随着印制电路板功能的日益增强，结构日趋复杂，系统中各个功能单元之间的连线间距越来越细密，基于探针的电路系统测试方法已经很难满足现在的测试需要。边界扫描测试(BST)技术通过将边界扫描寄存器单元安插在集成电路内部的每个引脚上，相当于设置了施加激励和观测响应的内建虚拟探头，通过该技术可以大大的提高数字系统的可观测性和可控性，降低测试难度。针对这种测试需求，本文给出了基于FPGA的边界扫描控制器设计方法。 完整的边界扫描测试系统主要由测试控制部分和目标器件构成，其中测试控制部分由测试图形、数据的生成与分析及边界扫描控制器两部分构成。而边界扫描控制器是整个系统的核心，它主要实现JTAG协议的自动转换，产生符合IEEE标准的边界扫描测试总线信号，而边界扫描测试系统工作性能主要取决与边界扫描控制器的工作效率。因此，设计一个能够快速、准确的完成JTAG协议转换，并且具有通用性的边界扫描控制器是本文的主要研究工作。 本文首先从边界扫描技术的基本原理入手，分析边界扫描测试的物理基础、边界扫描的测试指令及与可测性设计相关的标准，提出了边界扫描控制器的总体设计方案。其次，采用模块化设计思想、VHDL语言描述来完成要实现的边界扫描控制器的硬件设计。然后，利用自顶向下的验证方法，在对控制器内功能模块进行基于Testbench验证的基础上，利用嵌入式系统的设计思想，将所设计的边界扫描控制器集成到SOPC中，构成了基于SOPC的边界扫描测试系统。并且对SOPC系统进行软硬件协同仿真，实现对边界扫描控制器的功能验证后将其应用到实际的测试电路当中。最后，在基于SignalTapⅡ硬件调试的基础上，软硬件结合对整个系统可行性进行了测试。从测试结果看，达到了预期的设计目标，该边界扫描控制器的设计方案是正确可行的。 本文设计的边界扫描控制器具有自主知识产权，可以与其他处理器结合构成完整的边界扫描测试系统，并且为SOPC系统提供了一个很有实用价值的组件，具有很明显的现实意义。
上传时间： 2013-07-20
上传用户：hewenzhi
LM324使用前必看，它是一个双极线性集成电路，即其内部带有2个高增益运算放大器
上传时间： 2013-06-17
上传用户：hj_18
随着现代集成电路技术的发展，锁相环已经成为集成电路设计中非常重要的一个部分，所以对锁相环的研究具有积极的现实意义。然而传统的锁相环大多是数模混合电路，在工艺上与系统芯片中的数字电路存在兼容问题。因此设计一...
上传时间： 2013-06-09
上传用户：mosliu
应该是一份数电课程设计的资料，介绍以中小规模集成电路设计数字钟的方法，描述了基本原理和电路原理，初学者可以参考。
标签： 数字
上传时间： 2013-04-24
上传用户：xmsmh
Tina Pro是重要的现代化EDA（Electronic Design Automation，即电子电路设计自动化）软件之一，用于模拟及数字电路的仿真分析。其研发者是欧洲DesignSoft Kft.公司,目前大约流行四十多个国家,并有二十余种不同语言的版本,其中包括中文版，大约含有两万多个分立或集成电路元器件
上传时间： 2013-07-01
上传用户：manlian
近年来，GPS技术迅速发展，并随着3G时代的到来，其应用领域日益广阔，需求量与日俱增。与此同时，随着电路系统设计越来越复杂，上市时间日益缩短，集成电路设计方法面临重大变革。因此采用新型方法学来设计GPS接收系统是必要的。 本文基于GPS原理，采用可复用的IP技术和软硬协同设计技术，设计了一种高性能的GPS SOC接收系统。论文首先分析了GPS信号解调的原理，提出了一种高性能的捕获和跟踪系统结构，详细说明了其工作流程和设计原理。其次，基于高性能总线的选取提出了整个基带系统地结构，并阐明了总线上的各个模块设计方法。采用了直接复用的测试手段和FPGA的测试平台，缩短开发周期，而且保证了对整个系统测试的覆盖率。本文所设计的系统最大特色在于易于集成到其它系统中，并且仅占用10个芯片端口，实现了IP化的设计目的。 最后本文介绍了测试过程中所采用的基于FPGA平台的仿真验证方案和测试方法，并给出了最终的测试结果，达到了对卫星信号搜索定位的目的。
上传时间： 2013-04-24
上传用户：starlet007
Behzad Razavi 所著的《射频微电子学》（RF Microelectronics）的翻译稿，清华大学微电子学研究所参与翻译。主要内容有：射频电子学常见的概念和术语，以及评价射频电路性能的主要指标；模拟和数字信号的调制、解调；常见的无线通信标准；无线前端收发器的结构和集成电路的实现；低噪声放大器和混频器、振荡器、频率综合 器和功率放大器的电路原理和分析方法，等等。
标签： BehzadRazavi 射频 微电子学
上传时间： 2013-06-23
上传用户：huql11633
FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前广泛使用的一种可编程器件，FPGA的出现使得ASIC(Application Specific Integrated Circuits)产品的上市周期大大缩短，并且节省了大量的开发成本。目前FPGA的功能越来越强大，满足了目前集成电路发展的新需求，但是其结构同益复杂，规模也越来越大，内部资源的种类也R益丰富，但同时也给测试带来了困难，FPGA的发展对测试的要求越来越高，对FPGA测试的研究也就显得异常重要。 本文的主要工作是提出一种开关盒布线资源的可测性设计，通过在FPGA内部加入一条移位寄存器链对开关盒进行配置编程，使得开关盒布线资源测试时间和测试成本减少了99％以上，而且所增加的芯片面积仅仅在5％左右，增加的逻辑资源对FPGA芯片的使用不会造成任何影响，这种方案采用了小规模电路进行了验证，取得了很好的结果，是一种可行的测试方案。 本文的另一工作是采用一种FPGA逻辑资源的测试算法对自主研发的FPGA芯片FDP250K的逻辑资源进行了严格、充分的测试，从FPGA最小的逻辑单元LC开始，首先得到一个LC的测试配置，再结合SLICE内部两个LC的连接关系得到一个SLICE逻辑单元的4种测试配置，并且采用阵列化的测试方案，同时测试芯片内部所有的逻辑单元，使得FPGA内部的逻辑资源得完全充分的测试，测试的故障覆盖率可达100％，测试配置由配套编程工具产生，测试取得了完满的结果。
上传时间： 2013-06-29
上传用户：Thuan
随着数字技术、大规模集成电路及计算机的大量普及和快速发展，逻辑分析仪(Logic Analyzer，简称LA)作为数字系统的数据域测试仪器中应用最为广泛、最有代表性的一种通用测试仪器，为解决越来越复杂的数字系统的检测和故障诊...
上传时间： 2013-05-17
上传用户：鱼鱼鱼yu
随着现代通信与信号处理技术的不断发展，对于高速高精度AD转换器的需求越来越大。但是，随着集成电路工艺中电路特征线宽的不断减小，在传统单通道ADC框架下同时实现高速、高精度的数模转换愈加困难。此时，时分交替ADC 作为...
上传时间： 2013-07-08
上传用户：mylinden
