ADC模数转换器件Altium Designer AD原理图库元件库SV text has been written to file : 4.4 - ADC模数转换器件.csvLibrary Component Count : 29Name Description----------------------------------------------------------------------------------------------------ADC0800 National 8-Bit Analog to Digital ConverterADC0809 ADC0831 ADCADC0832 ADC8 Generic 8-Bit A/D ConverterCLC532 High-Speed 2:1 Analog MultiplexerCS5511 National 16-Bit Analog to Digital ConverterDAC8 Generic 8-Bit D/A ConverterEL1501 Differential line Driver/ReceiverEL2082 Current-Mode MultiplierEL4083 Current Mode Four Quadrant MultiplierEL4089 DC Restored Video AmplifierEL4094 Video Gain Control/FaderEL4095 Video Gain Contol/Fader/MultiplexerICL7106 LMC6953_NSC PCI Local Bus Power SupervisorMAX4147 300MHz, Low-Power, High-Output-Current, Differential Line DriverMAX4158 350MHz 2-Channel Video Multiplexer-AmplifierMAX4159 350MHz 2-Channel Video Multiplexer-AmplifierMAX4258 250MHz, 2-Channel Video Multiplexer-AmplifierMAX4259 250MHz 2-Channel Video Multiplexer-AmplifierMAX951 Ultra-Low-Power, Single-Supply Op Amp + Comparator + ReferenceMAX952 Ultra-Low-Power, Single-Supply Op Amp + Comparator + ReferenceMC1496 Balanced Modulator/DemodulatorPLL100k Generic Phase Locked LoopPLL10k Generic Phase Locked LoopPLL5k Generic Phase Locked LoopPLLx Generic Phase Locked Loop水位计
标签： adc 模数转换 altium designer
上传时间： 2022-03-13
上传用户：
STM32F4 ADC模数转换实验例程，有需要的可以参考！
上传时间： 2022-04-15
上传用户：20125101110
高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。 本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法，并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。 通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统，完成音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent 33220A任意信号发生器提供模拟激励信号，共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道，并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块，并行地实现了ADC参数的评估算法。 在样本数分别为128和4096的实验条件下，对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估，被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明，通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块，可并行地实现对2个相同ADC的参数评估，减小单个ADC的平均测试时间。 FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制，就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估，配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现，具有可行性，但由于噪声的影响，测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。 关键词：ADC测试；并行；参数评估；FPGA；FFT
上传时间： 2013-07-11
上传用户：tdyoung
模／数转换是现代测控电路中非常重要的环节，它有并行和串行两种数据输出形式。目前，模／数转换器ADC已被做成大规模集成电路，并有多种型号和种类可供选择。本文介绍了AD7654的性能特点，并设计了AD76
上传时间： 2013-07-18
上传用户：sssnaxie
随着现代通信与信号处理技术的不断发展，对于高速高精度AD转换器的需求越来越大。但是，随着集成电路工艺中电路特征线宽的不断减小，在传统单通道ADC框架下同时实现高速、高精度的数模转换愈加困难。此时，时分交替ADC 作为...
上传时间： 2013-07-08
上传用户：mylinden
高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法，并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。 本研究通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统，完成了音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent33220A任意信号发生器提供模拟激励信号，共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道，并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块，并行地实现了ADC参数的评估算法。在样本数分别为128和4096的实验条件下，对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估，被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明，通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块，可并行地实现对2个相同ADC的参数评估，减小单个ADC的平均测试时间。FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制，就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估，配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现，具有可行性，但由于噪声的影响，测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。
上传时间： 2013-06-07
上传用户：gps6888
本应用笔记将介绍ADI公司高速转换器部门用来评估高速ADC的特征测试和生产测试方法。本应用笔记仅供参考，不能替代产品数据手册
上传时间： 2014-12-23
上传用户：zhaiye
- 型ADC是现代语音频带、音频和高分辨率精密工业测量应用所青睐的转换器。
上传时间： 2013-11-14
上传用户：jiangshandz
本教程首先概括讨论作为 ash转换器基本构建模块的比较器。
上传时间： 2013-12-13
上传用户：lacsx
模数转换器(ADC)将模拟量——现实世界中绝大部分现象的特征——转换为数字语言，以便用于信息处理、计算、数据传输和控制系统。数模转换器(DAC)则用于将发送或存储的数据，或者数字处理的结果，再转换为现实世界的变量，以便控制、显示信息或进一步进行模拟处理
上传时间： 2014-11-30
上传用户：784533221
