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特性测试仪

  • BT3C-G型频率特性测试仪技术说明书

    BT3C-G型频率特性测试仪技术说明书

    标签: C-G BT 频率特性测试仪 说明书

    上传时间: 2013-04-15

    上传用户:eeworm

  • BT3C-G型频率特性测试仪技术说明书.pdf

    专辑类-测试技术专辑-134册-1.93G BT3C-G型频率特性测试仪技术说明书.pdf

    标签: C-G BT 频率特性测试仪

    上传时间: 2013-06-02

    上传用户:lzm033

  • 基于FPGA的频率特性测试仪的研制

    频率特性测试仪(简称扫频仪)是一种测试电路频率特性的仪器,它广泛应用于无线电、电视、雷达及通信等领域,为分析和改善电路的性能提供了便利的手段。而传统的扫频仪由多个模块构成,电路复杂,体积庞大,而且在高频测量中,大量的分立元件易受温度变化和电磁干扰的影响。为此,本文提出了集成化设计的方法,针对可编程逻辑器件的特点,对硬件实现方法进行了探索。 本文对三大关键技术进行了深入研究: 第一,由扫频信号发生器的设计出发,对直接数字频率合成技术(DDS)进行了系统的理论研究,并改进了ROM压缩方法,在提高压缩比的同时,改进了DDS系统的杂散度,并且利用该方法实现了幅度和相位可调制的DDS系统-扫频信号发生器。 第二,为了提高系统时钟的工作频率,对流水线算法进行了深入的研究,并针对累加器的特点,进行了一系列的改进,使系统能在100MHz的频率下正常工作。 第三,从系统频率特性测试的理论出发,研究如何在FPGA中提高多位数学运算的速度,从而提出了一种实现多位BCD码除法运算的方法—高速串行BCD码除法;随后,又将流水线技术应用于该算法,对该方法进行改进,完成了基于流水线技术的BCD码除法运算的设计,并用此方法实现了频率特性的测试。 在研究以上理论方法的基础上,以大规模可编程逻辑器件EP1K100QC208和微处理器89C52为实现载体,提出了基于单片机和FPGA体系结构的集成化设计方案;以VerilogHDL为设计语言,实现了频率特性测试仪主要部分的设计。该频率特性测试仪完成扫频信号的输出和频率特性的测试两大主要任务,而扫频信号源和频率特性测试这两大主要模块可集成在一片可编程逻辑器件中,充分体现了可编程逻辑器件的优势。 本文首先对相关的概念理论进行了介绍,包括DDS原理、流水线技术等,进而提出了系统的总体设计方案,包括设计工具、语言和实现载体的选择,而后,简要介绍了微处理器电路和外围电路,最后,较为详细地阐述了两个主要模块的设计,并给出了实现方式。

    标签: FPGA 频率特性 测试 仪的研制

    上传时间: 2013-06-08

    上传用户:xiangwuy

  • 电路网络幅频特性测试仪电路网络幅频特性测试仪系统设计 课程设计

    电路网络幅频特性测试仪电路网络幅频特性测试仪系统设计 课程设计

    标签: 电路 特性测试仪 网络 系统设计

    上传时间: 2014-11-23

    上传用户:Altman

  • BT3C-G型频率特性测试仪技术说明书.pdf

    测试技术专辑 134册 1.93GBT3C-G型频率特性测试仪技术说明书.pdf

    标签:

    上传时间: 2014-05-05

    上传用户:时代将军

  • 基于单片机的频率特性测试仪

    应教051王会彦—基于单片机的频率特性测试仪这是一份非常不错的资料,欢迎下载,希望对您有帮助!

    标签: 单片机 频率特性测试仪

    上传时间: 2022-01-14

    上传用户:zhaiyawei

  • 简易频率特性测试仪Protel工程电路原理图及PCB文件

    简易频率特性测试仪Protel工程电路原理图及PCB文件

    标签: 频率特性测试仪 protel

    上传时间: 2022-02-26

    上传用户:zhanglei193

  • 基于STM32的简易电路特性测试仪设计 资料

    文章中的设计以 STM32 为数据处理与系统控制的核心,配合各种外围电路制作了一款高精度的简易电路特性测试仪,其优点在于采用了各种模块电路(电压跟随器电路、放大电路),供电电源电路使用 PCB 制版,电压波纹较小,进一步减小了误差。高精度、低功耗 DDS 芯片 AD9833 电路将产生标准 1kHz 频率的正弦波信信号,可进一步提高精度。测量方法采用电阻分压法,该方法简单且精度高,对仪器要求不高,便于使用。

    标签: stm32

    上传时间: 2022-04-30

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  • 基于单片机和FPGA的频率特性测试仪的设计

    摘要:该系统基于扫频外差基本原理,以单片机和FPGA构成的最小系统为控制核心,可在任意指定频段内测量被测网络的幅频和相频特性并显示相应曲线。系统分DDS扫频信号源、被测网络、幅度和相位检测、控制模块及幅频、相频特性曲线显示等部分,在100Hz-100kHz范围内可自动步进测量被测网络的幅须特性和相频特性并自动设置频段范围,观察不同频段内网络的幅须特性和相须特性,并在示波器上同时显示幅须曲或和相须由线。关键词:扫频测试;现场可编程门降列(FPGA);频率特性;直接数字式须率合成(DDS)频率特性是网络的性能最直观反映。频率特性测试仪是测量网络的幅频特性和相频特性,并显示相应曲线的一种快速、方便、动态、直观的测量仪器,可广泛应用于电子工程领域。该测试仪以扫频外差为基本原理,并以单片机和FPGA构成的最小系统为控制核心,很好地完成对有源双T网络进行频率在100Hz~l00kHz范围内的幅频响应和相频响应特性的测试,并实现在通用数字示波器上同时显示幅频和相频响应特性曲线。

    标签: 单片机 fpga 频率特性测试仪

    上传时间: 2022-07-23

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  • PSGKC-D高压开关测试仪

    PSGKC-D型开关机械特性测试仪,是我公司针对各种高压开关研制的一种通用型电脑智能化测试仪器。该仪器应用光电脉冲技术,单片计算机技术及可靠的抗电磁辐射技术,配以精确可靠的速度/距离传感器,可用于各种电压等级的真空、六氟化硫、少油、多油等高压开关的机械性参数的调试与测量。 公司:扬州品胜电气科技有限公司 地址:江苏宝应开发区安宜东路284号 电话:0514-88992611 传真:0514-88268181 88992611 手机:13382732611 13705255281 网址:http://www.yzpsdq.com 邮箱:88992611@yzpsdq.com QQ: 987006099 1014936215 联系人:张春华

    标签: PSGKC-D 高压开关 测试仪

    上传时间: 2013-10-15

    上传用户:脚趾头