stm32f103zet6最小系统 引脚全引出方案stm32f103zet6最小系统 引脚全引出方案
标签： stm32f103zet6 最小系统
上传时间： 2022-01-05
上传用户：XuVshu
本文首次设计并验证了基于macom三合一芯片设计的光模块电路,该电路旨在提供一种满足SFF-8472中规定的数字诊断功能的低成本SFP+模块。电路采用激光器驱动、限幅放大器、控制器以及时钟恢复单元集成的单芯片,在保证高精度数字诊断功能基础上,实现了低成本高可靠的特点。该电路在光接收接口组件与激光器驱动和限幅放大器单元的限幅放大器部分之间接入滤波器来提高模块的灵敏度及信号质量。在控制器单元的数字电位器的引脚上采用外加电阻的方式避免出现上电不发光的故障问题。该研究结果为下一代SFP-DD光模块设计与开发工作,奠定了一定的理论与实践基础。This paper designs and validates the optical module circuit based on the MACOM Trinity chip for the first time.This circuit aims to provide a low-cost SFP module which meets the digital diagnosis function specified in SFF-8472.The circuit uses a single chip integrated with laser driver,limiting amplifier,controller and clock recovery unit.On the basis of ensuring high precision digital diagnosis function,it achieves the characteristics of low cost and high reliability.The circuit connects a filter between the optical receiving interface module and the limiting amplifier part of the laser driver and limiting amplifier unit to improve the sensitivity and signal quality of the module.The pin of the digital potentiometer in the controller unit is equipped with an external resistance to avoid the problem of power failure.The research results lay a theoretical and practical foundation for optical module design in high-speed data center.
上传时间： 2022-04-03
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stm32f407引脚分配表，适合所有需要学习者。
标签： stm32
上传时间： 2022-04-07
上传用户：zhaiyawei
无锡平芯微PW4054锂电池充电芯片，PW4054丝印LTH7LTH7电路图：
上传时间： 2022-04-19
上传用户：jiabin
stm32f103zet6引脚说明 各引脚功能
标签： stm32f103zet6 说明
上传时间： 2022-05-20
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此文档是STM32F407开发板引脚介绍文档
标签： STM32F407
上传时间： 2022-05-31
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怎样判断IGBT MOS管的好坏？怎么检测它的引脚？IGBT1、判断极性首先将万用表拨在R×1KΩ 挡，用万用表测量时， 若某一极与其它两极阻值为无穷大，调换表笔后该极与其它两极的阻值仍为无穷大， 则判断此极为栅极（G ）。其余两极再用万用表测量， 若测得阻值为无穷大， 调换表笔后测量阻值较小。在测量阻值较小的一次中，则判断红表笔接的为集电极（ C）；黑表笔接的为发射极（E）。2、判断好坏将万用表拨在R×10KΩ 挡，用黑表笔接IGBT 的集电极（C），红表笔接IGBT 的发射极（ E），此时万用表的指针在零位。用手指同时触及一下栅极（ G）和集电极（C），这时IGBT 被触发导通，万用表的指针摆向阻值较小的方向，并能站住指示在某一位置。然后再用手指同时触及一下栅极（ G）和发射极（ E），这时IGBT 被阻断，万用表的指针回零。此时即可判断IGBT 是好的。3、注意事项任何指针式万用表皆可用于检测IGBT。注意判断IGBT 好坏时，一定要将万用表拨在R×10KΩ 挡，因R×1KΩ 挡以下各档万用表内部电池电压太低，检测好坏时不能使IGBT 导通，而无法判断IGBT 的好坏。此方法同样也可以用于检测功率场效应晶体管（ P-MOSFET ）的好坏。现在经常要检测MOS 管了，转几篇MOS 管的检测方法，以备随时观摩！用万用表检测MOS 开关管好坏的方法一、MOS 开关管针脚判断：在电脑上， MOS 管都是N 沟道增强型的MOSFET 开关管， 大部分都采用TO－220F 封装，其针脚判断方法是：将针脚向下，印有型号的面向自己，左边的是栅极，中间是漏极，右边是源极。
上传时间： 2022-06-22
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RTD2660-液晶驱动IC引脚功能
上传时间： 2022-07-12
上传用户：zhaiyawei
8253功能表，主要介绍8253的引脚及其各引脚的接线方法
标签： 8253
上传时间： 2013-04-24
上传用户：as275944189
随着集成电路的设计规模越来越大，FPGA为了满足这种设计需求，其规模也越做越大，传统平面结构的FPGA无法满足实际设计需求。首先是硬件设计上的很难控制，其次就是计算机软件面临很大挑战，所有复杂问题全部集中到布局布线(P&R)这一步，而实际软件处理过程中，P&R所占的时间比例是相当大的。为了缓解这种软件和硬件的设计压力，多层次化结构的FPGA得以采用。所谓层次化就是可配置逻辑单元内部包含多个逻辑单元(相对于传统的单一逻辑单元)，并且内部的逻辑单元之间共享连线资源，这种结构有利于减少芯片面积和提高布通率。与此同时，FPGA的EDA设计流程也多了一步，那就是在工艺映射和布局之间增加了基本逻辑单元的装箱步骤，该步骤既可以认为是工艺映射的后处理，也可认为是布局和布线模块的预处理，这一步不仅需要考虑打包，还要考虑布线资源的问题。装箱作为连接软件前端和后端之间的桥梁，该步骤对FPGA的性能影响是相当大的。 本文通过研究和分析影响芯片步通率的各种因素，提出新的FPGA装箱算法，可以同时减少装箱后可配置逻辑单元(CLB)外部的线网数和外部使用的引脚数，从而达到减少布线所需的通道数。该算法和以前的算法相比较，无论从面积，还是通道数方面都有一定的改进。算法的时间复杂度仍然是线性的。与此同时本文还对FPGA的可配置逻辑单元内部连线资源做了分析，如何设计可配置逻辑单元内部的连线资源来达到即减少面积又保证芯片的步通率，同时还可以提高运行速度。 另外，本文还提出将电路分解成为多块，分别下载到各个芯片的解决方案。以解决FPGA由于容量限制，而无法实现某些特定电路原型验证。该算法综合考虑影响多块芯片性能的各个因数，采用较好的目标函数来达到较优结果。
上传时间： 2013-04-24
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