随着计算机技术、电力电子技术的发展，使得电机性能指标也相应的提高和日益完善。这些变化对电机提出了越来越高的性能与质量指标，也使电机性能的精确测试显得更为重要。但监测保护设备的发展相对落后。 本文根据电机运行的特点，采用单片机AT89S52和传感器测试技术，构建了对电机主要运行参数的监测系统。该系统既可以完成现场的实时监测，又可以对多个电机完成连续的参量分析。该系统由参数测量部分，系统的硬件电路组成部分以及软件实现部分组成。参数测量部分的设计包括传感器的选型、放大电路的设计、滤波电路的设计以及硬件电路可靠性措施等。在系统的硬件电路组成部分的设计包括了测试仪和抄写器的电路组成，以及两者之间的无线通信，还包括了抄写器与上位机之间通过USB的通讯。在软件实现的部分通过软件的编写完成各个模块之闻的联系。在界面显示单元设计了基于虚拟仪器的软件平台，其中包括总体设置、历史数据读取、数据图形化显示和数据表格化显示，并对存储的数据进行读取和删除等操作。可以打印指定时间段的历史数据，使用户能够清楚知道该时间段内信息的变化情况。软件的界面友好，显示直观，操作简便。实验结果表明本设计可以满足实际要求、误差较小，可应用于实际应用系统。本监测系统为以后研制更大规模的管理系统迈出了具有基础性和开拓性的一步，其成果具有先进性和潜在的经济效益。
上传时间： 2013-06-21
上传用户：AbuGe
电子功能模件是机电产品的基本组成部分，其水平高低直接决定整个机电产品的工作质量。当前PCB自动测试系统大多为欧美产品，价格相当昂贵，远远超出我国中小电子企业的承受能力。为了提高我国中小企业电子设备的竞争力，本课题研发了适合于我国中小企业、价格低廉、使用方便的PCB路内测试系统。 本文首先详细介绍了PCB各种检测技术的原理和特点，然后根据本课题面向的用户群和他们对PCB测试的需求，组建PCB内测试系统。本系统基于虚拟仪器设计思想，以PCB上模拟电子器件、组合逻辑电路及由其构成的功能模块等为被测对象，包括路内测试仪、逻辑分析单元、信号发生器、高速数据采集器、多路通道扫描器及针床。其中：路内测试仪对不同被测对象选择不同测试方法，采用电位隔离法实现了被测对象与PCB上其他元器件的隔离，并采用自适应测试方法提高测试结果的准确度。逻辑分析单元主要采用反向驱动技术测试常见的组合逻辑电路。信号发生器能同时产生两路正弦波、方波、斜波、三角波等常用波形。数据采集器能同时采集四路信号，以USB接口与主机通讯。多路通道扫描器采用小型继电器阵列来实现，可扩展性好。针床采用新型夹具，既保证接触性能，又不至破坏触点。 实践表明，本系统能对常用电子功能模件进行自动测试，基本达到了预期目标。
上传时间： 2013-06-06
上传用户：klds
本文提出了一种基于USB和FPGA的高性能数据采集模块USB12016(USB总线，A/D垂直分辨率为12位，存储容量为16兆)的软硬件设计与实现方法。该数据采集卡包括模拟输入、A/D转换、数据缓存、FPGA控制电路和USB总线接口等，在一张卡上实现了8通道模拟信号调理、采集、处理，并可实现多卡同步触发采集，具有高精度，低噪声，低失真和测试信号范围宽的特点。USB12016配有系统驱动控制程序软件，在Windows9X/2000版本的操作平台下运行，控制面板完全是虚拟仪器软面板，图形化界面十分友好。USB12016是USB接口技术、FPGA技术和嵌入式技术融为一体的结晶，已成功应用于军事测控领域。
上传时间： 2013-06-12
上传用户：CETM008
高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。 本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法，并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。 通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统，完成音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent 33220A任意信号发生器提供模拟激励信号，共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道，并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块，并行地实现了ADC参数的评估算法。 