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集成测试

集成测试,也叫组装测试或联合测试。在单元测试的基础上,将所有模块按照设计要求(如根据结构图)组装成为子系统或系统,进行集成测试。[1]
  • MedWin v2.04单片机集成开发环境(中文版)

    介绍:MedWin v2.04 是一个具有 Microsoft Visual Studio 窗口风格的集成开发环境。 支持带语法分析的彩色文本显示、源程序断点设置记忆、实时程序计数器 PC 显示、仿真器断电自动重载、自适应连接仿真器等功能, 并且支持全空间程序代码和数据空间的模拟仿真、TraceBuffer 跟踪器。包含对中断、定时器的模拟仿真和单片机外部设备状态分析设置、程序性能分析等更多、更实用的功能。特点:真正多模块的项目管理和单文件操作;源程序编辑及带语法分析的彩色字符;变量,数组,表达式的设置、观察、修改(包括浮点数据类型的直接输入);不限制打开数据窗口的数目,并可以在文本和数据窗口中横向和纵向分割;有模式的窗口停驻功能;实时程序计数器PC显示;源程序断点设置记忆功能;完全真实的实时源程序跟踪、单步和调用返回功能。

    标签: MedWin 2.04 单片机 集成开发环境

    上传时间: 2013-10-19

    上传用户:feilinhan

  • Keil Arm7 设计软件_V1.0测试版下载

       Keil Arm7 设计软件V1.0测试版.keil c51大家都比较熟悉,keil在今年又进入了arm7的设计领域,这套arm7 测试版软件就是keil小试牛刀的作品,使用和keil c51一样的uv2 IDE设计平台。keil会不会在arm7方面一鸣惊人呢?大家拭目以待。 这是 Keil 的 ARM7 系列的开发工具的测试版, 用到 GCC 的 ARM7 编译工具。 请先安装 GCC for ARM7 3.0.3 :gccarm303.exe 再安装 ARM7 的测试版:ekarmv100beta.exe

    标签: Keil Arm7 1.0 设计软件

    上传时间: 2013-10-15

    上传用户:yanyangtian

  • 资源测试

    资源测试

    标签: 资源测试

    上传时间: 2013-10-28

    上传用户:qq521

  • MCU和模拟集成的优势

    集成仍将是半导体领域的大趋势。在MCU中增加高电压模拟功能将会创造大量应用可能性,并为设计人员带来益处。本会议将通过回顾、讨论实际应用案例来详细阐述这些益处。

    标签: MCU 模拟集成

    上传时间: 2013-11-17

    上传用户:离殇

  • CT107D测试程序(含超声测距)

    CT107D测试程序

    标签: 107D 107 CT 测试程序

    上传时间: 2013-10-23

    上传用户:kxyw404582151

  • 各种单片机用到的或集成芯片的中文资料库

    各种单片机用到的或集成芯片的中文资料库,各种芯片中文资料一应俱全。

    标签: 单片机 集成芯片

    上传时间: 2013-10-08

    上传用户:731140412

  • 单片机C51串口中断接收和发送测试例程

    单片机C51串口中断接收和发送测试例程

    标签: C51 单片机 串口中断 接收

    上传时间: 2013-11-07

    上传用户:元宵汉堡包

  • 基于AVR单片机的木材含水率测试系统设计

    木材含水率,电阻法,承重法,基于,AVR单片机的木材含水率测试系统设计。

    标签: AVR 单片机 含水率 测试

    上传时间: 2013-11-11

    上传用户:lwq11

  • STC12C5A60S2系列ADC测试结果(使用12位DA测试--4096个测试点)

    STC12C5A60S2系列ADC测试结果(使用12位DA测试--4096个测试点) 

    标签: 4096 STC 12C A60

    上传时间: 2013-11-23

    上传用户:sc965382896

  • 基于89C52的二极管特性测试器的设计

      利用单片机具有的智能程序控制的特点,设计了基于STC89C52单片机的"二极管特性测试器",可对二极管一般特性进行快速测试。通过稳定线性电流源给二极管加载恒定电流,然后由高精度模数转换器测试其压降,以此为基础可判断二极管好坏、检测二极管极性和测试二极管伏安特性等,避免了用万用表测试只能测得极性而不知其特性这一缺点。可用于电子设计制作过程中对二极管进行快速测试,以确定被测二极管是否满足电路的设计要求。   Abstract:   By making good use of the intelligent control function of the Micro Controller Unit (MCU), the diode trait tester was designed based on the STC89C52,which could be used to test the trait of a diode rapidly. By loading constant current to diode through the stable linear current source, and measuring the voltage drop of the diode by high-precision analogue-to-digital converter (ADC), it can judge whether the diode is good or not, distinguish the polarity of the diode, and test the trait that the diode, which can avoid the fault of using a multimeter can only measure the polarity but not the trait. This device can be used to test the trait of a diode quickly,and to make sure that whether a diode can be used in the electronic design or not.

    标签: 89C52 二极管 特性测试器

    上传时间: 2013-11-13

    上传用户:assef