用MATLAB仿真AD设计中的DNL和INL计算
上传时间： 2017-06-11
上传用户：hewenzhi
模拟转换器性能不只依赖分辨率规格 大量的模数转换器(ADC)使人们难以选择最适合某种特定应用的ADC器件。工程师们选择ADC时，通常只注重位数、信噪比(SNR)、谐波性能，但是其它规格也同样重要。本文将介绍ADC器件最易受到忽视的九项规格，并说明它们是如何影响ADC性能的。 1. SNR比分辨率更为重要。 ADC规格中最常见的是所提供的分辨率，其实该规格并不能表明ADC器件的任何能力。但可以用位数n来计算ADC的理论SNR： 不 过工程师也许并不知道，热噪声、时钟抖动、差分非线性(DNL)误差以及其它参数异常都会限制ADC器件的SNR。对于高性能高分辨率转换器尤其如此。一 些数据表提供有效位数(ENOB)规格，它描述了ADC器件所能提供的有效位数。为了计算ADC的ENOB值，应把测量的SNR值放入上述公式，并求解 n。
上传时间： 2014-12-22
上传用户：z240529971
测量结果分析ADC的静态特性 码密度统计方法
上传时间： 2019-05-22
上传用户：guxian0@sina.com
以单片机控制A/D转换器TLC549为例,对A/D转换器的主要技术指标进行了分析研究,在Proteus平台下,完成了A/D转换电路的构建,采用器件工作时序方式进行程序编写,借助仿真图表、虚拟仪器等工具对A/D转换的数据进行测量并对失调误差、增益误差、微分非线性、积分非线性和转换时间等重要参数进行了详细分析。结果表明:使用Proteus软件可对A/D转换过程进行定性分析,将抽象的A/D转换器技术指标直观化、形象化展现出来,有助于学生更好地理解A/D转换过程。The main technical indicators of A/D converter were analyzed and studied with an example from A/D converter TLC2543 which is controlled by using SCM.It was completed the construction of the A/D converter circuit under the Proteus software.The programming based on the operation sequence of the chip is put forward.With the aid of the simulation tools such as virtual instrument,simulation charts provided by Proteus,the important parameters of circuit such as offset error,gain error,differential nonlinearity(DNL),integral nonlinearity (INL) and conversion time are analyzed detailedly.Simulation results show that the A/D conversion process can be qualitatively analyzed and visualized the abstract indicators of A/D.The system can help students better to understand the SCM conversion process.
上传时间： 2022-04-04
上传用户：
AD5791是一款单通道、20位、无缓冲电压输出DAC，采用最高33V的双极性电源供电。正基准电压输入范围为4V至VDD–2.5V，负基准电压输入范围为VSS + 2.5 V至0V。相对精度最大值为±1 LSB，保证工作单调性，微分非线性(DNL)最大值为±1 LSB。特性分辨率:1ppm积分非线性(INL):1ppm噪声谱密度:7.5nV/√Hz长期线性稳定性:0.19 LSB温度漂移:<0.05 ppm/°C建立时间:1μs毛刺脉冲:1 nV-s工作温度范围:-40°C至125°C20引脚TSSOP封装宽电源电压范围:最高达±16.5V35 MHz施密特触发数字接口1.8 V兼容数字接口
上传时间： 2022-04-28
上传用户：XuVshu
随着数字信号处理技术和数字电路工作速度的提高，以及对于系统灵敏度等要求的不断提高，对于高速、高精度的ADC、DAC的指标都提出了很高的要求。比如在移动通信、图像采集等应用领域中，一方面要求ADC有比较高的采样率以采集高带宽的输入信号，另一方面又要有比较高的位数以分辨细微的变化。因此，保证ADC/DAC在高速采样情况下的精度是一个很关键的问题。ADC/DAC芯片的性能测试是由芯片生产厂家完成的，需要借助昂贵的半导体测试仪器，但是对于板级和系统级的设计人员来说，更重要的是如何验证芯片在板级或系统级应用上的真正性能指标。ADC的主要参数ADC的主要指标分为静态指标和动态指标2大类。静态指标主要有：Differ ential Non-Li nearity（DNL）ntegral Non-Li nearity（INL）Of fset Error ull Scale Gain Error动态指标主要有：
上传时间： 2022-06-19
上传用户：
