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ADC转换

  • AVR的ADC开发程序

    AVR的ADC开发程序,对于应用AVR单片机内部的AD进行转换具有一定的参考价值。

    标签: AVR ADC 程序

    上传时间: 2013-12-27

    上传用户:zycidjl

  • A/D转换实验报告

    编写实验程序,将ADC单元中提供的0V-5V信号源作为ADC0809的模拟输入量,进行A/D转换,转化结果通过变量进行显示

    标签: 转换实验 报告

    上传时间: 2016-04-25

    上传用户:山山山山

  • 60s2AD转换测试程序

    STC12C5A60S2AD转换测试程序,使用60S2内部的ADC

    标签: 2AD 60s 60 s2 AD 转换 测试程序

    上传时间: 2016-06-27

    上传用户:地下森林

  • 电子秤HX711AD模块设计软硬件技术资料包: ADC模块元件清单.pdf ADC模块原理图.pdf

    电子秤HX711AD模块设计软硬件技术资料包:ADC模块元件清单.pdfADC模块原理图.pdfhx711.pdfHX711参考驱动程序(C51).pdf专用型高精度24位AD转换器芯片HX711说明.doc电子秤HX711AD模块设计软硬件技术资料包.zip电子秤专业语音芯片说明资料.doc电子秤原理功能简介.doc称重传感器的原理及使用.pdf称重传感器的参数及使用方法.doc

    标签: 电子秤 hx711ad 软硬件 adc

    上传时间: 2021-11-03

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  • 扫描模式下的ADC 发生通道间串扰

    该问题由某客户提出,发生在STM32F103VDT6 器件上。据其工程师讲述:在其产品中,需要使用STM32 的 ADC 对多路模拟信号进行同步采样。在具体的实现上,采用了 ADC 常规通道的扫描模式来完成这一功能。然而,在调试中过程中发现一个奇怪的现象:当将各路模拟信号的电平设置成相同时,ADC 对各路模拟信号的转换结果相同,用 A 来表示。改变其中一路模拟信号的电平,并保持其各路模拟信号的电平不变,则 ADC 对该路信号的转换结果变为 B。然而,此时与其在扫描次序上相邻的下一路模拟信号的转换结果也发生

    标签: adc

    上传时间: 2022-02-21

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  • STM32多个ADC模块同时采样转换的应用示例

    本文重点介绍利用含有3个ADC模块的STM32F4、STM32F7等系列,以满足多个ADC模块同时工作的需要

    标签: stm32 adc模块

    上传时间: 2022-03-06

    上传用户:qingfengchizhu

  • 电流检测电路中运算放大器与ADC的设计

    电学中的测量技术涉及范围非常广,电流测量在电学计量中占有非常重要的位置。如何精确地进行电流测量是精密测量的一大难题。传统的电流检测电路多采用运算放大芯片与片外电流检测电路相结合的方式,电路集成度很低,需要较多的接口和资源才能完成对电路的检测。本文把所有电路部分都集成在一块芯片上,包括检测电阻,运算放大器电路及模拟转数字转换电路,从而在电路内部可以进行电流检测,使电路更好的集成化。前置电路使用二级共源共栅结构的运算放大器,减小沟道长度调制效应造成的电流误差。10位SAR ADC中采用电容驱动能力强的传输门保证了模数转化器的有效精度。比较器模块采用再生锁存器与迟滞比较器作为基础单元组合解决精密测量的问题。本设计可以作为嵌入芯片内的一小部分而检测芯片中的微小电流1mA~100mA,工作电压在1.8v左右,电流检测精度预期达到10uA的需求。The measurement technology in electricity involves a wide range,and current measurement plays a very important position in electrical measurement.How to accurately measure current is a big problem in precision measurement. The traditional current detecting circuit adopts the combination of the operational amplifier chip and theoff-chip current detecting circuit, The circuit integration is very low, and more interfaces and resources are needed tocomplete the circuit detection.This topic integrates all the circuit parts into one chip, including detection resistance, operational amplifier circuit andanalog to digital conversion circuit. Highly integrated circuit makes the external resources on the chip more intensive,so that current detection can be carried out inside the circuit, so that the circuit can be better integrated. Thefront-end circuit of this project uses two-stage cascade operational amplifier and cascade tube to reduce the currenterror caused by channel length modulation effect. In 10-bit SAR ADC, the transmission gate with strong capacitivedriving ability ensures the effective accuracy of the analog-to-digital converter. Comparator module uses regenerativelatch and hysteresis comparator as basic unit to solve the difficult problem of precision measurement. This topic can beused as a small part of the embedded chip to detect the micro-current in the chip 1 mA~100 mA, the working voltageis about 1.8v, and the current detection accuracy is expected to reach the requirement of 10 uA.

