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  • 基于USB6008的多功能数据测控系统

    基于USB6008的多功能数据测控系统

    标签: 6008 USB 多功能 数据测控

    上传时间: 2013-10-23

    上传用户:lijianyu172

  • 在AD9981上实现自动失调功能

    AD9981是首款集成自动失调功能的显示电子器件(DEPL)。自动失调功能通过计算所需的失调设置来工作,从而在箝位期间产生给定的输出代码。当自动失调使能时(寄存器0x1B:5 = 1),寄存器0x0B-0x10的设置由自动失调电路用作期望的箝位代码(或目标代码),而非失调值。电路会在箝位后(但仍在“后肩”期间)输出代码和目标代码作比较,然后上调或下调失调以进行补偿。在自动失调模式下,目标代码为11位二进制补码字,并将0x0B位7用作红色通道的符号位(0x0D位7用于绿色通道,0x0F位7用于蓝色通道)。

    标签: 9981 AD 自动失调

    上传时间: 2014-12-23

    上传用户:glxcl

  • 在AD9880上实现自动失调功能

    AD9880集成自动失调功能。动失调功能通过监控各ADC在箝位期间的输出并计算所需的失调设置来工作,从而产生给定的输出代码。当自动失调功能使能时(寄存器0x1C:7= 1),“目标代码”寄存器(0x09、0x0B、0x0D)中的设置由自动失调电路用作期望的箝位代码。电路会在箝位后(但仍在“后肩”期间)对比输出代码和目标代码,然后上调或下调失调以进行补偿。在自动失调模式下,失调寄存器(0x08、0x0A、0x0C)均为8位二进制补码字格式,各对应寄存器的位7为符号位。

    标签: 9880 AD 自动失调

    上传时间: 2013-10-22

    上传用户:wanghui2438

  • 一种具有自动纠错功能的FIR滤波器研究

    提出了一种有效实现自动纠错功能FIR数字滤波器技术,该技术采用2种不同架构的标准滤波器通过并行操作来完成。任一滤波器软错误的发生就会引起两个滤波器输出不匹配,达到检测错误的目的,增强了传统滤波器对差错检测和差错纠正的支持。最后对该滤波器地性能进行评估,该滤波器性能良好,纠错率接近100%,可广泛运用在各种信号处理中。

    标签: FIR 自动纠错 滤波器

    上传时间: 2013-10-27

    上传用户:dysyase

  • CD系列数字电路功能

    数字电路功能

    标签: 数字 电路功能

    上传时间: 2013-10-12

    上传用户:leesuper

  • 多功能数字钟的VHDL设计

    多功能数字钟的VHDL设计

    标签: VHDL 多功能 数字

    上传时间: 2013-10-29

    上传用户:swz13842860183

  • 在AD9980上实现自动失调功能

    AD9980集成自动失调功能。自动失调功能通过计算所需的失调设置来工作,从而在箝位期间产生给定的输出代码。当自动失调使能时(寄存器0x1B:5 = 1),寄存器0x0B至0x10的设置由自动失调电路用作期望的箝位代码(或目标代码),而非失调值。电路会在箝位后(但仍在后沿箝位期间)对比输出代码和目标代码,然后上调或下调失调以进行补偿。在自动失调模式下,目标代码为11位二进制补码字,并将0x0B位7用作红色通道的符号位(0x0D位7用于绿色通道,0x0F位7用于蓝色通道)。

    标签: 9980 AD 自动失调

    上传时间: 2013-10-24

    上传用户:zl5712176

  • 74HC系列通用逻辑电路功能表

    74HC系列通用逻辑电路功能

    标签: 74 HC 逻辑电路 功能表

    上传时间: 2013-10-10

    上传用户:星仔

  • 74系列芯片功能大全

    74系列芯片功能大全

    标签: 74系列 芯片 功能大全

    上传时间: 2013-12-21

    上传用户:xa_lgy

  • CMOS工艺多功能数字芯片的输出缓冲电路设计

    为了提高数字集成电路芯片的驱动能力,采用优化比例因子的等比缓冲器链方法,通过Hspice软件仿真和版图设计测试,提出了一种基于CSMC 2P2M 0.6 μm CMOS工艺的输出缓冲电路设计方案。本文完成了系统的电原理图设计和版图设计,整体电路采用Hspice和CSMC 2P2M 的0.6 μm CMOS工艺的工艺库(06mixddct02v24)仿真,基于CSMC 2P2M 0.6 μm CMOS工艺完成版图设计,并在一款多功能数字芯片上使用,版图面积为1 mm×1 mm,并参与MPW(多项目晶圆)计划流片,流片测试结果表明,在输出负载很大时,本设计能提供足够的驱动电流,同时延迟时间短、并占用版图面积小。

    标签: CMOS 工艺 多功能 数字芯片

    上传时间: 2013-10-09

    上传用户:小鹏