LED驱动器可靠性测试
上传时间: 2014-12-24
上传用户:edward_0608
MCU:ATMEGA8515 Frequence: 16M 描述:利用已有CAN TEST V1.0电路板进行调试, 可靠性测试已通过,并发现8515外部中断不稳定 的原因是没有在INT0脚加上拉电阻,加上后已能 够稳定地运行 调试过程中发现SJA1000的首地址设置有误,改过 后,当CAN发送数据时,程序能进入中断了,但发现 中断是由出错报警中断引起的,估计与波特率设置 有关。 通过修改CDR的参数,以及更换16M晶振,现在已能 正常地收发送数据了
标签: Frequence ATMEGA 8515 TEST
上传时间: 2015-05-26
上传用户:agent
法雷奥valeo实验室可靠性测试招聘笔试题
上传时间: 2021-07-18
上传用户:jhwssjb
可靠性测试工程师前景和岗位介绍可靠性测试工程师前景和岗位介绍
上传时间: 2021-07-18
上传用户:jhwssjb
可靠性测试工程师招聘笔试题和答案.doc可靠性测试工程师招聘笔试题和答案.doc
上传时间: 2021-07-18
上传用户:jhwssjb
可靠性测试内容
标签: 可靠性
上传时间: 2021-11-24
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硬件可靠性相关测试国际标准及重点测试内容梳理,具体标准包含防水(IP68)、冲击、低温、跌落、高温、恒定湿热、交变湿热、温度湿度组合循环试验、盐雾、振动。
上传时间: 2021-11-20
上传用户:20125101110
嵌入式控制器软件安全性、可靠性测试方法及标准建议
上传时间: 2013-11-14
上传用户:萍水相逢
电解电容的可靠性测试
上传时间: 2013-10-14
上传用户:chengxin
这些是对(用 )于 书的来源文件" Linux Device Drivers" 。 在这里你(们)找到已经包括在书里的完全来源。 我尽可能地测试了他们, 但是, 可以(可能)有一些问题离开了, 尤其有 2.1.43 (当位于下面代码基础(底模)(是)连续不断变化时, 可靠性测试所有他们, 这是难) 。 尤其是, 你(们)可以(可能)找到具有" genksyms " 的一些问题, 其句法在核心的 2.0 和 2.1 版本之间改变了。 你(们)在 misc - progs 中找到的组件(模块)" 分配程序" 不同于我用章表示" Mmap 和 直接记忆体存取 " 在附近谈话的那个。 " 积极" 技术在现实世界中看起来有前途不, 所以我回到在" high_memory " 以后分配转动了记忆(存储器)。 看(见) misc - modules / 分配程序。 对(用 )于 细节的 README 。
上传时间: 2014-01-04
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