针对电子系统容易出现的热失效问题，论述在电子系统的热管理设计与验证中，对半导体器件结温的估算和测量方法。通过测量半导体器件内部二极管参数，来绘制二极管正向压降与其温度关系曲线，进而求解出器件的结温估算值，以指导热管理设计；采用热分布测量和极值测量来计算器件的实际结温，对热管理设计进行评估、验证。使用所述估算和测量方法，可到达±5%精确度的半导体结温测算，能够有效评估器件在特定电子系统中的热可靠性，为实现可靠热管理提供可信的数据分析基础。
上传时间： 2013-11-10
上传用户：jjq719719
针对野战光纤光路损耗介绍一种精密光功率测量方法，分析了+,-光电接收元件的+%,（光功率%光电流）特性，并建立了实际模型&设计的装置测量范围为%#)!)./（光功率的相对衰减值），经实践检验具有较好 的精度.
上传时间： 2013-11-20
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描述了以PIC16F877单片机为主控制器的压力检测系统，它主要以惰性气体作为压力传递介质，在地面完成井口气体压力的测量，然后通过井口压力的大小推算井下测压深度处压力大小。详细叙述了系统设计原理与软硬件的实现方法，整个系统包含数据采集、数据处理、数据存储和数据显示等。经过室内试验和现场试验验证，这种压力检测系统具有精度高、稳定性好、实时性强等优点，可满足测量现场环境的要求。
上传时间： 2013-11-09
上传用户：yimoney
要进行ps级时间测量，首先需要示波器的带宽和采样率不能太低，否则信号失真会带来测量误差。Agilent 的90000 系列示波器可以提供13GHz 的带宽以及40G/s的采样率，采样点的间隔可以达到25ps，再通过插值，单一通道的时间测量精度可以<5ps，初步提供了精确测量的可行性。
上传时间： 2013-11-05
上传用户：alibabamama
在当今国内工业中对尺寸的测量大多还是采用千分尺等落后的接触式的方法，不但效率不高而且精确度不高。文中讨论了线阵CCD用于尺寸测量的非常有效的非接触检测技术。本测量系统是以89C2051、TCD1206UD和ICL7135等芯片构成的，完成了由照明、成像、数据处理到显示等过程。本设计具有稳定可靠、测量精度高等特点，适用于各种高灵敏、高精度的检测。此外，本系统包括了LED显示，不仅价格便宜，而且测量结果方便可见，增加了本设计的实用性。
上传时间： 2013-11-06
上传用户：tanggm
本文分析了影响VA法高阻测量精度的主要因素，设计了以单片机为核心的高阻测量仪。采用加压浏流 的 方 案 ， 运用 双 屏蔽输入电缆、优选输入级器件、隔离等关健技术，使电阻浏量可达10160，电流测量可达10一”Aa
上传时间： 2013-10-30
上传用户：xiaojie
吉时利纳米技术测量手册：纳米科学的应用中的电子测量指南在纳米材料和器件的精确的低直流电和脉冲测量上提供了实际的帮助。它既可以作为参考也可以帮助理解实验室中观察到的低电流现象，同时提供了在低电流、高阻值、低电压和低阻值测量中理论和应用考虑的概括。
上传时间： 2013-10-12
上传用户：libenshu01
提出一种新型脉冲激光测距方法——自触发脉冲飞行时间激光测距方法。运用该方法有效解决了传统脉冲激光测距法中存在的提高测量精度和缩短测量时间两者之间的矛盾。对该方法及本质特点进行了详细描述和理论分析，并给出用于描述该方法的基本方程。其飞行时间测量系统的设计很大程度上决定了自触发脉冲激光测距的测量精度和测量速度。设计并实现了基于CPLD的自触发脉冲激光测距飞行时间测量系统。CPLD的使用提高了测量精度，并且结构简单，体积小，可靠性高，非常适合高性能便携式的激光测距仪。
上传时间： 2013-10-26
上传用户：lili123
在实际测量工作中，由于外界条件、仪器本身和观测者技术水平等的不同，必然导致对同一测量对象进行的若干次测量所得到的结果彼此不同，或在各观测值与其理论值之间仍存在差异。也就是说，测量结果含有误差是不可避免的。为了消除或减少误差，需要对误差的来源、性质及其产生和传播的规律进行研究，来解决测量中经常遇到的一些问题。例如，在一系列的观测值中如何确定最可靠值；如何来评定测量的精度；什么样的误差是被许可的，即如何确定误差的限度。所有这些问题都要运用误差理论来得到解决。
上传时间： 2013-11-04
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在半导体测试应用中获得最大吞吐量并最大程度提高低电流性能吉时利最新的半导体开关主机—— 707B六槽矩阵开关主机 和 708B单槽矩阵开关主机。这些新的主机专门为实验室和生产环境的半导体测试应用优化，具有极高的指令到连接速度。此应用笔记涉及直流和交流特性分析的开关系统配置，开关系统定时考虑，源和测量仪器的协调并提供应用实例。
上传时间： 2013-11-10
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