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  • 模拟集成电路三本圣经之一 拉扎维 第二版Design of Analog CMOS Integrated circuits(英文版)

    模拟CMOS IC 设计的最基本的三本书之一,另外两本是Allen和Gray的,当然也有人把Sansen的称为第四本。总之学习模拟集成电路必看的三本书。Design of Analog CMOS Integrated circuits

    标签: 模拟电路

    上传时间: 2022-04-17

    上传用户:kent

  • 模拟电路的世界级设计 Analog circuits World Class Designs

    Analog circuits World Class Designs:(模拟电路的世界级设计)

    标签: 模拟电路

    上传时间: 2022-07-21

    上传用户:

  • 基于FPGA动态重构的故障容错技术.rar

    可重构计算技术兼具通用处理器(General-Purpose Processor,GPP)和专用集成电路(Application Specific Integr—ated circuits,ASIC)的特点,既可以提供硬件高速的特性,又具有软件可以重新配置的特性。而动态部分可重构技术是可重构计算技术的最新进展之一。该技术的要点就是在系统正常工作的情况下,修改部分模块的功能,而系统其它模块能够照常运行,这样既节约硬件资源,又增强了系统灵活性。 可重构SoC既可以在处理器上进行编程又可以改变FPGA内部的硬件结构,这使得SoC系统既具有处理器善于控制和运算的特点,又具FPGA灵活的重构特点;由于处理器和FPGA硬件是在同一块硅片上,使得它们之间的通信宽带大大提高,这种平台很适合于容错算法的实现。 本文基于863计划项目;动态重构计算机的可信实现关键技术,重点研究应用于恶劣环境中FPGA自我容错的体系结构,提出了一套完整的SoC系统的容错设计方案,并研究其实现技术,设计实现了实现该技术的硬件平台和软件算法,并验证成功。 论文取得了如下的创新性研究成果: 1、设计了实现动态重构技术的硬件平台,包括高性能的FPGA(内含入式处理器PowcrPC)、PROM、SRAM、FLASH、串口通信等硬件模块。 2、说明了动态重构技术的设计规范和设计流程,实现动态重构技术。 3、提出了一种基于动态重构实现容错的方法,不需要外部处理器干预,由嵌入式处理器负责管理整个过程。 4、设计并实现了嵌入式处理器运行时需要的软件,主要有两个功能,首先是从CF卡中读入重构所需的配置文件,并将配置文件写进FPGA内部的配置存储器中,改变FPGA内部的功能。其次,是实现容错技术的算法。

    标签: FPGA 动态 容错技术

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:edrtbme

  • 基于FPGAHDL的随机读写I2C串行总线接口电路设计.rar

    I2C(Inter Integrated circuits)是Philips公司开发的用于芯片之间连接的串行总线,以其严格的规范、卓越的性能、简便的操作和众多带I2C接口的外围器件而得到广泛的应用并受到普遍的欢迎。 现场可编程门阵列(FPGA)设计灵活、速度快,在数字专用集成电路的设计中得到了广泛的应用。本论文主要讨论了如何利用Verilog/FPGA来实现一个随机读/写的I2C接口电路,实现与外围I2C接口器件E2PROM进行数据通信,实现读、写等功能,传输速率实现为100KBps。在Modelsim6.0仿真软件环境中进行仿真,在Xilinx公司的ISE9.li开发平台上进行了下载,搭建外围电路,用Agilem逻辑分析仪进行数据采集,分析测试结果。 首先,介绍了微电子设计的发展概况以及设计流程,重点介绍了HDL/FPGA的设计流程。其次,对I2C串行总线进行了介绍,重点说明了总线上的数据传输格式并对所使用的AT24C02 E2PROM存储器的读/写时序作了介绍。第三,基于Verilog _HDL设计了随机读/写的I2C接口电路、测试模块和显示电路;接口电路由同步有限状态机(FSM)来实现;测试模块首先将数据写入到AT24C02的指定地址,接着将写入的数据读出,并将两个数据显示在外围LED数码管和发光二极管上,从而直观地比较写入和输出的数据的正确性。FPGA下载芯片为Xilinx SPARTAN Ⅲ XC3S200。第四,用Agilent逻辑分析仪进行传输数据的采集,分析数据传输的时序,从而验证电路设计的正确性。最后,论文对所取得的研究成果进行了总结,并展望了下一步的工作。

    标签: FPGAHDL I2C 随机

    上传时间: 2013-06-27

    上传用户:liuchee

  • FPGA测试方法研究.rar

    FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前广泛使用的一种可编程器件,FPGA的出现使得ASIC(Application Specific Integrated circuits)产品的上市周期大大缩短,并且节省了大量的开发成本。目前FPGA的功能越来越强大,满足了目前集成电路发展的新需求,但是其结构同益复杂,规模也越来越大,内部资源的种类也R益丰富,但同时也给测试带来了困难,FPGA的发展对测试的要求越来越高,对FPGA测试的研究也就显得异常重要。 本文的主要工作是提出一种开关盒布线资源的可测性设计,通过在FPGA内部加入一条移位寄存器链对开关盒进行配置编程,使得开关盒布线资源测试时间和测试成本减少了99%以上,而且所增加的芯片面积仅仅在5%左右,增加的逻辑资源对FPGA芯片的使用不会造成任何影响,这种方案采用了小规模电路进行了验证,取得了很好的结果,是一种可行的测试方案。 本文的另一工作是采用一种FPGA逻辑资源的测试算法对自主研发的FPGA芯片FDP250K的逻辑资源进行了严格、充分的测试,从FPGA最小的逻辑单元LC开始,首先得到一个LC的测试配置,再结合SLICE内部两个LC的连接关系得到一个SLICE逻辑单元的4种测试配置,并且采用阵列化的测试方案,同时测试芯片内部所有的逻辑单元,使得FPGA内部的逻辑资源得完全充分的测试,测试的故障覆盖率可达100%,测试配置由配套编程工具产生,测试取得了完满的结果。

