实用数字电路手册：TTL CMOS ECL HTL
标签： CMOS TTL ECL HTL
上传时间： 2013-07-11
上传用户：eeworm
标准数字电路 54-74 TTL 全系列数据手册(中文)
标签： TTL 54 74 标准数字
上传时间： 2013-06-13
标准集成电路数据手册--TTL电路增补本
标签： TTL 标准 数据手册 集成电路
上传时间： 2013-04-15
标准集成电路数据手册--TTL电路
上传时间： 2013-05-19
专辑类-器件数据手册专辑-120册-2.15G 标准集成电路数据手册-TTL电路-795页-12.5M.pdf
标签： 12.5 TTL 795
上传时间： 2013-04-24
上传用户：lifevast
专辑类-器件数据手册专辑-120册-2.15G 标准数字电路-54-74-TTL-全系列数据手册-中文-795页-26.9M.pdf
标签： 26.9 TTL 795
上传用户：y307115118
专辑类-器件数据手册专辑-120册-2.15G 标准集成电路数据手册-TTL电路增补本-690页-10.3M.pdf
标签： 10.3 TTL 690
上传时间： 2013-06-03
上传用户：gcs333
专辑类-器件数据手册专辑-120册-2.15G 实用数字电路手册：TTL-CMOS-ECL-HTL-923页-8.2M.pdf
标签： TTL-CMOS-ECL-HTL 923 8.2
上传用户：yangmars
通常以为TTL门的速度高于“CMOS门电路。影响TTL门电路工作速度的主要因素是电路内部管子的开关特性、电路结构及内部的各电阻数值。电阻数值越大，作速度越低。管子的开关时间越长，门的工作速度越低。门的速度主要体现在输出波形相对于输入波形上有“传输延时”tpd。将tpd与空载功耗P的乘积称“速度-功耗积”，做为器件性能的一个重要指标，其值越小，表明器件的性能越 好（一般约为几十皮（10-12）焦耳）。与TTL门电路的情况不同，影响CMOS电路工作速度的主要因素在于电路的外部，即负载电容CL。CL是主要影响器件工作速度的原因。由CL所决定的影响CMOS门的传输延时约为几十纳秒。
标签： CMOS TTL 电路
上传时间： 2013-11-22
上传用户：DE2542
USB转TTL原理图 PL2303
标签： USB TTL 原理图
上传时间： 2013-10-31
上传用户：13162218709
