这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍，在此基础上，结合ARM7TDMI详细介绍了的JTAG调试原理。
标签： BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE ACCESS JTAG
上传时间： 2016-05-24
上传用户：qilin
BOUNDARY-SCAN Description file (BSD) for the AT91SAM7X256 in LQFP package
标签： BOUNDARY-SCAN Description package file
上传时间： 2013-12-11
上传用户：小鹏
BOUNDARY-SCAN Description file (BSD) for the AT91SAM7X256, AT91SAM7X128, AT91SAM7XC256, AT91SAM7XC128 in BGA package.
标签： SAM AT 91 BOUNDARY-SCAN
上传时间： 2016-05-29
上传用户：lyy1234
这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍，在此基础上，结合ARM7TDMI详细介绍了的JTAG调试原理。 这篇文章主要是总结了前段时间的一些心得体会，希望对想了解ARM JTAG调试的网友们有所帮助。我个人对ARM JTAG的理解还不是很透彻，在文章中，难免会有偏失和不准确的地方，希望精通JTAG调试原理的大侠们不要拍砖，有什么问题提出来，我一定尽力纠正。同时也欢迎对ARM JTAG调试感兴趣的朋友们一起交流学习。
标签： BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE ACCESS JTAG
上传时间： 2016-06-22
上传用户：kikye
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and BOUNDARY-SCAN Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批准並且標準化，所以，IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構。
标签： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上传时间： 2016-08-16
上传用户：sssl
This application note explains the XC9500™/XL/XV Boundary Scan interface anddemonstrates the software available for programming and testing XC9500/XL/XV CPLDs. Anappendix summarizes the iMPACT software operations and provides an overview of theadditional operations supported by XC9500/XL/XV CPLDs for in-system programming.
上传时间： 2013-11-15
上传用户：fengweihao158@163.com
This application note explains the XC9500™/XL/XV Boundary Scan interface anddemonstrates the software available for programming and testing XC9500/XL/XV CPLDs. Anappendix summarizes the iMPACT software operations and provides an overview of theadditional operations supported by XC9500/XL/XV CPLDs for in-system programming.
上传时间： 2013-11-01
上传用户：南国时代
可测试性设计（Design-For-Testability，DFT）已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成部分。它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑提高芯片的可测试性。在高性能通用 CPU 的设计中，可测试性设计技术得到了广泛的应用。本文结合几款流行的 CPU，综述了可应用于通用 CPU 等高性能芯片设计中的各种可测试性方法，包括扫描设计（Scan Design），内建自测试（Built-In Self-Test，BIST），测试点插入（Test Point Insertion），与 IEEE 1149.1标准兼容的边界扫描设计（Boundary Scan Design，BSD）等技术。
上传时间： 2021-10-15
上传用户：
IEEE1149.1的产生1985年由IBM、AT&T、Texas Instruments、Philips Electronics NV、Siemens、Alcatel和Ericsson等公司成立的JETAG（Joint European Test Action Group）提出了边界扫描技术。1986年由于其它地区的一些公司的加入，JETAG改名为JTAG。1988年JTAG提出了标准的边界扫描体系结构，名称叫BOUNDARY-SCAN Architecture Standard Proposal，Version2.0，1990年IEEE正式承认了JTAG标准，经过补充和修订以后命名命名为IEEE1149.1-90。同年又提出了BSDL（Boundary Scan Description Lauguage，边界扫描描述语言）。后来成为IEEE1149.1-93标准的一部分。
标签： jtag
上传时间： 2022-07-06
上传用户：canderile
VIP专区-嵌入式/单片机编程源码精选合集系列（39）资源包含以下内容：1. 这是有关SPI总线的一段读写程序.2. 这是一段MAX7219的驱动C51源程序.3. 利用msp430的通用I/O端口模拟I2c协议的源代码.4. 超级下载软件(progisp ver1.1)包括并口下载器与usb isp下载器的详细制作资料.5. MCS51产单片机上实现的tcp/ip,很全的哦,需要的可以参考一下..6. 嵌入式系统图形用户界面编程.7. 05嵌入式大会的部分演讲稿.8. 51系列对CH375模块读写.9. test for boundary scan and CPLD ics..10. 这是我个人再学习ARM7s3c2410的 时候用到的试验代码.11. 本人水品有限.12. 是在不好意思.13. 入门试验代码.14. pxros的使用说明.15. 在NIOS中利用C语言模拟I2C总线时序.16. ALTERA NIOS处理器实验.17. ALTERA NIOS处理器实验.18. ALTERA NIOS处理器实验.19. ALTERA NIOS处理器实验.20. ALTERA NIOS处理器实验.21. 随着高性能计算的需求.22. ADS1.2是一个使用方便的集成开发环境.23. AVR单片机嵌入式操作系统原代码.24. 有关rtos的书.25. 重要的汇编语言编程......和大家一起分享.26. AT91M55800A材料-BasicTimer.27. I2c代码.28. WINDOWS系统下灰度的BMP图片转换成黑白图片..29. 在WINDOWS CE.NET 系统中读RDP连接的用户名的密码..30. 嵌入式实时操作系统μCOS-在ARM上的移植应用.31. 在s3c44b0x运行的俄罗斯方块游戏 DOS参考代码.32. uCOS-II在C51下的一个完整的LCD项目源码.33. 石子归并问题：在一个圆形操场的四周摆放着N堆石子(N<= 100),现要将石子有次序地合并成一堆.规定每次只能选取相邻的两堆合并成新的一堆,并将新的一堆的石子数,记为该次合并的得分.编一程序,由.34. 单片机及嵌入式系统web实现的文章 很好的：MCU应用系统与Internet连接的一种新技术.35. 单片机发展趋势的文章： 从Cygnal C8051F看8位单片机发展之路 好.36. usb host在ARM7上的实现.37. 对arm300的一些简单的试验做了详细地说明和讲解.38. arm技术手册.39. arm7上开发usb的文档,说得非常好.40. 一个关于s1d13806的应用程序.
上传时间： 2013-04-15
上传用户：eeworm
