摘要：讨论了电磁兼容中的的接地技术，包括接地的种类和目的、接地方式、屏蔽地、设备地、系统地，其目的在于安全运行和提高电力电子设备的电磁兼容能力。关键词：接地技术；电磁兼容；干扰1引言接地技术最早是应用在强电系统（电力系统、输变电设备、电气设备）中，为了设备和人身的安全，将接地线直接接在大地上。由于大地的电容非常大，一般情况下可以将大地的电位视为零电位。后来，接地技术延伸应用到弱电系统中。对于电力电子设备将接地线直接接在大地上或者接在一个作为参考电位的导体上，当电流通过该参考电位时，不应产生电压降。然而由于不合理的接地，反而会引入了电磁干扰，比如共地线干扰、地环路干扰等，从而导致电力电子设备工作不正常。可见，接地技术是电力电子设备电磁兼容技术的重要内容之一，有必要对接地技术进行详细探讨。2接地的种类和目的电力电子设备一般是为以下几种目的而接地：2.1安全接地安全接地即将机壳接大地。一是防止机壳上积累电荷，产生静电放电而危及设备和人身安全；二是当设备的绝缘损坏而使机壳带电时，促使电源的保护动作而切断电源，以便保护工作人员的安全。
上传时间： 2022-06-25
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电子防护领域非常专业的经典资料，供大家选选择参考学习
标签： 电子防护
上传时间： 2022-06-25
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本文大致可划分为四大部分。首先简单探讨LED，其次重点论述LED封装技术，然后简单介绍LED相关术语、LED相关工具，最后总结。经过对大量文献的阅读分析论证，LED封装技术主要涉及到封装设计、封装材料、封装设备、封装过程、封装工艺五大方面。封装设计是先导，封装材料是基础，封装设备是关键，封装过程是支柱，封装工艺是核心。封装过程大致可分为固品、焊线、灌胶、测试、分光五个阶段。封装工艺，主要体现为生产过程中的各个阶段各个环节各个步骤的技术要领和注意事项，在LED封装生产中至关重要，否则即使芯片质量好、辅材匹配好、设备精度高、封装设计优，若工艺不正确或品控不严格，最终也会影响LED封装产品的合格率、可靠性、热学特性及光学特性等。总之，合格的工艺能保证LED器件的质量，改进的工艺能降低LED器件的成本，先进的工艺能提高LED器件的性能。因此，本文重点在于对LED封装工艺进行分析和综合，简单介绍了封装设计，封装材料、封装设备、封装过程，详细地说明了封装工艺，总结了LED封装工艺的技术要领、注意事项，明确了LED封装有哪些工序、流程、制程、过程、环节，每个工序用什么材料，材料怎么检查怎么仓储怎么使用，用什么工具，工具怎么使用，操作步骤顺序和方法是怎样的，操作中要注意哪些事项，执行要达到什么标准，还分析了死灯的原因，介绍了LED封装生产过程中的静电防护措施。
标签： led
上传时间： 2022-06-26
上传用户：zhaiyawei
接地是电路或系统正常工作的基本技术要求之一，也是EMC性能高低之关键因素。在电子设备中，合理地应用接地技术，能抑制电磁噪声，大大提高系统的抗干扰能力，减少 EMI，并且良好的接地对电磁场有很好的屏蔽作用，能释放设备机壳上积累的大量的电荷，从而避免产生静电放电效应。在设计一个产品时，在设计期间就考虑到接地是最经济的方法。一个设计良好的接地系统，不仅从 PCB，而且能从系统的角度防止辐射和进行系敏感度的防护。有关接地系统所关心的重要领域包括：①通过对高频元件的仔细布局，减小电流环路的面积或使其极小化。②对PC 系统分区时，使高带宽的高频电路与低频电路分开。③设计PCB系统时，使干扰电流不通过公共的接地回路影响其他电路。
上传时间： 2022-06-26
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本标准等同采用IEC61000-4-5；1995《电磁兼容第4部分：试验和测量技术第5分部分：浪涌（冲击）抗扰度试验》。本标准是《电磁兼容试验和测量技术》系列国家标准的之一，该系列标准包括以下标准：GB/T17626.1-1998电磁兼容试验和测量技术抗扰度试验总论GB/T17626.2-1998电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验GB/T17626.3-1998电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验GB/T17626.4-1998电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验GB/T 17626.5-1999电磁兼容试验和测量技术浪涌（冲击）抗扰度试验GB/T17626.6-1998电磁兼容试验和测量技术射频场感应的传导骚扰抗扰度GB/T17626.7-1998电磁兼容试验和测量技术供电系统及所连设备谐波、谐间波的测量和测量仪器导则GB/T17626.8-1998电磁兼容试验和测量技术工频磁场抗扰度试验GB/T17626.9-1998电磁兼容试验和测量技术脉冲磁场抗扰度试验GB/T17626.10-1998电磁兼容试验和测量技术阻尼振荡磁场抗扰度试验GB/T17626.11-1999电磁兼容试验和测量技术电压暂降、短时中断和电压渐变抗扰度试验GB/T17626.12-1998电磁兼容试验和测量技术振荡波抗扰度试验本标准的附录A是标准的附录。