（1）测试外部数据RAM： 根据我们定义的逻辑，外部RAM在数据空间中定义在0x8000－0xFFFF，共32k字，占据RAM中的低32K存储空间。提供2种测试方法，采用一种方式即可。 硬件仿真模式下，将目标板上电。 第一种方法：采用用程序测试实验 程序所在目录ex1_RAMTest。 该程序执行的功能是对外部数据RAM区0x8000－0xFFFF,从0x8000开始写并且读数据0x5555 。如果正常则写读下一个地址，直到 。如果正常则所有的地址操作完毕后，核心板的指示灯会变亮。否则，如果写入数据后，读出的不正确，则指示灯会不断闪烁。 在CCS2000中的操作如下： 1. Progect->Open,打开该目录中的工程文件。 2. Progect->Rebuild All,编译链接 3. File->Program 4. Debug->Go Main 5. Debug->RUN(快捷键F5) 如果正常可以看到灯在熄灭约4秒后变亮。（说明：对整个数据RAM区的操作时间其实很短，为便于观察，本程序中加入了延时）。 打开View->Memory ，然后填入地址0x8000,然后在PAGE栏选择DATA。点击确定，即可显示0x8000地址开始的数据，用户会发现从这个地址开始往后的数据均为刚被写入的0x5555。
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PC端发送3个数据 n0,n1,n2 n0=0,写，将n1写入n2地址中 n0=1，读，读出n1地址中的数据，n2不起作用，但必须有 收到一个字节后，将其地址值显示在数码管第1、2位上，数值显示在第5、6位上 读出一个字节后，将其地址值显示在数码管第1、2位上，读出的值显示在第5、6位 上
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32K FLASH读写 // 向FLASH中的0xA000单元写数据，然后读出
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51单片机读写nor flash 读出flash 的ID ，存储数据 地址线连接方法：使用573锁存地位地址 p2.0为高位地址，wr与rd控制读写
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机械设计,制造常用数据及标准规范实用手册 .PDF
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ITU-R BT.656数据协议
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