在集成电路内建自测试的过程中，电路的测试功耗通常显著高于正常模式产生的功耗，因此低功耗内建自测试技术已成为当前的一个研究热点。为了减少被测电路内部节点的开关翻转活动率，研究了一种随机单输入跳变（Random Single Input Change，RSIC）测试向量生成器的设计方案，利用VHDL语言描述了内建自测试结构中的测试向量生成模块，进行了计算机模拟仿真并用FPGA（EP1C6Q240C8）加以硬件实现。实验结果证实了这种内建自测试原理电路的正确性和有效性。
上传时间： 2013-10-08
上传用户：llwap
tcp测试程序，可以模拟服务器和客户端，并且可以用文本和2进制来看结果
上传时间： 2013-12-09
上传用户：gtf1207
运行程序后！由于为了测试方便，AOE网初始化，所以，运行程序后，即可得到结果，结果包括拓扑排序和关键路径。
上传时间： 2015-02-28
上传用户：彭玖华
随机产生5组测试数据，分别进行顺序查找，折半查找和分块查找，输出比较结果
上传时间： 2015-03-22
上传用户：gyq
终于把迷你硬盘读写器完工了！ 刚刚初略的测试了几下，还可以， 最后在自己的机子上大胆进行了写测试，即用坏数据写入硬盘，硬盘崩溃后，再用本程序把预先备份的数据恢复到硬盘，结果硬盘完好如初
上传时间： 2015-06-22
上传用户：凌云御清风
摘 要： 本文件是C8051单片机DA测试实验程序；使用外部22.1184MHz晶振. 功能：定义 A ~ F 为功能键。 按"A" 键，输出250HZ的方波，按"B" 键，输出250HZ的正弦波形，按"C" 键，输出250HZ的三角波， 按"D" 键，输出250HZ的锯齿波。用示波器在J6（DAC0）观测结果，使用串口观测按键信息。
上传时间： 2014-01-17
上传用户：zxc23456789
ARM920T SamsungS3C2410平台下 LED测试程序 通过烧入Flash来执行引导程序，以点亮开发板上的LED来获得运行结果，是用来调试的最基本工具与手段。
标签： SamsungS3 SamsungS C2410 Flash
上传时间： 2015-09-26
上传用户：GHF
该程序主要测试EasyARM2131开发板的LED显示、数码管、蜂鸣器鸣叫表示RCT正在运行，还测试了AD转换的结果等功能。
上传时间： 2015-10-18
上传用户：王小奇
经过测试，发现这个代码结果很好，而且可以 和别的程序结合，恩不错的
标签： 测试
上传时间： 2014-01-15
上传用户：lizhen9880
：运用动力学原理建立了小车-倒摆的仿真模型, 并以对象输入输出的测试数据为依据，讨 论了Takagi-Sugeno 模糊模型的参数辨识，提出了模糊逆模型控制方案，基于此借助Matlab 的 Simulink 设计了小车-倒摆的动态模型及其模糊自适应控制系统。仿真结果证明了本文采用的控制 策略的有效性。
上传时间： 2015-12-13
上传用户：gtf1207
