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组合测试

  • 基于FPGA的ADC并行测试方法研究

    高性能ADC产品的出现,给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化,减少了单个ADC的平均测试时间,从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上,总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法,并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。    本研究通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统,完成了音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent33220A任意信号发生器提供模拟激励信号,共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道,并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块,并行地实现了ADC参数的评估算法。在样本数分别为128和4096的实验条件下,对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估,被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明,通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块,可并行地实现对2个相同ADC的参数评估,减小单个ADC的平均测试时间。FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制,就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估,配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现,具有可行性,但由于噪声的影响,测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。

    标签: FPGA ADC 并行测试 方法研究

    上传时间: 2013-06-07

    上传用户:gps6888

  • 硬件测试报告

    硬件测试报告,做硬件的朋友可以看看. 硬件测试报告,做硬件的朋友可以看看.

    标签: 硬件测试 报告

    上传时间: 2013-07-29

    上传用户:fanboynet

  • C#环境的车牌认别系统源代码和30张测试图片

    ·详细说明:C#环境的车牌认别系统源代码和30张测试图片;本程序对以上的30汽车图片的认别定位分割等准确率达至100%。文件列表:   sample   ......\App.ico   ......\AssemblyInfo.cs   ......\bin   ......\...\Debug   ......\...\Release &

    标签: 环境 源代码 测试 车牌

    上传时间: 2013-07-11

    上传用户:changeboy

  • [测试书籍]ESSENTIALS OF ELECTRONIC TESTING FOR DIGITAL, MEMORY AND&nb

    ·[测试书籍]ESSENTIALS OF ELECTRONIC TESTING FOR DIGITAL, MEMORY AND MIXED-SIGNAL VLSI CIRCUITS 

    标签: nbsp ESSENTIALS ELECTRONIC DIGITAL

    上传时间: 2013-07-21

    上传用户:euroford

  • H.263编解码原程序及测试程序源码(含测试序列)

    ·详细说明:H.263编解码原程序及测试程序源码,含测试序列,很难得的测试程序源代码.文件列表:   H.263编解码原程序及测试程序源码   ...............................\libr263   ...............................\.......\coder.c   .................

    标签: 263 编解码 程序 测试程序

    上传时间: 2013-06-18

    上传用户:ykykpb

  • 采用G.729的语言实时通信DLL(含测试源代码)

    ·采用G.729的语言实时通信DLL(含测试源代码)

    标签: 729 DLL 语言 实时通信

    上传时间: 2013-05-19

    上传用户:西伯利亚狼

  • 《电机测试技术》

    ·何秀伟《电机测试技术》

    标签: 电机 测试技术

    上传时间: 2013-06-02

    上传用户:chuckbassboy

  • 数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计(影印版)

    ·书中包括的索引使你能够根据自己的需要,直接阅读你所关注的内容。主要内容包括:设计核心,关注嵌入核心和嵌入存储器;系统集成和超大规模集成电路的设计问题;AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计;内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST;虚拟测试套接字和隔离测试 ·重用设计,包括重用和隔离测试;用VSIA和IEEE P1500标准处理测试问题。 书中穿插的整幅图解直接来自作者的教学材

    标签: 数字集成电路 嵌入式 内核

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:sjb555

  • [测试书籍]An_introduction_to_mixed_signal_ic_test_and_measurement

    ·[测试书籍]An_introduction_to_mixed_signal_ic_test_and_measurement

    标签: An_introduction_to_mixed_signal_i c_test_and_measurement 测试 书籍

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:LouieWu

  • 做实验室测试的matlab指纹识别代码

    ·详细说明:做实验室测试的matlab指纹识别代码,主要测试了指纹的几种特征提取对识别的影响,可用来进行论文论证阶段的实验室使用,希望对初学者和广大在校生有帮助.文件列表:   fvsmatlabsourcecode   ...................\19_7.bmp   ...................\22443.bmp   .......

    标签: matlab 实验室 代码 测试

    上传时间: 2013-07-03

    上传用户:时代电子小智