    标签: FPGA 测试 方法研究

    上传时间: 2013-06-11

    上传用户:唐僧他不信佛

  • 随机读写I2C串行总线接口电路设计

    I2C(Inter Integrated circuits)是Philips公司开发的用于芯片之间连接的串行总线,以其严格的规范、卓越的性能、简便的操作和众多带I2C接口的外围器件而得到广泛的应用并受到普遍的欢迎。 现场可编程门阵列(FPGA)设计灵活、速度快,在数字专用集成电路的设计中得到了广泛的应用。本论文主要讨论了如何利用Verilog/FPGA来实现一个随机读/写的I2C接口电路,实现与外围I2C接口器件E2PROM进行数据通信,实现读、写等功能,传输速率实现为100KBps。在Modelsim6.0仿真软件环境中进行仿真,在Xilinx公司的ISE9.li开发平台上进行了下载,搭建外围电路,用Agilem逻辑分析仪进行数据采集,分析测试结果。 首先,介绍了微电子设计的发展概况以及设计流程,重点介绍了HDL/FPGA的设计流程。其次,对I2C串行总线进行了介绍,重点说明了总线上的数据传输格式并对所使用的AT24C02 E2PROM存储器的读/写时序作了介绍。第三,基于Verilog _HDL设计了随机读/写的I2C接口电路、测试模块和显示电路;接口电路由同步有限状态机(FSM)来实现;测试模块首先将数据写入到AT24C02的指定地址,接着将写入的数据读出,并将两个数据显示在外围LED数码管和发光二极管上,从而直观地比较写入和输出的数据的正确性。FPGA下载芯片为Xilinx SPARTAN Ⅲ XC3S200。第四,用Agilent逻辑分析仪进行传输数据的采集,分析数据传输的时序,从而验证电路设计的正确性。最后,论文对所取得的研究成果进行了总结,并展望了下一步的工作。

    标签: I2C 随机 读写 串行总线接口

    上传时间: 2013-06-08

    上传用户:再见大盘鸡

  • FPGA测试方法研究

    FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前广泛使用的一种可编程器件,FPGA的出现使得ASIC(Application Specific Integrated circuits)产品的上市周期大大缩短,并且节省了大量的开发成本。目前FPGA的功能越来越强大,满足了目前集成电路发展的新需求,但是其结构同益复杂,规模也越来越大,内部资源的种类也R益丰富,但同时也给测试带来了困难,FPGA的发展对测试的要求越来越高,对FPGA测试的研究也就显得异常重要。 本文的主要工作是提出一种开关盒布线资源的可测性设计,通过在FPGA内部加入一条移位寄存器链对开关盒进行配置编程,使得开关盒布线资源测试时间和测试成本减少了99%以上,而且所增加的芯片面积仅仅在5%左右,增加的逻辑资源对FPGA芯片的使用不会造成任何影响,这种方案采用了小规模电路进行了验证,取得了很好的结果,是一种可行的测试方案。 本文的另一工作是采用一种FPGA逻辑资源的测试算法对自主研发的FPGA芯片FDP250K的逻辑资源进行了严格、充分的测试,从FPGA最小的逻辑单元LC开始,首先得到一个LC的测试配置,再结合SLICE内部两个LC的连接关系得到一个SLICE逻辑单元的4种测试配置,并且采用阵列化的测试方案,同时测试芯片内部所有的逻辑单元,使得FPGA内部的逻辑资源得完全充分的测试,测试的故障覆盖率可达100%,测试配置由配套编程工具产生,测试取得了完满的结果。

    标签: FPGA 测试 方法研究

    上传时间: 2013-06-29

    上传用户:Thuan

  • [测试书籍]ESSENTIALS OF ELECTRONIC TESTING FOR DIGITAL, MEMORY AND&nb

    ·[测试书籍]ESSENTIALS OF ELECTRONIC TESTING FOR DIGITAL, MEMORY AND MIXED-SIGNAL VLSI circuits 

    标签: nbsp ESSENTIALS ELECTRONIC DIGITAL

    上传时间: 2013-07-21

    上传用户:euroford

  • 关于FPGA流水线设计的论文

    关于FPGA流水线设计的论文\r\nThis work investigates the use of very deep pipelines for\r\nimplementing circuits in FPGAs, where each pipeline\r\nstage is limited to a single FPGA logic element (LE). The\r\narchitecture and VHDL design of a parameterized integer\r\na

    标签: FPGA 流水线 论文

    上传时间: 2013-09-03

    上传用户:wl9454

  • [模拟和数字电子电路基础].Agarwal.&.Lang.(2005).Foundations.of.Analog.and.Digital.Electronic.circuits

    模拟和数字电子电路基础

    标签: Foundations Electronic circuits Agarwal

    上传时间: 2013-11-15

    上传用户:fdfadfs