美国半导体分立器件型号命名方法 pdf版
标签： 美国 半导体分立器件 型号
上传时间： 2013-05-21
上传用户：eeworm
GB-T 249-1989 半导体分立器件型号命名方法
标签： GB-T 1989 249 半导体分立器件
上传时间： 2013-07-16
专辑类-杂志及论文专辑-19册-720M 美国半导体分立器件型号命名方法-1页-0.1M-pdf版.pdf
标签： M-pdf 0.1 美国
上传时间： 2013-05-19
上传用户：Duang2016
专辑类-国标类相关专辑-313册-701M GB-T-249-1989-半导体分立器件型号命名方法.pdf
标签： GB-T 1989 249
上传时间： 2013-06-06
上传用户：徐孺
国标类相关专辑 313册 701MGB-T 249-1989 半导体分立器件型号命名方法.pdf
标签：
上传时间： 2014-05-05
上传用户：时代将军
杂志及论文专辑 19册 720M美国半导体分立器件型号命名方法 1页 0.1M pdf版.pdf
该文档为功率半导体分立器件产业及标准化白皮书讲解文档，是一份很不错的参考资料，具有较高参考价值，感兴趣的可以下载看看………………
标签： 分立器件
上传时间： 2022-03-01
上传用户：shjgzh
西安谊邦电子 公司引进美国的先进半导体测试技术，在此基础上研制生产了YB6000系列半导体分立器件测试系统，该测试系统拥有功率大、速度快、精度高、测试种类全等技术特点，各项技术指标均达到国际领先水平。其雄厚的技术实力，多年的开发产品经验和独特严谨的设计方案使谊邦电子YB系列测试系统性能更加超群，品质更为可靠稳定。谊邦电子研发技术涉及高端集成电路测试、半导体分立器件测试和各种客户产品测试等领域。产品主要应用于军工、汽车、飞机、船舶制造、能源等行业领域。 西安谊邦凭借较强的技术实力和完善的科学管理，能够给用户提供完善的售前售后技术支持。科技创新、服务无限，是我们工作的宗旨。
标签： IGBT 测试 电子 半导体测试
上传时间： 2013-10-30
上传用户：yangqian
GB-T 12560-1990 半导体器件 分立器件分规范 (可供认证用)
标签： 12560 GB-T 1990 半导体器件
上传时间： 2013-06-16
专辑类-国标类相关专辑-313册-701M GB-T-12560-1990-半导体器件-分立器件分规范-可供认证用-.pdf
标签： 12560 GB-T 1990
上传时间： 2013-06-12
上传用户：h886166
