从 Mentor Graphics 的自动测试图形生成（ATPG）工具 FastScan的 测试文档中提取出测试电路（CUT）的测试模式，生成便于对应压缩算法的文件 格式。 本文中， 给出了 2 种压缩测试模式的方法， 一种是基于统计的哈夫曼编码， 一种是基于差分运算的Golomb 编码。本次毕业设计中，在熟悉Mentor Graphics ATPG工具 FastScan的基本功能和其主要的测试模式输出文件的格式的基础上， 实现其中测试结构和测试模式数据的分析提取， 并且在掌握典型的测试模式压缩 算法的思想以及 C/C++开发环境的前提下，选择或综合相关的优化压缩算法，针 对测试结构信息，实现测试模式数据的压缩，及软件的基本图形化操作和结果报 告界面。
标签： Graphics FastScan Mentor ATPG
上传时间： 2017-08-17
上传用户：bcjtao
设计一个由自动测试排序算法性能（比较次数compare_count、交换次数exchange_count、探测次数probe_count）的测试类和排序类构成的类体系。 注：用一个类来描述一个排序算法，类中的sort方法通过调用比较、交换方法来实现数组排序。排序类放入一个特定的包MySort中。
标签： exchange_count compare_count probe_count 自动测试
上传时间： 2017-09-27
上传用户：Shaikh
测试技术专辑 134册 1.93G自动测试仪器及系统 416页 11.7M.pdf
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上传时间： 2014-05-05
上传用户：时代将军
R&S自动测试设备操作指导书A0
标签： R&S自动测试设备操作指导书A0
上传时间： 2016-02-29
上传用户：UlikeKK
基于开尔文四线法接插件接触电阻自动测试设计与实现基于开尔文四线法接插件接触电阻自动测试设计与实现
标签： 电阻
上传时间： 2022-02-02
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本文论述的蓝牙射频自动测试系统，以Visa构架的远程控制技术为理论基础，依据蓝牙国际标准和国家无线电管理委员会发布的蓝牙技术测试标准，基于Visual Basic环境，集成测试T控机、频谱分析仪Agilent E4440、蓝牙综测仪Agilent 4010、射频切换单元等测试仪器，实现蓝牙终端型号核准射频性能的自动化测试。本测试系统由用户在工控机上操作自动化测试软件进行测试，包含数据采集、数据处理、测试结果显示和自动生成测试报告等功能。1本文从理论入手，首先介绍了测试技术的国内外现状和发展方向，然后介绍了自动测试系统的设计原则和总体结构，接下来着重论述了蓝牙射频自动测试系统的硬件选择和软件开发。软件开发部分主要分为以下几项工作：1，上层操作界面的编写：2.底层仪表驱动函数的编写；3.测试用例的编写：4.后台数据库的编写。软件设计过程中充分利用虑拟仪器技术和平台化模块化设计方案保证系统的扩展性，移柏性和重用性。最后，本文给出了实际测试过程中测试结果的分析，可以看出，本蓝牙射频自动测试系统具有极强的稳定度和准确性，并且极大的提高了测试效率，节省了大量的人力资源和时间资源，符合现代化测试的需求。
上传时间： 2022-06-20
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【摘要】阐述了模数转换器的静态参数和动态参数测试原理和方法，并且构建了模数转换器的自动测试硬件平台和软件系统.重点讨论了利用Matlab库函数进行快速傅立叶变换测试的方法，使用ADC自动测试系统对高速模数转换器SCM530101进行了测试，并给出了测试结果.【关键词】模数转换器；码密度；快速傅立叶变换过去由模拟电路实现的工作，今天越来越多地由数字电路或计算机来处理，特别是近几年来，国内的通讯和多媒体技术迅猛发展，数字产品成为目前以及未来产品的主流.作为模拟与数字之间的桥梁，ADC的应用领域越来越广，特别是在数字信号处理、雷达信号分析、医用成像设备、高速数据采集等应用方面.ADC器件不断向高速、高精度的方向飞速发展，当高精度的ADC应用于通讯、音频或视频领域时，对ADC的性能参数的分析便显得尤为重要.然而，目前的测试方法具有适应性差、只适合分析某种特定的ADC、不能分析多种动态性能参数、使用不方便等缺点
上传时间： 2022-06-24
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EMI滤波器插入损耗自动测试系统设计
上传时间： 2022-07-20
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电子功能模件是机电产品的基本组成部分，其水平高低直接决定整个机电产品的工作质量。当前PCB自动测试系统大多为欧美产品，价格相当昂贵，远远超出我国中小电子企业的承受能力。为了提高我国中小企业电子设备的竞争力，本课题研发了适合于我国中小企业、价格低廉、使用方便的PCB路内测试系统。 本文首先详细介绍了PCB各种检测技术的原理和特点，然后根据本课题面向的用户群和他们对PCB测试的需求，组建PCB内测试系统。本系统基于虚拟仪器设计思想，以PCB上模拟电子器件、组合逻辑电路及由其构成的功能模块等为被测对象，包括路内测试仪、逻辑分析单元、信号发生器、高速数据采集器、多路通道扫描器及针床。其中：路内测试仪对不同被测对象选择不同测试方法，采用电位隔离法实现了被测对象与PCB上其他元器件的隔离，并采用自适应测试方法提高测试结果的准确度。逻辑分析单元主要采用反向驱动技术测试常见的组合逻辑电路。信号发生器能同时产生两路正弦波、方波、斜波、三角波等常用波形。数据采集器能同时采集四路信号，以USB接口与主机通讯。多路通道扫描器采用小型继电器阵列来实现，可扩展性好。针床采用新型夹具，既保证接触性能，又不至破坏触点。 实践表明，本系统能对常用电子功能模件进行自动测试，基本达到了预期目标。
上传时间： 2013-06-06
上传用户：klds
高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。 本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法，并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。 通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统，完成音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent 33220A任意信号发生器提供模拟激励信号，共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道，并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块，并行地实现了ADC参数的评估算法。 在样本数分别为128和4096的实验条件下，对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估，被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明，通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块，可并行地实现对2个相同ADC的参数评估，减小单个ADC的平均测试时间。 FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制，就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估，配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现，具有可行性，但由于噪声的影响，测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。 关键词：ADC测试；并行；参数评估；FPGA；FFT
上传时间： 2013-07-11
上传用户：tdyoung
