本资料包含完整的GJB150A-2009 军用装备实验室环境试验方法GJB150A-2009中华人民共和国国家军用标准代替GJB150-1986GJB150.1A-2009 军用装备实验室环境试验方法第1部分:通用要求（代替GJB150.1-86）GJB150.2A-2009 军用装备实验室环境试验方法第2部分:低气压（高度）试验（代替GJB150.2-86）GJB150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法GJB150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方法GJB150.5A-2009 军用装备实验室环境试验方法GJB150.7A-2009 军用装备实验室环境试验方法第7部分:太阳辐射试验（代替GJB150.7-86）GJB150.8A-2009 军用装备实验室环境试验方法第8部分:淋雨试验（代替GJB150.8-86）GJB150.9A-2009 军用装备实验室环境试验方法第9部分:湿热试验（代替GJB150.9-86）GJB150.10A-2009 军用装备实验室环境试验方法第GJB150.11A-2009 军用装备实验室环境试验方法第11部分 盐雾试验（代替GJB150.11-86）GJB150.12A-2009 军用装备实验室环境试验方法第12部分:砂尘试验（代替GJB150.12-86）GJB150.13A-2009 军用装备实验室环境试验方法第GJB150.14A-2009 军用装备实验室环境试验方法第14部分:浸渍试验（代替GJB150.14-86）GJB150.15A-2009 军用装备实验室环境试验方法GJB150.16A-2009 军用装备实验室环境试验方法第16部分振动试验（代替GJB150.16-86）GJB150.17A-2009 军用装备实验室环境试验方法第17部分:噪声试验（代替GJB150.17-86）GJB150.18A-2009 军用装备实验室环境试验方法GJB150.20A-2009 军用装备实验室环境试验方法第20部分:炮击振动试验（代替GJB150.20-86）GJB150.21A-2009 军用装备实验室环境试验方法第21部分:风压试验（代替GJB150.21-87）GJB150.22A-2009 军用装备实验室环境试验方法第22部分:积冰/冻雨试验（代替GJB150.22-87）GJB150.23A-2009 军用装备实验室环境试验方法第23部分:倾斜和摇摆试验（代替GJB150.23-91）GJB150.24A-2009 军用装备实验室环境试验方法GJB150.25A-2009 军用装备实验室环境实验方法GJB150.26A-2009 军用装备实验室环境试验方法第GJB150.27A-2009 军用装备实验室环境实验方法GJB150.28A-2009 军用装备实验室环境试验方法GJB150.29A-2009 军用装备实验室环境试验方法第29部分:弹道冲击试验
标签： 实验室环境
上传时间： 2022-03-05
上传用户：wangshoupeng199
LCD1602 LED灯阵列显示器件Altium Designer AD PCB封装库2D3D元件库文件PCB Library : 显示器件.PcbLibDate : 2020/12/29Time : 14:26:46Component Count : 14Component Name-----------------------------------------------JLX12864G-086JLX12864G-200JLX12864G-1353LCD-1602LCD-12864ALCD7X18LED 8*8-38LED RG-8*8AOLED 1.3-12864_7pinTFT1.5-39PTJC3224TJC4024K032TXD144CFTXD144CF-modules
上传时间： 2022-03-12
上传用户：wangshoupeng199
GJB150A-2009中华人民共和国国家军用标准代替GJB150-1986GJB150.1A-2009 军用装备实验室环境试验方法第1部分:通用要求（代替GJB150.1-86）GJB150.2A-2009 军用装备实验室环境试验方法第2部分:低气压（高度）试验（代替GJB150.2-86）GJB150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法GJB150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方法GJB150.-2009 军用装备实验室环境试验方法GJB150.7A-2009 军用装备实验室环境试验方法第7部分:太阳辐射试验（代替GJB150.7-86）GJB150.8A-2009 军用装备实验室环境试验方法第8部分:淋雨试验（代替GJB150.8-86）GJB150.9A-2009 军用装备实验室环境试验方法第9部分:湿热试验（代替GJB150.9-86）GJB150.10A-2009 军用装备实验室环境试验方法第GJB150.11A-2009 军用装备实验室环境试验方法第11部分 盐雾试验（代替GJB150.11-86）GJB150.12A-2009 军用装备实验室环境试验方法第12部分:砂尘试验（代替GJB150.12-86）GJB150.13A-2009 军用装备实验室环境试验方法第GJB150.14A-2009 军用装备实验室环境试验方法第14部分:浸渍试验（代替GJB150.14-86）GJB150.1-2009 军用装备实验室环境试验方法
标签： gjb150a
上传时间： 2022-05-30
上传用户：wangshoupeng199
STM32 PMSM FOC SDK V4.2·SDK V4.2软件包包含：PMSM FOC固件库和STMC Workbench（GUI），允许用户使用STM32进行单或双PMSM马达的FOC的驱动，其支持STM32F0XX，STM32F1xx，STM32F2xx，STM32F3xX及STM32F4xx工具：ST MC Workbench 1/2·STMCWBPC软件通过图形界面产生软件库的参数头文件，方便用户对软件库的配置及马达的调试工具：STMC Workbench 2/2·实时串口通讯·与PC实时通讯，实现马达的启动/停止，或速度的加减速·调试和监控软件参数·实时画出马达的参考及实际速度曲线X-NUCLEO-IHM07M1·供电电压：8V-48VDC·2.8A峰值电流·最大工作频率100KHz·兼容STM32Nucleo/ST Morpho接口·支持三电阻/单电阻电流采样·支持Hall/Encoder
标签： stm32
上传时间： 2022-06-30
上传用户：jiabin
PT2466为照相机、消费品、玩具等低压或电池供电的应用运动控制。PT2466可提供高达1.8A的输出直流电。电流。它在电机电源（VM）上运行。从0到11V以及设备电源电压（VCC）1.8V至5V。超低R-DS开启允许提供SOP-8包装。PT2466具有脉宽调制（IN1-IN2）输入接口全保护与过电流集成保护、欠压闭锁和过电压-温度停机
标签： pt2466
上传时间： 2022-07-26
上传用户：