本标准的附录B是提示的附录。本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标准由全国电磁兼容标准化联合工作组归口。本标准起草单位：电子工业部标准化研究所、机械工业部广州电器科学研究所、电力工业部武汉高压研究所等。本标准主要起草人：陈世钢、王素英、姚带月、聂定珍、文芳。
标签： 电磁兼容
上传时间： 2022-06-29
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保险丝选型指南，静电保护，PTC
上传时间： 2022-06-29
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信立诚科技主推低成本高性价比HC32F030F8TA-LQFP32可替换STM32F030K6T6，HC32F030F8TA比STM32F030K6T6单片机多集成了硬件除法器、蜂鸣器、电压比较器和低电压检测，独立PWM比STM32F030C8T6更丰富，12 位 1Msps 采样的高速高精度 SARADC，内置运放，可比ST单片机能测量到外部更微弱信号。HC32F030F8TA防静电可达8KV，比ST的防静电能力更强。
标签： MCU
上传时间： 2022-07-01
上传用户：qingfengchizhu
本资源包含GBT 17626.1-17626.10共10份最新的标准，本资源通过多渠道获得，希望大家多支持。GBT 17626.1-2006 电磁兼容 试验和测量技术 抗扰度试验总论GBT 17626.2-2018 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验GBT 17626.3-2016 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验GBT 17626.4-2018 电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验GBT 17626.5-2008 电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验GBT 17626.6-2017 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度GBT 17626.7-2008 电磁兼容 试验和测量技术 供电系统及所连设备谐波、谐间波的测量和测量仪器导则GBT 17626.8-2006 电磁兼容 试验和测量技术 工频磁场抗扰度试验GBT 17626.9-2011 电磁兼容 试验和测量技术 脉冲磁场抗扰度试验GBT 17626.10-1998 电磁兼容 试验和测量技术 阻尼振荡磁场抗扰度试验
标签： 电磁兼容
上传时间： 2022-07-04
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关于EMC的一些实验知识，包括辐射发射测试、传导发射测试(CE)、浪涌抗扰度、静电放电抗扰度测试、工频磁场抗扰度测试等
上传时间： 2022-07-04
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ST LINKV2使用说明ST-LINK/V2是STM8和STM32微控制器系列的在线调试器和编程器。单线接口模块（SWIM）和串行线调试（SWD）接口用于与应用板上的STM8和STM32微控制器通讯。STM8的应用使用USB全速接口与ST Visual Develop（STVD），ST Visual Program（STVP）或IAREWSTM8等集成开发环境通讯。STM32的应用使用USB全速接与Atollic，IAR，Keil或TASKING等集成开发环境通讯。通过USB接口供电；USB2.0全速兼容接口；USBA公至miniUSBB公连接线；7路杜邦线输出：电源---5V/3.3V双电源、GND，5V/3.3V最大输出500/300ma SWD---TMS、TCK，适用于STM32全系列芯片开发SWIM-RST、SWM，适用于STM8全系列芯片开发板载自恢复保险丝，有效防止短路造成的危害；板载静电防护，有效防止带点拔插造成的危害；支持固件在线升级；与PC连接通讯状态LED指示；
上传时间： 2022-07-05
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