文章介绍了石英晶体振荡器的特点及性能参数，由于人工测量繁琐，且容易出错等不足，提出了一种智能测量方法。该方法利用计算机控制技术，实现自动测试石英晶体振荡器的性能参数，并打印测试结果，减少了强度，提高了检测效率。
上传时间： 2013-11-22
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高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。 本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法，并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。 通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统，完成音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent 33220A任意信号发生器提供模拟激励信号，共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道，并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块，并行地实现了ADC参数的评估算法。 在样本数分别为128和4096的实验条件下，对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估，被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明，通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块，可并行地实现对2个相同ADC的参数评估，减小单个ADC的平均测试时间。 FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制，就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估，配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现，具有可行性，但由于噪声的影响，测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。 关键词：ADC测试；并行；参数评估；FPGA；FFT
上传时间： 2013-07-11
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高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法，并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。 本研究通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统，完成了音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent33220A任意信号发生器提供模拟激励信号，共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道，并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块，并行地实现了ADC参数的评估算法。在样本数分别为128和4096的实验条件下，对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估，被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明，通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块，可并行地实现对2个相同ADC的参数评估，减小单个ADC的平均测试时间。FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制，就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估，配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现，具有可行性，但由于噪声的影响，测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。
上传时间： 2013-06-07
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基于探索大学物理电学实验仿真技术的目的，采用Multisim10仿真软件对RC电路时间常数参数进行了仿真实验测试。从RC电路电容充、放电时电容电压uC的表达式出发，分析了uC与时间常数之间的关系，给出了几种Multisim仿真测试时间常数的实验方案。仿真实验可直观形象地描述RC电路的工作过程及有关参数测试。将电路的硬件实验方式向多元化方式转移，利于培养知识综合、知识应用、知识迁移的能力，使电路分析更加灵活和直观。
上传时间： 2013-11-10
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西安谊邦电子 公司引进美国的先进半导体测试技术，在此基础上研制生产了YB6000系列半导体分立器件测试系统，该测试系统拥有功率大、速度快、精度高、测试种类全等技术特点，各项技术指标均达到国际领先水平。其雄厚的技术实力，多年的开发产品经验和独特严谨的设计方案使谊邦电子YB系列测试系统性能更加超群，品质更为可靠稳定。谊邦电子研发技术涉及高端集成电路测试、半导体分立器件测试和各种客户产品测试等领域。产品主要应用于军工、汽车、飞机、船舶制造、能源等行业领域。 西安谊邦凭借较强的技术实力和完善的科学管理，能够给用户提供完善的售前售后技术支持。科技创新、服务无限，是我们工作的宗旨。
上传时间： 2013-10-30
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以LM3S1138芯片作为控制核心，设计了一个晶体管参数测试系统。该系统主要功能模块包括：恒流源阶梯信号、电压扫描信号、升压电路、保护电路等。利用8位D/A转换器产生稳定的控制电压，通过集成在LM3S1138芯片中的10位A/D模块完成电压的测量。通过RS232接口将测量数据传送到PC机，利用Matlab软件实现对测量数据的处理和显示。测试结果表明：该晶体管参数测试仪工作良好，测量结果都在数据手册给的参数范围之内。
上传时间： 2013-10-23
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这个应用笔记说明如何利用可以作为电流/电压源并测量电流和电压的单一仪器来配置生产测试系统。2400系列数字源表就可以提供这种能力，它包括2400型数字源表、2410型高压数字源表以及2420型大电流数字源表。本文还对二极管三个主要参数测试进行了说明，并对测试系统和IEEE-488总线操作进行了介绍。
上传时间： 2013-11-24
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测试机 TR6850S 台湾德律,完整功能性测试向量及直流参数测试及类比信号参数 测试。
上传时间： 2018-05-04
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EES软件中文教程EES 是工程方程解答器的英文字母的首字母缩写词。 EES 的基本功能是解代数方程组。EES 也能解差分方程、 有复杂变量的方程、 做工程优化、 提供线性和非线性回归并可绘出良好的二维图形。 EES 的最早版本开发于 Apple Macintosh 计算机和 Windows 操作系统。这本使用手册描述了基于 Windows 操作系统的 EES 版本， 包括 Windows 95/98/2000 和 WindowsNT4。EES 和现有的方程组数值解程序之间有两个主要的差别。 首先，EES 自动识别和求解必须同时求解的方程组。这个特点简化了用户的工作并可使解答器永远在最佳效率下工作。 其次，EES 提供了很多对工程计算非常有用的内置数学和热物性函数。 例如， EES 中内置有蒸汽性质表， 根据任意两个物性参数就可通过调用一个内置函数而获得其它的物性参数。 对于大多数制冷剂 (包括一些新的混合制冷剂 )、氨、甲烷、二氧化碳和很多其它流体，也提供了类似的功能。 空气性质表是内置的，很多常用气体的 psychrometric 函数和 JANAF 表中的数据一样也是内置的。同样也提供了这些物质的迁移性质。虽然 EES 中的数学函数和热物性函数库是强大的，但是并不能完全满足每个用户的需要。 EES 允许用户用 3 种方式输入他 /她自己的函数关系式。首先，在 EES 中插入和添加表格数据非常方便，这样列表数据可以在方程组的求解过程中直接使用。其次， EES 语言支持用户用类似于 Pascal和 Fortran 语言编写的函数和子程序。 EES 也支持用户自己用 EES 语言编写的模块，这些模块可以被其他 EES 程序调用。那些函数、子程序和模块可以当作文件储存，当启动 EES 时这些可自动读取。第三，用任何一种高级语言 (例如 Pascal、C 或者Fortran)编写的外置函数和子程序，可以通过使用 Windows 操作系统的动态连接程序库的功能而动态连接到 EES。添加的函数关系式的这三种方法为扩展 EES 的功能提供了非常强有力的手段。
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上传时间： 2022-05-09
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【摘要】阐述了模数转换器的静态参数和动态参数测试原理和方法，并且构建了模数转换器的自动测试硬件平台和软件系统.重点讨论了利用Matlab库函数进行快速傅立叶变换测试的方法，使用ADC自动测试系统对高速模数转换器SCM530101进行了测试，并给出了测试结果.【关键词】模数转换器；码密度；快速傅立叶变换过去由模拟电路实现的工作，今天越来越多地由数字电路或计算机来处理，特别是近几年来，国内的通讯和多媒体技术迅猛发展，数字产品成为目前以及未来产品的主流.作为模拟与数字之间的桥梁，ADC的应用领域越来越广，特别是在数字信号处理、雷达信号分析、医用成像设备、高速数据采集等应用方面.ADC器件不断向高速、高精度的方向飞速发展，当高精度的ADC应用于通讯、音频或视频领域时，对ADC的性能参数的分析便显得尤为重要.然而，目前的测试方法具有适应性差、只适合分析某种特定的ADC、不能分析多种动态性能参数、使用不方便等缺点
上传时间： 2022-06-24
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