Test

vhdl 测试向量含测试向量（Test Bench）和波形产生：VHDL实例---相应加法器的测试向量（test bench).txt

vhdl 测试向量含测试向量（Test Bench）和波形产生：VHDL实例---相应加法器的测试向量（test bench).txt

标签： Bench bench vhdl Test

上传时间： 2015-05-13

上传用户：天涯
oracle forms developer Test

oracle forms developer Test

标签： developer oracle forms test

上传时间： 2014-01-12

上传用户：manlian
test RF module for 800MHZ frequency

test RF module for 800MHZ frequency

标签： frequency module test 800

上传时间： 2014-10-13

上传用户：上善若水
这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍

这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍，在此基础上，结合ARM7TDMI详细介绍了的JTAG调试原理。

标签： BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE ACCESS JTAG

上传时间： 2015-05-20

上传用户：caozhizhi
用VB编写的RS232串口TEST程序。

用VB编写的RS232串口TEST程序。

标签： TEST 232 RS 编写

上传时间： 2013-12-31

上传用户：tianyi223
MCU：ATMEGA8515 Frequence: 16M 描述：利用已有CAN Test V1.0电路板进行调试, 可靠性测试已通过

MCU：ATMEGA8515 Frequence: 16M 描述：利用已有CAN Test V1.0电路板进行调试, 可靠性测试已通过，并发现8515外部中断不稳定的原因是没有在INT0脚加上拉电阻，加上后已能够稳定地运行调试过程中发现SJA1000的首地址设置有误，改过后，当CAN发送数据时，程序能进入中断了，但发现中断是由出错报警中断引起的，估计与波特率设置有关。通过修改CDR的参数，以及更换16M晶振，现在已能正常地收发送数据了

标签： Frequence ATMEGA 8515 TEST

上传时间： 2015-05-26

上传用户：agent
凌阳实验箱测试程序包括自检程序```test````usb

凌阳实验箱测试程序包括自检程序```test````usb

标签： test usb 凌阳实验箱

上传时间： 2015-05-30

上传用户：gxf2016
memory Test check for embeded linux

memory Test check for embeded linux

标签： embeded memory check linux

上传时间： 2013-12-02

上传用户：彭玖华
important Test software for 9200 embeded linux

important Test software for 9200 embeded linux

标签： important software embeded linux

上传时间： 2015-06-03

上传用户：er1219
相应加法器的测试向量（test bench)

相应加法器的测试向量（test bench)

标签： bench test 加法器测试

上传时间： 2014-01-06

上传用户：siguazgb