    标签: 电流检测 电路 运算放大器 adc

    上传时间: 2022-04-03

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  • 采用低功耗精密24位Σ-Δ型ADC的全集成式热电偶测量系统

    是一个集成的热电偶测量系统,基于AD7124-4/AD7124-8低功耗、低噪声、24位-型模数转换器(ADC),针对高精度测量应用而优化。使用该系统的热电偶测量在−50°C至+200°C的测量温度范围内具有±1°C的整体系统精度。系统的典型无噪声码分辨率约为15位。AD7124-4可配置为4个差分或7个伪差分输入通道,而AD7124-8可配置为8个差分或15个伪差分输入通道。片内低噪声可编程增益阵列(PGA)确保ADC中可直接输入小信号。

    标签: adc

    上传时间: 2022-05-25

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  • 24位ADC驱动代码

    ADS1256 是TI(Texas I nstruments )公司推出的一款低噪声高分辨率的24 位Si gma - Delta("- #)模数转换器(ADC)。"- #ADC 与传统的逐次逼近型和积分型ADC 相比有转换误差小而价格低廉的优点,但由于受带宽和有效采样率的限制,"- #ADC 不适用于高频数据采集的场合。该款ADS1256 可适合于采集最高频率只有几千赫兹的模拟数据的系统中,数据输出速率最高可为30K 采样点/秒(SPS),有完善的自校正和系统校正系统, SPI 串行数据传输接口。本文结合笔者自己的应用经验,对该ADC 的基本原理以及应用做简要介绍。ADs1256 的总体电气特性下面介绍在使用ADs1256 的过程中要注意的一些电气方面的具体参数:模拟电源(AVDD )输入范围+ 4 . 75V !+ 5 .25V,使用的典型值为+ 5 .00V;数字电源(DVDD )输入范围+ 1 . 8V !+ 3 .6V,使用的典型值+ 3 .3V;参考电压值(VREF= VREFP- VREFN)的范围+ 0 .5V!+ 2 .6V,使用的典型值为+ 2 .5V;耗散功率最大为57mW;每个模拟输入端(AI N0 !7 和AI NC M)相对于模拟地(AGND)的绝对电压值范围在输入缓冲器(BUFFER)关闭的时候为AGND-0 .1 !AVDD+ 0 . 1 ,在输入缓冲器打开的时候为AGND !AVDD-2 .0 ;满刻度差分模拟输入电压值(VI N = AI NP -AI NN)为+ /-(2VREF/PGA);数字输入逻辑高电平范围0 .8DVDD!5 .25V(除D0 !D3 的输入点平不可超过DVDD 外),逻辑低点平范围DGND!0 .2DVDD;数字输出逻辑高电平下限为0 .8DVDD,逻辑低电平上限为0 .2DVDD,输出电流典型值为5mA;主时钟频率由外部晶体振荡器提供给XTAL1和XTAL2 时,要求范围为2 M!10 MHz ,仅由CLKI N 输入提供时,范围为0 .1 M!10 MHz 。

    标签: ADC ADS1256

    上传时间: 2022-06-10

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  • 6位Flash型超高速ADC的设计

    作为模拟与数字电路的接口电路的关键部分,模数转换器(ADC)现代通信、需达、卢纳以及众多消费电子产品中都占据极其重要的地位。随着科技的迅猛发展,对模数转换器的性能,特别是速度上的要求越来越高,ADC的性能好坏甚至已经成为决定设备性能的关键因素。本文以超高速ADC作为设计的目标,采用了Flash型结构作为研究的方向,并且从ADC的速度和失调电压消除技术入手进行了重点研究。本文采用了种新颖的消除失调电压的技术-chopping技术,该技术主要是依靠 组随机数产生器所产生的高速随机数序列来随机快速置换比较器输入端,从而使得失调电压近似平均为零,本文设计了种高速随机数产生器,可以产生速率达到1GHz的随机数序列。由于比较器部分是影响整个ADC速度的关键因素,因此在设计中对于比较器部分逃行了重点优化设计。另外还在数字编码电路中加入了纠错设计。通过电路仿真,所设计的ADC可达到1GHz的采样速率,最大积分非线性和微分非线性分别为0.42LSB和0.49LSB,当输入信号频率为16.6MHz时,无杂波动态范围(SFDR)达到41dB,当加入50mV失调电压时,chopping技术可以将SFDR增加3dB左右。本设计采用了和舰0.18um CMOS混合信号工艺,完成了主要模块版图的设计工作。关键词 Flash型 ADC;失调电压消除技术:chopping技术

    标签: flash adc

    上传时间: 2022-06-19

    上传用户:d1997wayne