基于B/S的商贸管理系统，使用JSP开发环境
上传时间： 2016-06-12
上传用户：784533221
TL431应用.TL431,A、B集成电路是三端可编程并联稳压二极管。
上传时间： 2014-01-07
上传用户：84425894
bp算法实现代码,在c++ builder 平台上实现. b p算法实现代码,在c++ builder 平台上实现.
上传时间： 2014-01-22
上传用户：顶得柱
基于b/s模式的jsp在线考试系统，可以学习学习
上传时间： 2014-11-13
上传用户：royzhangsz
用于求解大型稀疏线性方程组Ax=b的数值计算库.
上传时间： 2014-01-04
上传用户：稀世之宝039
⑴ 提供简单命令 A、通过串口加载程序到指定内存 B、将程序烧写到 NANDFLASH 指定位置 C、LCD 操作函数 I、画点 II、画线 III、画圆 IV、显示图像 ⑵ bootloader 具备自我更新能力 ⑶ bootloader 可以启动 LINUX ⑷ 能通过网络传输文件（FTP/UDP）
上传时间： 2016-06-18
上传用户：牧羊人8920
实现B树，并在MFC中将其画出。 B树的表示及基本操作的实现。 1．掌握B树的存贮结构。 2．实现B树中关键字值的插入及删除操作。 3．屏幕图形化的显示。
标签： 树
上传时间： 2013-12-18
上传用户：xymbian
递归方法实现HANOI塔问题 子程序模块个数不限。要求: 盘子个数可以输入,第一个塔为A,第二个塔为B,第三个塔的名称为C。打印出移动过程。
上传时间： 2013-12-22
上传用户：小鹏
用过采样和求均值提高ADC分辨率 很多应用需要使用模/数转换器 ADC 进行测量 这些应用所需要的分辨率取决于信号的动 态范围 必须测量的参数的最小变化和信噪比 SNR 因此 很多系统使用较高分辨率的片外ADC 然而也可以通过使用一些技术来达到较高的分辨率和SNR 本应用笔记介绍用过采样和求均值的方 法来提高模数转换的分辨率和SNR 过采样和求均值技术可以在不使用昂贵的片外ADC的情况下提 高测量分辨率 本应用笔记讨论如何使用过采样和求均值的方法来提高模/数转换 ADC 测量的分辨率 另 外 本文最后的附录A B和C分别给出了对ADC噪声的深入分析 最适合过采样技术的ADC噪声 类型和使用过采样和求均值技术的示例代码
上传时间： 2016-06-21
上传用户：hanli8870
B+树算法,没有密码,供学习使用.质量高
上传时间： 2014-09-10
上传用户：远远ssad