在样本数分别为128和4096的实验条件下，对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估，被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明，通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块，可并行地实现对2个相同ADC的参数评估，减小单个ADC的平均测试时间。 FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制，就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估，配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现，具有可行性，但由于噪声的影响，测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。 关键词：ADC测试；并行；参数评估；FPGA；FFT
上传时间： 2013-07-11
上传用户：tdyoung
图像显示器是人类接受外部信息的重要手段之一。而立体显示则能再现场景的三维信息，提供场景更为全面、详实的信息，在医学、军事、娱乐具有广泛的应用前景。而现有的3D立体显示设备价格都比较贵，基于此，本人研究了基于SDRAM存储器和FPGA处理器的3D头盔显示设备并且设计出硬件和软件系统。该系统图像效果好，并且价格成本便宜，从而具有更大的实用性。本文完成的主要工作有三点： 1.设计了基于FPGA处理器和SDRAM存储器的3D头盔显示器。该方案有别于现有的基于MCU、DSP和其它处理芯片的方案。本方案能通过线性插值算法把1024×768的分辨率变成800×600的分辨率，并能实现120HZ图像刷新率，采用SDRAM作为高速存储器，并且采用乒乓操作，有别于其它的开关左右眼视频实现立体图像。在本方案中每时每刻都是左右眼视频同时输出，使得使用者感觉不到视频图像有任何闪烁，减轻眼睛疲劳。本方案还实现了图像对比对度调节，液晶前照光调节(调节输出脉冲的占空比)，立体图像源自动识别，还有人性化的操作界面(OSD)功能。 2.完成了该系统的硬件平台设计和软件设计。从便携性角度考虑，尽量减小PCB板面积，给出了它们详细的硬件设计电路图。完成了FPGA系统的设计，包括系统整体分析，各个模块的实现原理和具体实现的方法。完成了单片机对AD9883的配置设计。 3.完成了本方案的各项测试和调试工作，主要包括：数据采集部分测试、数据存储部分测试、FPGA器件工作状态测试、以电脑显示器作为显示器的联机调试和以HX7015A作为显示器的联机调试，并且最终调试通过，各项功能都满足预期设计的要求。实验和分析结果论证了系统设计的合理性和使用价值。 本文的研究与实现工作通过实验和分析得到了验证。结果表明，本文提出的由FPGA和SDRAM组成的3D头盔显示系统完全可以实现高质量的立体视觉效果，从而可以将该廉价的3D头盔显示系统用于我国现代化建设中所需要的领域。
上传时间： 2013-07-16
上传用户：xiaoxiang
FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前广泛使用的一种可编程器件，FPGA的出现使得ASIC(Application Specific Integrated Circuits)产品的上市周期大大缩短，并且节省了大量的开发成本。目前FPGA的功能越来越强大，满足了目前集成电路发展的新需求，但是其结构同益复杂，规模也越来越大，内部资源的种类也R益丰富，但同时也给测试带来了困难，FPGA的发展对测试的要求越来越高，对FPGA测试的研究也就显得异常重要。 本文的主要工作是提出一种开关盒布线资源的可测性设计，通过在FPGA内部加入一条移位寄存器链对开关盒进行配置编程，使得开关盒布线资源测试时间和测试成本减少了99％以上，而且所增加的芯片面积仅仅在5％左右，增加的逻辑资源对FPGA芯片的使用不会造成任何影响，这种方案采用了小规模电路进行了验证，取得了很好的结果，是一种可行的测试方案。 本文的另一工作是采用一种FPGA逻辑资源的测试算法对自主研发的FPGA芯片FDP250K的逻辑资源进行了严格、充分的测试，从FPGA最小的逻辑单元LC开始，首先得到一个LC的测试配置，再结合SLICE内部两个LC的连接关系得到一个SLICE逻辑单元的4种测试配置，并且采用阵列化的测试方案，同时测试芯片内部所有的逻辑单元，使得FPGA内部的逻辑资源得完全充分的测试，测试的故障覆盖率可达100％，测试配置由配套编程工具产生，测试取得了完满的结果。
