·《现代逆变技术及其应用》(李爱文 & 张承慧)扫描版[PDF]内容简介: 本书是《实用电源技术丛书》之一。 现代逆变技术广泛应用于各个领域的用电设备或功率变换装置中。本书从应用和设计的角度，详细论述了现代逆变技术，逆变开关器件，逆变系统结构及电路形式，变压器和电抗器设计，功率变换技术，逆变控制技术，逆变系统的整流滤波，并介绍了相关的设计技术和设计实例。本书总结了近年来国内外逆变技术及
标签： nbsp 逆变技术 扫描版
上传时间： 2013-05-20
上传用户：时代电子小智
DM642 接硬盘的方案，利用FPGA作FIFO缓冲，达到数据/图像/视频的实时高速写入。
标签： 642 DM 硬盘 方案
上传时间： 2013-08-13
上传用户：lgd57115700
lcd扫描缺少文件 缺少文件
标签： lcd
上传时间： 2013-08-15
上传用户：行者Xin
基于FPGA的键盘扫描模块的设计实现,感兴趣的请下载
标签： FPGA 键盘扫描 模块
上传时间： 2013-08-22
上传用户：kbnswdifs
基于N沟道MOS管H桥驱动电路设计与制作
标签： MOS N沟道 H桥驱动 电路设计
上传时间： 2014-08-01
上传用户：1109003457
为了讨论温度对模拟电子电路的影响，采用Multisim10仿真软件中的温度扫描分析进行仿真，分析了温度对放大电路的静态工作点以及输出波形的影响，同时验证了负反馈对提高放大电路稳定性的作用和差分放大电路能够抑制零点漂移的性能特点。研究表明，在课堂上利用Multisim10对模拟电子电路进行计算机仿真，再结合理论讲解，可以提高教学质量和教学效果。
标签： Multisim 温度扫描分析 模拟电子技术
上传时间： 2013-11-07
上传用户：qzhcao
由于扫描时间过短，导致按键的时候没有扫描到。
标签： 电工 电子排故系统 按键扫描 修改
上传时间： 2013-10-26
上传用户：wangjin2945
产生坏块的原因是因为NAND Flash的工艺不能保证NAND的Memory Array在其生命周期中保持性能的可靠，所以，在NAND的生产中及使用过程中会产生坏块。
标签： NAND_Flash
上传时间： 2013-10-24
上传用户：wojiaohs
单片机关于矩阵键盘的扫描。
标签： 键盘扫描程序
上传时间： 2013-10-16
上传用户：BIBI
八路扫描式抢答器设计
标签： 抢答器设计
上传时间： 2014-09-05
上传用户：windgate
