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·书中包括的索引使你能够根据自己的需要，直接阅读你所关注的内容。主要内容包括：设计核心，关注嵌入核心和嵌入存储器；系统集成和超大规模集成电路的设计问题；AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计；内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST；虚拟测试套接字和隔离测试 ·重用设计，包括重用和隔离测试；用VSIA和IEEE P1500标准处理测试问题。 书中穿插的整幅图解直接来自作者的教学材
上传时间： 2013-04-24
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·JPEG2000库源代码(最新的JPEG2000标准源代码)文件列表: libjasper .........\base .........\....\jas_cm.c .........\....\jas_debug.c .........\....\jas_getopt.c .........\....\jas
上传时间： 2013-05-21
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