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线损测试

  • MDK Jlink Mini2440测试程序移植

    RealView+MDK+Jlink+Mini2440测试程序移植(成功)2

    标签: Jlink 2440 Mini MDK

    上传时间: 2013-07-07

    上传用户:telukeji

  • FPGA测试方法研究

    FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前广泛使用的一种可编程器件,FPGA的出现使得ASIC(Application Specific Integrated Circuits)产品的上市周期大大缩短,并且节省了大量的开发成本。目前FPGA的功能越来越强大,满足了目前集成电路发展的新需求,但是其结构同益复杂,规模也越来越大,内部资源的种类也R益丰富,但同时也给测试带来了困难,FPGA的发展对测试的要求越来越高,对FPGA测试的研究也就显得异常重要。 本文的主要工作是提出一种开关盒布线资源的可测性设计,通过在FPGA内部加入一条移位寄存器链对开关盒进行配置编程,使得开关盒布线资源测试时间和测试成本减少了99%以上,而且所增加的芯片面积仅仅在5%左右,增加的逻辑资源对FPGA芯片的使用不会造成任何影响,这种方案采用了小规模电路进行了验证,取得了很好的结果,是一种可行的测试方案。 本文的另一工作是采用一种FPGA逻辑资源的测试算法对自主研发的FPGA芯片FDP250K的逻辑资源进行了严格、充分的测试,从FPGA最小的逻辑单元LC开始,首先得到一个LC的测试配置,再结合SLICE内部两个LC的连接关系得到一个SLICE逻辑单元的4种测试配置,并且采用阵列化的测试方案,同时测试芯片内部所有的逻辑单元,使得FPGA内部的逻辑资源得完全充分的测试,测试的故障覆盖率可达100%,测试配置由配套编程工具产生,测试取得了完满的结果。

    标签: FPGA 测试 方法研究

    上传时间: 2013-06-29

    上传用户:Thuan

  • EMC测试

    EMC测试资料,介绍EMC基础知识,以及测试项目等

    标签: EMC 测试

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:极客

  • 基于FPGA的ADC并行测试方法研究

    高性能ADC产品的出现,给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化,减少了单个ADC的平均测试时间,从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上,总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法,并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。    本研究通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统,完成了音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent33220A任意信号发生器提供模拟激励信号,共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道,并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块,并行地实现了ADC参数的评估算法。在样本数分别为128和4096的实验条件下,对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估,被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明,通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块,可并行地实现对2个相同ADC的参数评估,减小单个ADC的平均测试时间。FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制,就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估,配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现,具有可行性,但由于噪声的影响,测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。

    标签: FPGA ADC 并行测试 方法研究

    上传时间: 2013-06-07

    上传用户:gps6888

  • 硬件测试报告

    硬件测试报告,做硬件的朋友可以看看. 硬件测试报告,做硬件的朋友可以看看.

    标签: 硬件测试 报告

    上传时间: 2013-07-29

    上传用户:fanboynet

  • C#环境的车牌认别系统源代码和30张测试图片

    ·详细说明:C#环境的车牌认别系统源代码和30张测试图片;本程序对以上的30汽车图片的认别定位分割等准确率达至100%。文件列表:   sample   ......\App.ico   ......\AssemblyInfo.cs   ......\bin   ......\...\Debug   ......\...\Release &

    标签: 环境 源代码 测试 车牌

    上传时间: 2013-07-11

    上传用户:changeboy

  • [测试书籍]ESSENTIALS OF ELECTRONIC TESTING FOR DIGITAL, MEMORY AND&nb

    ·[测试书籍]ESSENTIALS OF ELECTRONIC TESTING FOR DIGITAL, MEMORY AND MIXED-SIGNAL VLSI CIRCUITS 

    标签: nbsp ESSENTIALS ELECTRONIC DIGITAL

    上传时间: 2013-07-21

    上传用户:euroford

  • H.263编解码原程序及测试程序源码(含测试序列)

    ·详细说明:H.263编解码原程序及测试程序源码,含测试序列,很难得的测试程序源代码.文件列表:   H.263编解码原程序及测试程序源码   ...............................\libr263   ...............................\.......\coder.c   .................

    标签: 263 编解码 程序 测试程序

    上传时间: 2013-06-18

    上传用户:ykykpb

  • 采用G.729的语言实时通信DLL(含测试源代码)

    ·采用G.729的语言实时通信DLL(含测试源代码)

    标签: 729 DLL 语言 实时通信

    上传时间: 2013-05-19

    上传用户:西伯利亚狼

  • 《电机测试技术》

    ·何秀伟《电机测试技术》

    标签: 电机 测试技术

    上传时间: 2013-06-02

    上传用户:chuckbassboy