随着嵌入式系统的发展、嵌入式应用的不断增长以及嵌入式系统复杂性不断提高，嵌入式软件的规模和复杂性也不断提高。在目前的嵌入式系统开发中间，软件开发占80％以上的工作量，嵌入式软件的质量和开发周期对产品的最终质量和上市时间起到决定性的影响。因此，为了保持产品竞争力，支持用户对嵌入式设备进行快速、高效的软件开发，嵌入式的开发人员迫切需要更加强大的调试技术和手段来为开发复杂的嵌入式应用提供帮助；同时，强有力的嵌入式软件开发工具也是基本的必备条件。 本文结合ARM公司RVDS集成开发环境中调试模块组成部分Event Viewer系统的开发，实现了对通过原始数据源采集到的CoreSight跟踪数据的完整实时解析，并最终在显示模块中将其包含的信息以可视化的形式直观地展现给用户，以供后续的程序性能分析和嵌入式软件系统调试。研究了与本课题相关的一些技术，包括CoreSight调试体系结构、嵌入式常见调试技术、Eclipse平台体系架构及其插件扩展点技术。在研究嵌入式集成开发环境国内外现状及其发展趋势的基础上，结合Event Viewer系统的整体需求，介绍了系统的总体设计及其功能模块划分，并给出了系统的第三方扩展设计。讨论了系统解析模块的设计与实现。在分析CoreSight跟踪数据解析流程的基础上，对系统中解析模块进行了详细设计，并完成了基于ITM数据流的解析实现。结合系统的功能需求和解析模块的设计，本文利用Eclipse插件扩展点机制，划分解析模块提供对外扩展，实现了系统向第三方产品提供商提供扩展接口的功能，第三方可以在此基础上提供自己的解析处理。利用Eclipse View扩展点和SWT/JFace技术，实现了对跟踪数据的前台展示，包括Text、Event、Analog三种类型；本文着重讨论了Analog展示部分的详细设计和实现，将解析后得到的Analog数据信息以实时曲线图的形式展现给客户，提供对Analog数据变化趋势的直观描述。
标签：
ARMCoreSight
调试技术
上传时间：
2013-04-24
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