光纤测试

基于FPGA的实时数字化光纤传输方案

为了满足复杂环境下系统实时控制和高隔离性能的要求，论文提出了一种新颖的数字化光纤传输方案，先将模拟信号数字化，再进行数据处理，使信号能够通过光纤进行传输，最后在光纤接收端将有效数字信号提取出来，供后续电路使用...

标签： FPGA 实时数字光纤传输方案

上传时间： 2013-07-03

上传用户：Altman
基于FPGA的ADC并行测试方法研究

高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法，并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。　　本研究通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统，完成了音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent33220A任意信号发生器提供模拟激励信号，共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道，并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块，并行地实现了ADC参数的评估算法。在样本数分别为128和4096的实验条件下，对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估，被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明，通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块，可并行地实现对2个相同ADC的参数评估，减小单个ADC的平均测试时间。FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制，就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估，配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现，具有可行性，但由于噪声的影响，测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。

标签： FPGA ADC 并行测试方法研究

上传时间： 2013-06-07

上传用户：gps6888
硬件测试报告

硬件测试报告,做硬件的朋友可以看看. 硬件测试报告,做硬件的朋友可以看看.

标签： 硬件测试报告

上传时间： 2013-07-29

上传用户：fanboynet
C#环境的车牌认别系统源代码和30张测试图片

·详细说明：C#环境的车牌认别系统源代码和30张测试图片；本程序对以上的30汽车图片的认别定位分割等准确率达至100％。文件列表: sample ......\App.ico ......\AssemblyInfo.cs ......\bin ......\...\Debug ......\...\Release &

标签： 环境源代码测试车牌

上传时间： 2013-07-11

上传用户：changeboy
[测试书籍]ESSENTIALS OF ELECTRONIC TESTING FOR DIGITAL, MEMORY AND&nb

·[测试书籍]ESSENTIALS OF ELECTRONIC TESTING FOR DIGITAL, MEMORY AND MIXED-SIGNAL VLSI CIRCUITS

标签： nbsp ESSENTIALS ELECTRONIC DIGITAL

上传时间： 2013-07-21

上传用户：euroford
H.263编解码原程序及测试程序源码(含测试序列)

·详细说明：H.263编解码原程序及测试程序源码,含测试序列,很难得的测试程序源代码.文件列表: H.263编解码原程序及测试程序源码 ...............................\libr263 ...............................\.......\coder.c .................

标签： 263 编解码程序测试程序

上传时间： 2013-06-18

上传用户：ykykpb
采用G.729的语言实时通信DLL(含测试源代码)

·采用G.729的语言实时通信DLL(含测试源代码)

标签： 729 DLL 语言实时通信

上传时间： 2013-05-19

上传用户：西伯利亚狼
《电机测试技术》

·何秀伟《电机测试技术》

标签： 电机测试技术

上传时间： 2013-06-02

上传用户：chuckbassboy
数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计（影印版）

·书中包括的索引使你能够根据自己的需要，直接阅读你所关注的内容。主要内容包括：设计核心，关注嵌入核心和嵌入存储器；系统集成和超大规模集成电路的设计问题；AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计；内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST；虚拟测试套接字和隔离测试 ·重用设计，包括重用和隔离测试；用VSIA和IEEE P1500标准处理测试问题。书中穿插的整幅图解直接来自作者的教学材

标签： 数字集成电路嵌入式内核

上传时间： 2013-04-24

上传用户：sjb555
[测试书籍]An_introduction_to_mixed_signal_ic_test_and_measurement

·[测试书籍]An_introduction_to_mixed_signal_ic_test_and_measurement

标签： An_introduction_to_mixed_signal_i c_test_and_measurement 测试书籍

上传时间： 2013-04-24

上传用户：LouieWu