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this a test hello how are you

this a test hello how are you

标签： hello this test are

上传时间： 2016-06-05

上传用户：xfbs821
This article descrice how to use unnecessary I／O in the 51MCU to test the temperature, circuit is si

This article descrice how to use unnecessary I／O in the 51MCU to test the temperature, circuit is simple.

标签： temperature unnecessary the descrice

上传时间： 2016-06-11

上传用户：13517191407
linux unix test dd linux unix test

linux unix test dd linux unix test

标签： linux unix test dd

上传时间： 2014-01-21

上传用户：cxl274287265
S3C2410 FIQ, Priority Interrupt Test

S3C2410 FIQ, Priority Interrupt Test

标签： Interrupt Priority S3C2410 Test

上传时间： 2016-06-15

上传用户：myworkpost
External interrupt test

External interrupt test

标签： interrupt External test

上传时间： 2013-12-03

上传用户：luopoguixiong
S3C2410 Test Main Menu

S3C2410 Test Main Menu

标签： S3C2410 Main Menu Test

上传时间： 2016-06-15

上传用户：jennyzai
Design and test a category called Rectangle rectangular, rectangular attribute to the lower left cor

Design and test a category called Rectangle rectangular, rectangular attribute to the lower left corner of the upper-right corner and the coordinates of two points, to calculate the size of rectangular

标签： rectangular Rectangle attribute category

上传时间： 2013-12-09

上传用户：sssl
这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍

这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍，在此基础上，结合ARM7TDMI详细介绍了的JTAG调试原理。这篇文章主要是总结了前段时间的一些心得体会，希望对想了解ARM JTAG调试的网友们有所帮助。我个人对ARM JTAG的理解还不是很透彻，在文章中，难免会有偏失和不准确的地方，希望精通JTAG调试原理的大侠们不要拍砖，有什么问题提出来，我一定尽力纠正。同时也欢迎对ARM JTAG调试感兴趣的朋友们一起交流学习。

标签： BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE ACCESS JTAG

上传时间： 2016-06-22

上传用户：kikye
MY SQL 帮助文档

MY SQL 帮助文档，。。。。 MY SQL help document，

标签： SQL MY 文档

上传时间： 2016-06-24

上传用户：zhuyibin
蓝海微芯LJD-44B0XDVK开发板附带的TEST程序源代码.

蓝海微芯LJD-44B0XDVK开发板附带的TEST程序源代码.

标签： XDVK TEST LJD 44

上传时间： 2016-06-27

上传用户：pkkkkp