atmel7s256使用IAR工具开发例程。测试芯片的MIPS性能。
上传时间： 2014-08-23
上传用户：xinyuzhiqiwuwu
重复测试芯片VCO输出的程序，用Python编辑，便于设计者测试
上传时间： 2017-02-14
上传用户：xmsmh
采用C8051F020单片机编写的汇编语言程序,用来测试芯片
上传时间： 2014-01-11
上传用户：guanliya
LC75823E_TEST[字符测试程序],主要是用来测试芯片是否工作正常.
上传时间： 2013-12-22
上传用户：上善若水
利用单片机与18B20温度测试芯片，所测试的温度精度为0.0625，显示采用4位数码管静态显示。实验调试能够正确得到室内温度。
上传时间： 2014-01-14
上传用户：weixiao99
在AT91RM9200下的一个测试芯片性能的很好的例子,MMU,ICATCH,DCATCH是否开启,如何对芯片速度的影响.
上传时间： 2017-07-20
上传用户：lwwhust
BU-61580芯片测试系统用于检测DDC公司的BU-61580系列芯片的总线协议功能和电气特性，筛选失效芯片，并具备芯片接口时序调整功能，可检验芯片在不同的接口环境和工作方式下的特殊表现。以Windows XP为开发平台，标准VC++为开发工具，针对该芯片设计一套测试系统。PCI总线接口的专用芯片测试卡能够方便的插入待测试的芯片，与之相应的测试系统能够设置芯片的访问时序，测试芯片工作于不同模式下的状态。实际应用表明，该测试系统具有测试界面灵活、简单、准确的特点，满足了用户的要求。
上传时间： 2015-01-03
上传用户：gxm2052
FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前广泛使用的一种可编程器件，FPGA的出现使得ASIC(Application Specific Integrated Circuits)产品的上市周期大大缩短，并且节省了大量的开发成本。目前FPGA的功能越来越强大，满足了目前集成电路发展的新需求，但是其结构同益复杂，规模也越来越大，内部资源的种类也R益丰富，但同时也给测试带来了困难，FPGA的发展对测试的要求越来越高，对FPGA测试的研究也就显得异常重要。 本文的主要工作是提出一种开关盒布线资源的可测性设计，通过在FPGA内部加入一条移位寄存器链对开关盒进行配置编程，使得开关盒布线资源测试时间和测试成本减少了99％以上，而且所增加的芯片面积仅仅在5％左右，增加的逻辑资源对FPGA芯片的使用不会造成任何影响，这种方案采用了小规模电路进行了验证，取得了很好的结果，是一种可行的测试方案。 本文的另一工作是采用一种FPGA逻辑资源的测试算法对自主研发的FPGA芯片FDP250K的逻辑资源进行了严格、充分的测试，从FPGA最小的逻辑单元LC开始，首先得到一个LC的测试配置，再结合SLICE内部两个LC的连接关系得到一个SLICE逻辑单元的4种测试配置，并且采用阵列化的测试方案，同时测试芯片内部所有的逻辑单元，使得FPGA内部的逻辑资源得完全充分的测试，测试的故障覆盖率可达100％，测试配置由配套编程工具产生，测试取得了完满的结果。
上传时间： 2013-06-11
上传用户：唐僧他不信佛
FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前广泛使用的一种可编程器件，FPGA的出现使得ASIC(Application Specific Integrated Circuits)产品的上市周期大大缩短，并且节省了大量的开发成本。目前FPGA的功能越来越强大，满足了目前集成电路发展的新需求，但是其结构同益复杂，规模也越来越大，内部资源的种类也R益丰富，但同时也给测试带来了困难，FPGA的发展对测试的要求越来越高，对FPGA测试的研究也就显得异常重要。 本文的主要工作是提出一种开关盒布线资源的可测性设计，通过在FPGA内部加入一条移位寄存器链对开关盒进行配置编程，使得开关盒布线资源测试时间和测试成本减少了99％以上，而且所增加的芯片面积仅仅在5％左右，增加的逻辑资源对FPGA芯片的使用不会造成任何影响，这种方案采用了小规模电路进行了验证，取得了很好的结果，是一种可行的测试方案。 本文的另一工作是采用一种FPGA逻辑资源的测试算法对自主研发的FPGA芯片FDP250K的逻辑资源进行了严格、充分的测试，从FPGA最小的逻辑单元LC开始，首先得到一个LC的测试配置，再结合SLICE内部两个LC的连接关系得到一个SLICE逻辑单元的4种测试配置，并且采用阵列化的测试方案，同时测试芯片内部所有的逻辑单元，使得FPGA内部的逻辑资源得完全充分的测试，测试的故障覆盖率可达100％，测试配置由配套编程工具产生，测试取得了完满的结果。
上传时间： 2013-06-29
上传用户：Thuan
单片机测试开发程式，IIC与单片机通信，测试芯片，往芯片寄存器写程式
上传时间： 2013-12-22
上传用户：王小奇