上传时间： 2013-06-11
上传用户：唐僧他不信佛
随着FPGA(FieldProgrammableGateArray)器件的应用越来越广泛且重要，FPGA的测试技术也得到了广泛重视和研究。基于FPGA可编程的特性，应用独立的测试(工厂测试)需要设计数个测试编程和测试向量来完成FPGA的测试，确保芯片在任何用户可能的编程下都可靠工作。 本论文正是针对上述问题，以XilinxXC4000E系列FPGA为主要的研究对象，在详细研究FPGA内部结构的基础上，基于“分治法”的基本思路对FPGA的测试理论和方法做了探索性研究。 研究完成了对可编程逻辑模块(ConfigrableLogicBlock)及其子模块的测试。主要基于“分治法”对CLB及其子模块进位逻辑(CLM)、查找表(LUT)的RAM工作模式等进行了测试划分，分别实现了以“一维阵列”为基础的测试配置和测试向量，以较少了测试编程次数完成了所有CLB资源的测试。 研究完成了对互连资源(ConfigrableInterconnectResource)的测试。基于普通数据总线的测试方法，针对互连资源主要由线段和NMOS开关管组成的特点及其自身的故障模型，通过手工连线实现测试配置，仅通过4次编程就实现了对其完全测试。 在测试理论研究的基础上，我们开发了能对FPGA器件进行实际测试的测试平台。基于硬件仿真器的测试平台通过高速光纤连接工作站上的EDA仿真软件，把软件语言描述的测试波形通过硬件仿真器转化为真实测试激励，测试响应再读回到仿真软件进行观察，能够灵活、快速的完成FPGA器件的配置和测试。该平台在国内首次实现了软硬件协同在线测试FPGA。在该平台支持下，我们成功完成了对各军、民用型号FPGA的测试任务。 本研究成果为国内自主研发FPGA器件提供了有力保障，具有重大科研与实践价值，成功解决了国外公司在FPGA测试技术上的垄断问题，帮助国产FPGA器件实现完全国产化。
上传时间： 2013-05-17
上传用户：wangyi39
本文提出一种基于PC104嵌入式工业控制计算机与现场可编程门阵列(FPGA)的PCB测试机的硬件控制系统设计方案。方案中设计高效高压控制电路，实现测试电压与测试电流的精确数字控制。选用双高压电子开关形式代替高压模拟电子开关，大幅度提高测试电压。采用多电源方式在低控制电压下实现对高压电子开关的控制。设计高速信号处理电路对测试信号进行处理，从硬件上提高系统测试速度。 本设计中选用Altera公司的现场可编程器(FPGA)EP1K50，利用EDA设计工具Synplify、Modelsim、QuartusⅡ以及Verilog硬件描述语言完成了控制系统的硬件设计及调试，解决了由常规电路难以实现的问题。
上传时间： 2013-06-04
上传用户：lizhen9880
论文首先介绍了SRAM型FPGA的典型代表XC4000系列的结构和主要特性，并对XC4000系列器件的配置模式和配置顺序做了简单介绍。根据XC4000系列器件各组成模块的功能和特点，可以将其分为可编程逻辑功能块(CLB)、输入输出功能块(IOB)、互连资源(IR)、可配置接口模块(CIM)和进位逻辑(CLM)等五大部分组成。 对于这五个功能模块，可以采用“分治法”分别考虑各个模块的测试问题。论文随后深入讨论了各模块的测试问题，由于RAM测试的特殊性，所以对函数发生器RAM模式的测试单独进行了讨论。
上传时间： 2013-06-29
上传用户：牛津鞋
本文分析了误码仪系统需求,制定出误码仪由误码测试子系统和人机界面子系统构成的总体结构图.提出采用FPGA进行误码测试子系统模块设计,提高了系统功能扩展性和系统的集成度,使用嵌入式操作系统进行系统应用软件设计提高系统实时性.研究了传统误码仪在误码测试子系统上设计方法,给出了伪随机码、人工码、误码插入、误码计算模块的设计原理,介绍了带同步保护的同步判决模块的设计方法,采用数据复合和数据分解技术,实现了高速人工码发送以及误码测试,还制定了子系统间的通信协议.设计了人机界面子系统硬件电路图,并详细介绍了人机界面子系统中显示模块、实时时钟模块、数据存储模块、串行RS232通信模块、键盘接口模块的硬件设计及其驱动程序的开发.介绍了Small RTOS51嵌入式操作系统的特点,运行条件,重要概念以及移植方法,提出了使用Small RTOS51嵌入式操作系统的原因.分析了系统应用软件需求,给出了基于Small RTOS51嵌入式操作系统任务创建方法,以及任务调度关系,详细介绍了各任务执行流程图.
上传时间： 2013-07-10
上传用户：yolo_cc
