fPGA中的竞争冒险现象的来源及其解决方法
上传时间： 2013-08-17
上传用户：tyler
针对超声波应用系统易受噪声干扰以及超声波信号的空间衰减现象影响, 从而要求\r\n超声波传感器工作在其最佳特性的特点, 论证了驱动脉冲信号的控制精度对传感器工作特\r\n性的影响, 给出了传感器驱动信号脉冲宽度与传感器频率之间的最佳关系式, 提出了采用复\r\n杂可编程逻辑器件(CPLD) 产生传感器驱动控制信号的方法, 将该方法应用于一超声波流\r\n量计测量系统中, 得到了比传统型单片机控制电路更好的控制精度和控制效果。
上传时间： 2013-08-23
上传用户：ippler8
FPGA中的冒险现象,降低fpga的稳定性和功耗
上传时间： 2013-08-23
上传用户：qq10538412
在FPGA设计中解决如何消除毛刺现象的相关设计调整，对于FPGA的设计者来说具有较好的学习作用。
上传时间： 2013-08-31
上传用户：行旅的喵
出租车计价器检定装置中的干扰现象分析
上传时间： 2013-10-24
上传用户：qunquan
在分析了Boost变换器精确离散迭代模型的基础上，首次研究了采用周期性扩频技术后Boost变换器中的分叉和混沌现象。通过M文件编程得到了输出电压随着电路参数变化的分叉图，验证了它含有丰富的非线性动力学行为，而且研究了采用周期性扩频技术对变换器中非线性现象的影响。同时，在变换器中电路参数不变的情况下，研究了周期扩频技术的频率在不同范围内变化时，其中的分叉与混沌现象。本研究为更好地设计Boost变换器电路提供了一定理论基础和应用价值。
上传时间： 2013-11-03
上传用户：子虚乌有
开关电源中SW的波形经常会出现振铃的现象，严重的振铃现象对电路的损伤极大，这里就是分享怎样解决振铃现象的方法。
上传时间： 2013-10-27
上传用户：Avoid98
摘要: 研究用内腔式He- Ne 激光器做光源时, 硅光电池实验中光电检流计读数不稳定的现象。利用硅光电池分别观测在不加偏振片、加上偏振片时内腔式He- Ne 激光器输出的光强度, 得到激光经偏振片后输出光强随时间而变。利用共焦扫描干涉仪扫描出激光束的各个纵模, 实验表明, 内腔式He- Ne 激光器每个纵模的偏振方向随时间缓慢变化, 引起了实验中输出的光强变化。
上传时间： 2013-11-17
上传用户：ArmKing88
为深入了解基于UC3854A控制的PFC变换器中的动力学特性，研究系统参数变化对变换器中分岔现象的影响，在建立Boost PFC变换器双闭环数学模型的基础上，用Matlab软件对变换器中慢时标分岔及混沌等不稳定现象进行了仿真。在对PFC变换器中慢时标分岔现象仿真的基础上，分析了系统参数变化对分岔点的影响，并进行了仿真验证。仿真结果清晰地显示了输入整流电压的幅值变化对系统分岔点的影响。 Abstract: In order to better understand the dynamics characteristic of power factor correction converter based on UC3854A， and make the way that parameters change influences the bifurcation phenomena of the system clearly. The math model of the two closed loop circuits to the Boost PFC （Power Factor Correction） converter controller was built. Then， with the help of Matlab， the simulation for nonlinear phenomena such as chaos and slow-scale bifurcation in the PFC converter was made. Finally the factors that have influence to the phenomenon of bifurcation under slow-scale in PFC converter were analyzed. The simulation results clearly show the parameters change influences the bifurcation point of the system.
上传时间： 2013-10-17
上传用户：杜莹12345
地弹的形成：芯片内部的地和芯片外的PCB地平面之间不可避免的会有一个小电感。这个小电感正是地弹产生的根源，同时，地弹又是与芯片的负载情况密切相关的。下面结合图介绍一下地弹现象的形成。 简单的构造如上图的一个小“场景”，芯片A为输出芯片，芯片B为接收芯片，输出端和输入端很近。输出芯片内部的CMOS等输入单元简单的等效为一个单刀双掷开关，RH和RL分别为高电平输出阻抗和低电平输出阻抗，均设为20欧。GNDA为芯片A内部的地。GNDPCB为芯片外PCB地平面。由于芯片内部的地要通过芯片内的引线和管脚才能接到GNDPCB，所以就会引入一个小电感LG，假设这个值为1nH。CR为接收端管脚电容，这个值取6pF。这个信号的频率取200MHz。虽然这个LG和CR都是很小的值，不过，通过后面的计算我们可以看到它们对信号的影响。先假设A芯片只有一个输出脚，现在Q输出高电平，接收端的CR上积累电荷。当Q输出变为低电平的时候。CR、RL、LG形成一个放电回路。自谐振周期约为490ps，频率为2GHz，Q值约为0.0065。使用EWB建一个仿真电路。（很老的一个软件，很多人已经不懈于使用了。不过我个人比较依赖它，关键是建模，模型参数建立正确的话仿真结果还是很可靠的，这个小软件帮我发现和解决过很多实际模拟电路中遇到的问题。这个软件比较小，有比较长的历史，也比较成熟，很容易上手。建议电子初入门的同学还是熟悉一下。）因为只关注下降沿，所以简单的构建下面一个电路。起初输出高电平，10纳秒后输出低电平。为方便起见，高电平输出设为3.3V，低电平是0V。（实际200M以上芯片IO电压会比较低，多采用1.5－2.5V。）
标签： 分
上传时间： 2013-10-17
上传用户：zhishenglu
