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一收多发

  • 手把手教你学单片机的C语言程序设计(一)

    手把手教你学单片机的C语言程序设计(一)

    标签: 手把手 单片机 C语言 程序设计

    上传时间: 2013-11-19

    上传用户:summery

  • ARINC429接口板的嵌入式实时软件设计

    摘要:采用单片机C语言作为编程语言,介绍一种基于DEI1016的四发八收智能型ARINC429接rl板的嵌人式实时软件设计方法;首先,简单地介绍了单片机C语言和开发流程,再详细地描述了软件的各个功能模块,最后总结了若干提高软件实时性的编程技巧和要点,这种设计方法,充分发挥了C语言在模块化、可读性、可维护性和可移植性上的优势,同时弥补了C语言执行效率不高的缺点。实践证明,用单片机C语言编写出的嵌人式软件能很好地满足接口板的高速数据传输功能的要求。关键词:DEI1016;单片机;C语言;实时性

    标签: ARINC 429 接口板 嵌入式

    上传时间: 2013-12-26

    上传用户:CSUSheep

  • 一种基于新型单片机的CCD驱动电路设计

    摘要:本文结合实例介绍了以新型单片机为核心设计CCD驱动系统的一种简明方法。该方法基于集成度高、超高速(单周期指令50ns)C8051F040单片机为核心,从根本上克服了传统单片机CCD驱动系统中驱动频率低的弱点。驱动脉冲由单片机的通用输入输出口产生,各路驱动脉冲间的时序关系由软件控制且精确可调,同时也智化了外围电路。这种方法具有简明、实用等优点。关键词:CCD;C8051F04;驱动频率

    标签: CCD 单片机 驱动 电路设计

    上传时间: 2013-11-07

    上传用户:牛津鞋

  • 用纯软件扩展单片机串行口的一种方法

    摘要:本文介绍一种用纯软件来扩展89C51单片机串行口的方法,详细说明了通过扫描发送、中断接收实现模拟串行通信的编程技巧。关键词:串行口;通信;89C51;单片机;扩展

    标签: 软件 扩展 单片机 串行口

    上传时间: 2013-11-16

    上传用户:gundan

  • 一种基于单片机STC89C58RD+的称重显示控制器

    一种基于单片机STC89C58RD+的称重显示控制器

    标签: STC 89 58 RD

    上传时间: 2013-12-21

    上传用户:钓鳌牧马

  • 一种基于MCS51的微型计算机数控系统设计

    本文开发出一套小型计算机数控系统。在硬件上,由上位机和下位机两部分构成。上位机采用PC机或工控机,主要实现与用户交互.,完成数据处理。下位机采用MCS-51单片机系统,主要实现通讯及强实时信号的处理。下位机控制软件使用了嵌入式实时操作系统μC/OS-II进行开放式数控系统的开发。软件设计部分,上位机采用Visual Basic为开发工具,下位机采用C51、51汇编。

    标签: MCS 51 微型计算机 数控

    上传时间: 2014-08-14

    上传用户:assef

  • 单片机控制温度的一种新型电烙铁

    摘要:介绍了一种采用单片机控制温度的新型电烙铁,给出了单片机控制系统的组成及工作原理。通过使用该电烙铁,可使操作更加便捷、安全,同时也可节约一部分能源。关键词:单片机;控制;电烙铁

    标签: 单片机 控制温度 电烙铁

    上传时间: 2013-10-15

    上传用户:moshushi0009

  • 一种高精度单斜率AD及其单片机设计

    一种高精度单斜率AD及其单片机设计 介绍了一种利用MSP430 F1121单片机的构成的采用类似于 技术的高精度的单斜率AD.!

    标签: 高精度 斜率 单片机设计

    上传时间: 2013-10-25

    上传用户:7676777

  • 一种基于C8051F340的电力监控系统

    本文主要介绍了一种基于C8051F340的电力监控系统。通过这个系统我们能实现电力参数的交流采样。通过LCD显示器显示频率、电压、电流的实时值, 在过压、欠压时进行声光报警。实践证明, 采用交流采样方法进行数据采集, 通过算法运算后获得的电压、电流、有效功率、功率因数等电力参数有较好的精确度和稳定性。

    标签: C8051F340 电力监控

    上传时间: 2013-11-15

    上传用户:花开无音

  • 一款USBkey用MCU电路早期失效问题初探

    我公司生产的 USBkey 产品所使用的MCU 电路,自2007 年9 月初USBkey 产品开始量产化后,我们对其部分产品做了电老化试验,发现该款电路早期失效问题达不到我们要求,上电以后一段时间内失效率为千分之一点五左右。为此,我们从去年10 月到今年2 月对所生产的产品(已发出的除外)全部进行了电老化筛选,通过这项工作发现了一些规律性的东西,对提高电子产品的安全可靠性有一定指导意义。2 试验条件的设定造成电路早期失效的原因很多,从 IC 设计到半导体生产工艺、电路封装、焊接装配等生产工序和生产设备、生产材料、生产环境及人为的因素都有可能是成因,作为电路的使用方不可能都顾及到,也不可控。通过分析,我们认为还是着眼于该款电路在完成半导体生产工艺后,在后部加工中所产生的早期失效问题更有针对性。,因此决定从电路的后部加工工序即封装、COS 软件以及产品SMT 加工工艺等方面入手,安排几种比对试验并取得试验数据,以期找出失效原因。

    标签: USBkey MCU 电路 失效

    上传时间: 2014-12-28

    上传用户:894898248