFSET QuadraturePhase Shift Keying)是一种恒包络调制技术，具有较高的频谱利用率和功率利用率，广泛应用于卫星通信系统和地面移动通信系统。因此，对于OQPSK全数字解调技术的研究具有一定的理论价值。 本文以软件无线电和全数字解调的相关理论为指导，成功设计并实现了基于FPGA的OQPSK全数字解调。论文介绍了OQPSK全数字接收解调原理和基于软件无线电设计思想的全数字接收机的基本结构，详细阐述了当今OQPSK数字解调中载波频率同步、载波相位同步、时钟同步和数据帧同步的一些常用算法，并选择了相应算法构建了三种系统级的实现方案。通过MATLAB对解调方案的仿真和性能分析，确定了FPGA中的系统实现方案。在此基础上，本文采用VerilogHDL硬件描述语言在Altera公司的Quartus II开发平台上设计了同步解调系统中的各个模块，还对各模块和整个系统在ModelSim中进行了时序仿真验证，并对设计中出现的问题进行了修正。最后，经过FPGA调试工具嵌入式逻辑分析仪SignalTapⅡ的硬件实际测试，本文对系统方案进行了最终的改进与调整。 实际测试结果表明，本文的设计最终能够达到了预期的指标和要求。本课题设计经过时序和资源优化后还可以向ASIC和系统级SOC转化，以进一步缩小系统体积、降低成本和提高电路的可靠性，因此具有良好的实际应用价值。
上传时间： 2013-07-14
上传用户：aappkkee
高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法，并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。 本研究通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统，完成了音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent33220A任意信号发生器提供模拟激励信号，共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道，并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块，并行地实现了ADC参数的评估算法。在样本数分别为128和4096的实验条件下，对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估，被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明，通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块，可并行地实现对2个相同ADC的参数评估，减小单个ADC的平均测试时间。FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制，就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估，配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现，具有可行性，但由于噪声的影响，测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。
上传时间： 2013-06-07
上传用户：gps6888
Abstract: The DS4830 optical microcontroller's analog-to-digital converter (ADC) OFFSET can change with temperature and gainselection. However, the DS4830 allows users to measure the ADC internal OFFSET. The measured ADC OFFSET is added to the ADCOFFSET register to nullify the OFFSET error. This application note demonstrates the DS4830's ADC internal OFFSET calibration in theapplication program.
上传时间： 2014-12-23
上传用户：萍水相逢
Abstract: IC switches and multiplexers are proliferating, thanks to near-continual progress in lowering the supply voltage,incorporating fault-protected inputs, clamping the output voltage, and reducing the switch resistances. The latest of these advancesis the inclusion of precision resistors to allow two-point calibration of gain and OFFSET in precision data-acquisition systems.
上传时间： 2013-11-12
上传用户：acwme
Abstract: Transimpedance amplifiers (TIAs) are widely used to translate the current output of sensors like photodiode-to-voltagesignals, since several circuits and instruments can only accept voltage input. An operational amplifier with a feedback resistor fromoutput to the inverting input is the most straightforward implementation of such a TIA. However, even this simple TIA circuit requirescareful trade-offs among noise gain, OFFSET voltage, bandwidth, and stability. Clearly stability in a TIA is essential for good, reliableperformance. This application note explains the empirical calculations for assessing stability and then shows how to fine-tune theselection of the feedback phase-compensation capacitor.
标签： Transimpedance Stabilize Amplifier Your
上传时间： 2013-11-13
上传用户：daoyue
ANALOG INPUT BANDWIDTH is a measure of the frequencyat which the reconstructed output fundamental drops3 dB below its low frequency value for a full scale input. Thetest is performed with fIN equal to 100 kHz plus integer multiplesof fCLK. The input frequency at which the output is −3dB relative to the low frequency input signal is the full powerbandwidth.APERTURE JITTER is the variation in aperture delay fromsample to sample. Aperture jitter shows up as input noise.APERTURE DELAY See Sampling Delay.BOTTOM OFFSET is the difference between the input voltagethat just causes the output code to transition to the firstcode and the negative reference voltage. Bottom OFFSET isdefined as EOB = VZT–VRB, where VZT is the first code transitioninput voltage and VRB is the lower reference voltage.Note that this is different from the normal Zero Scale Error.CONVERSION LATENCY See PIPELINE DELAY.CONVERSION TIME is the time required for a completemeasurement by an analog-to-digital converter. Since theConversion Time does not include acquisition time, multiplexerset up time, or other elements of a complete conversioncycle, the conversion time may be less than theThroughput Time.DC COMMON-MODE ERROR is a specification which appliesto ADCs with differential inputs. It is the change in theoutput code that occurs when the analog voltages on the twoinputs are changed by an equal amount. It is usually expressed in LSBs.
上传时间： 2013-11-12
上传用户：pans0ul
