提出了一个考虑ＦＰ 效应的半导体材料参数测量方案。利用该方案可以在时域波形中，截取多个反射回峰，以提高材料参数提取的精确度。另外，考虑到多重反射对样品厚度的准确性要求较高，提出了一种有效的厚度优化方法。以ＧａＡｓ 为待测样品，利用上述方法精确提取了其折射率与消光系数谱.
上传时间： 2013-12-16
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选择陀螺仪时，需要考虑将最大误差源最小化。在大多数应用中，振动敏感度是最大的误差源。其它参数可以轻松地通过校准或求取多个传感器的平均值来改善。偏置稳定度是误差预算较小的分量之一。
上传时间： 2013-11-07
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采用MSP430 为本系统的核心，本系统的总体构成和功能是手持式仪表做为上位机,以若干个(32 个以内)温室内的MSP430F149 单片机为下位机,其间采用无线数据通信. 如图1 所示,各温室内的MSP430F149 单片机负责采集本温室温度、湿度、光照度和二氧化碳浓度等环境参数,并通过无线数据模块传送给上位机机,上位机机通过我们开发的软件,把传来的环境参数对各温室事先设定的最佳环境参数进行比较、分析和运算,向各温室的MSP430F149 单片机发出相应控制指令。
上传时间： 2013-12-11
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XM系列数字式显示调节仪按国家标准《工业过程测量和控制系统用数字式指示仪》生产，并采用了新颖、独特的线路设计原理，独创的结构形式。便其结构和线路均非常简单，因此可靠性高，抗震性好，使用维护方便。本仪表具有0～10mA或4～20mA恒流输出功能，可与执行机构组成简介的调节系统，或直配计算机组成自控系统无须再配变送器，为工业过程多参数控制提供了便利，同时具有二位式，三位式时间比例PID调节功能。本仪表适用于工业过程多种参数测量和控制系统。可与下列传感器、变送器配合使用或接受下列信号。用数字直接显示被测物理量。
上传时间： 2014-01-23
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上传时间： 2013-10-30
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