·详细说明：C#环境的车牌认别系统源代码和30张测试图片；本程序对以上的30汽车图片的认别定位分割等准确率达至100％。文件列表: sample ......\App.ico ......\AssemblyInfo.cs ......\bin ......\...\Debug ......\...\Release &
上传时间： 2013-07-11
上传用户：changeboy
·作者：张绮文 谢建雄 谢劲心 [同作者作品] [作译者介绍] 丛书名： 电子工程应用精讲系列 出版社：电子工业出版社 ISBN：7121031876 上架时间：2006-12-7 出版日期：2007 年1月 开本：16开 页码：436 版次：1-1 内容简介全书针对目前通用流行的ARM嵌入式处理器，通过实例精讲的形式，详细介绍了ARM嵌入式常用模块与综合应用系统设计的方法与技巧。全书共分3篇26章
上传时间： 2013-06-12
上传用户：JESS
·《现代飞机总体综合设计》(李为吉 主编)
上传时间： 2013-04-24
上传用户：qulele
·[测试书籍]ESSENTIALS OF ELECTRONIC TESTING FOR DIGITAL, MEMORY AND MIXED-SIGNAL VLSI CIRCUITS
标签： nbsp ESSENTIALS ELECTRONIC DIGITAL
上传时间： 2013-07-21
上传用户：euroford
·详细说明：H.263编解码原程序及测试程序源码,含测试序列,很难得的测试程序源代码.文件列表: H.263编解码原程序及测试程序源码 ...............................\libr263 ...............................\.......\coder.c .................
上传时间： 2013-06-18
上传用户：ykykpb
·采用G.729的语言实时通信DLL(含测试源代码)
上传时间： 2013-05-19
上传用户：西伯利亚狼
·何秀伟《电机测试技术》
上传时间： 2013-06-02
上传用户：chuckbassboy
·《变频器可编程序控制器及触摸屏综合应用技术》PDF
上传时间： 2013-07-16
上传用户：GeekyGeek
· 内容提要 本书的鲜明特色在于帮助读者全面、正确地理解Verilog硬件描述语言的综合。本书以电路综合为目标，针对各种语言结构逐一讨论了其可综合性、仿真与综合时的语义差别以及相关的各种相关的各种用法，给出了大量示例，对各种似是而非的用法作了对比，指出了其语义差别和所综合出的电路在功能上的差异。本书的另一特色在于详细介绍了设计模型的优化技术和验证技术。本书内容全面、深
上传时间： 2013-07-01
上传用户：努力努力再努力
·书中包括的索引使你能够根据自己的需要，直接阅读你所关注的内容。主要内容包括：设计核心，关注嵌入核心和嵌入存储器；系统集成和超大规模集成电路的设计问题；AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计；内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST；虚拟测试套接字和隔离测试 ·重用设计，包括重用和隔离测试；用VSIA和IEEE P1500标准处理测试问题。 书中穿插的整幅图解直接来自作者的教学材
上传时间： 2013-04-24
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