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锂电池均衡测试仪

  • PSGKC-D高压开关测试仪

    PSGKC-D型开关机械特性测试仪,是我公司针对各种高压开关研制的一种通用型电脑智能化测试仪器。该仪器应用光电脉冲技术,单片计算机技术及可靠的抗电磁辐射技术,配以精确可靠的速度/距离传感器,可用于各种电压等级的真空、六氟化硫、少油、多油等高压开关的机械性参数的调试与测量。 公司:扬州品胜电气科技有限公司 地址:江苏宝应开发区安宜东路284号 电话:0514-88992611 传真:0514-88268181 88992611 手机:13382732611 13705255281 网址:http://www.yzpsdq.com 邮箱:88992611@yzpsdq.com QQ: 987006099 1014936215 联系人:张春华

    标签: PSGKC-D 高压开关 测试仪

    上传时间: 2013-10-15

    上传用户:脚趾头

  • 2013年全国大学生电子设计大赛-简易自动电阻测试仪

    简易自动电阻测试仪

    标签: 2013 大学生电子 设计大赛 自动

    上传时间: 2013-12-17

    上传用户:raron1989

  • YXD-3006蓄电池内阻测试仪

    蓄电池内阻测试仪

    标签: 3006 YXD 蓄电池 内阻

    上传时间: 2013-10-12

    上传用户:KSLYZ

  • 力科PCIE 3.0系列文章之二——PCIE 3.0的动态均衡测试挑战

    因为PCIE 3.0信号的速率可以达到8Gb/s,而且链路通道走线也可能会很长,这可能会导致高速信号衰减过大,在接收端无法得到张开的眼图。因此在PCIE 3.0的Tx和Rx端均使用了均衡设置,以补偿长链路时高速信号的衰减。

    标签: PCIE 3.0 力科 动态均衡

    上传时间: 2013-10-27

    上传用户:894448095

  • 基于PC104的低空测试仪测控程序设计

    低空测试仪试验需要把整个测试仪作为吊舱挂在直升机下工作,能适应各种恶劣的自然条件,用于某飞行部件地海杂波环境下的测试。以PC104嵌入式计算机为硬件平台,标准C++为开发工具,针对低空测试仪数据采集需求开发了测控程序。通过电平I\O控制电源板给各信号加电时序,A\D卡实时采集信号,高度表通过串口回传高度数据。着重介绍了低空测试仪的软硬系统设计方案,给出了一组测试数据,验证了测控程序的有效性。现场应用表明,该系统具有设计合理,操作简便,测试准确的特点,达到了设计要求。

    标签: 104 PC 测试仪 测控

    上传时间: 2013-10-11

    上传用户:hphh

  • 酒精测试仪-功能和原理介绍

    酒精测试仪

    标签: 酒精测试仪

    上传时间: 2013-10-29

    上传用户:wyiman

  • 晶体管参数测试仪的设计

    以LM3S1138芯片作为控制核心,设计了一个晶体管参数测试系统。该系统主要功能模块包括:恒流源阶梯信号、电压扫描信号、升压电路、保护电路等。利用8位D/A转换器产生稳定的控制电压,通过集成在LM3S1138芯片中的10位A/D模块完成电压的测量。通过RS232接口将测量数据传送到PC机,利用Matlab软件实现对测量数据的处理和显示。测试结果表明:该晶体管参数测试仪工作良好,测量结果都在数据手册给的参数范围之内。

    标签: 晶体管参数 仪的设计 测试

    上传时间: 2013-10-23

    上传用户:ZOULIN58

  • 非接触式接地电阻测试仪说明书

    非接触式接地电阻测试仪说明书,不是做广告,精度比较高

    标签: 非接触式 接地电阻 测试仪 说明书

    上传时间: 2013-11-26

    上传用户:yan2267246

  • EL测试在光伏太阳能电池检测中的应用

    为了满足客户对太阳能电池组件性能的更高要求,通过对电池片的EL测试,从来料方面进行把关,通过对层压敷设件和组件的EL测试,能够合理的控制由于工艺参数设置不当和人为因素引起的组件不良缺陷,从而能够将问题消灭在组件出厂之前,保证组件质量。同时,通过分析EL图像,也有助于完善和改进电池片以及组件的生产工艺,对太阳能电池的生产有重要指导意义。

    标签: EL测试 光伏太阳能 中的应用 电池检测

    上传时间: 2013-11-12

    上传用户:chenbhdt

  • 自制万能集成电路测试仪

    自制 万能集成电路测试仪 用51单片机 做的 可以支持74系列·4000系列·运放系列·和接口芯片·静态存储器等芯片测试 目前支持400多个芯片.

    标签: 集成电路 测试仪

    上传时间: 2013-11-19

    上传用户:zm7516678