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直流/直流转换器

  • 基于ARM9的三相不平衡度测试仪设计

    以嵌入式ARM9控制器LPC3250为核心,并采用同时采样A/D转换器,设计了手持式三相不平衡度测试仪。可以同时测量8路交流信号的有效值、相位及三相电压电流的序量和不平衡度,且具有良好的人机界面。系统通过提高采样率并引入全相位FFT算法,可大幅提高幅值与相位测量精度,从而提高不平衡度的测量精度。系统可以将被测参数、趋势值、波形数据等存入SD卡,并通过网络接口实现远端通信,从而实现远程监控。

    标签: ARM9 三相 不平衡 试仪设计

    上传时间: 2013-11-19

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  • 深入浅出Cortex-M0—LPC1100系列

    LPC1100系列Cortex-M0微处理器A/D转换器的基本时钟由APB时钟提供。A/D转换器包含一个可编程的分频器,它可以将APB时钟调整为逐次逼近转换所需的时钟(最大可达4.5MHz,并且完全满足精度要求的转换需要11个这样的时钟)。

    标签: Cortex-M 1100 LPC

    上传时间: 2013-10-11

    上传用户:二驱蚊器

  • DAC34H84 HD2 性能优化与PCB布局建议

    DAC34H84 是一款由德州仪器(TI)推出的四通道、16 比特、采样1.25GSPS、功耗1.4W 高性能的数模转换器。支持625MSPS 的数据率,可用于宽带与多通道系统的基站收发信机。由于无线通信技术的高速发展与各设备商基站射频拉远单元(RRU/RRH)多种制式平台化的要求,目前收发信机单板支持的发射信号频谱越来越宽,而中频频率一般没有相应提高,所以中频发射DAC 发出中频(IF)信号的二次谐波(HD2)或中频与采样频率Fs 混叠产生的信号(Fs-2*IF)离主信号也越来越近,因此这些非线性杂散越来越难被外部模拟滤波器滤除。这些子进行pcb设计布局,能取得较好的信号完整性效果,可以在pcb打样后,更放心。这些杂散信号会降低发射机的SFDR 性能,优化DAC 输出的二次谐波性能也就变得越来越重要。

    标签: DAC 34H H84 HD2

    上传时间: 2013-12-28

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  • Nexys3板卡培训资料

      本资料是关于Nexys3板卡的培训资料。Nexys 开发板是基于最新技术Spartan-6 FPGA的数字系统开发平台。它拥有48M字节的外部存储器(包括2个非易失性的相变存储器),以及丰富的I/O器件和接口,可以适用于各式各样的数字系统。 板上自带AdeptTM高速USB2接口可以为开发板提供电源,也可以烧录程序到FPGA,用户数据的传输速率可以达到38M字节/秒。   Nexys3开发板可以通过添加一些低成本的外设Pmods (可以多达30几个)和Vmods (最新型外设)来实现额外的功能,例如A/D和D/A转换器,线路板,电机驱动装置,和实现装置等等。另外,Nexys3完全兼容所有的赛灵思工具,包括免费的WebPackTM,ChipscopeTM,EDKTM(嵌入式处理器设计套件),以及其他工具。 图 Nexys3板卡介绍

    标签: Nexys3 板卡 培训资料

    上传时间: 2013-10-24

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  • 用于Xilinx和Altera FPGA的电源管理解决方案

        本资料是TI(德州仪器)推出的用于Xilinx和Altera FPGA的电源管理解决方案介绍。其主要内容包括:低失真调整器、步减控制器、集成FET转换器、低功率集成FET转换器等。

    标签: Xilinx Altera FPGA 电源管理

    上传时间: 2015-01-01

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  • FPGA与ADC数字数据输出的接口

      现场可编程门阵列(FPGA)与模数转换器(ADC)数字数据输出的接口是一项常见的工程设计挑战。此外,ADC使用多种多样的数字数据样式和标准,使这项挑战更加复杂。本资料将告诉您有关在高速数据转换器实现方案中使用LVDS的应用诀窍和技巧。

    标签: FPGA ADC 数字 接口

    上传时间: 2015-01-02

    上传用户:athjac

  • 基于Xilinx FPGA的双输出DC/DC转换器解决方案

      Xilinx FPGAs require at least two power supplies: VCCINTfor core circuitry and VCCO for I/O interface. For the latestXilinx FPGAs, including Virtex-II Pro, Virtex-II and Spartan-3, a third auxiliary supply, VCCAUX may be needed. Inmost cases, VCCAUX can share a power supply with VCCO.The core voltages, VCCINT, for most Xilinx FPGAs, rangefrom 1.2V to 2.5V. Some mature products have 3V, 3.3Vor 5V core voltages. Table 1 shows the core voltagerequirement for most of the FPGA device families. TypicalI/O voltages (VCCO) vary from 1.2V to 3.3V. The auxiliaryvoltage VCCAUX is 2.5V for Virtex-II Pro and Spartan-3, andis 3.3V for Virtex-II.

    标签: Xilinx FPGA DC 输出

    上传时间: 2013-10-22

    上传用户:aeiouetla

  • 数字与模拟电路设计技巧

    数字与模拟电路设计技巧IC与LSI的功能大幅提升使得高压电路与电力电路除外,几乎所有的电路都是由半导体组件所构成,虽然半导体组件高速、高频化时会有EMI的困扰,不过为了充分发挥半导体组件应有的性能,电路板设计与封装技术仍具有决定性的影响。 模拟与数字技术的融合由于IC与LSI半导体本身的高速化,同时为了使机器达到正常动作的目的,因此技术上的跨越竞争越来越激烈。虽然构成系统的电路未必有clock设计,但是毫无疑问的是系统的可靠度是建立在电子组件的选用、封装技术、电路设计与成本,以及如何防止噪讯的产生与噪讯外漏等综合考虑。机器小型化、高速化、多功能化使得低频/高频、大功率信号/小功率信号、高输出阻抗/低输出阻抗、大电流/小电流、模拟/数字电路,经常出现在同一个高封装密度电路板,设计者身处如此的环境必需面对前所未有的设计思维挑战,例如高稳定性电路与吵杂(noisy)性电路为邻时,如果未将噪讯入侵高稳定性电路的对策视为设计重点,事后反复的设计变更往往成为无解的梦魇。模拟电路与高速数字电路混合设计也是如此,假设微小模拟信号增幅后再将full scale 5V的模拟信号,利用10bit A/D转换器转换成数字信号,由于分割幅宽祇有4.9mV,因此要正确读取该电压level并非易事,结果造成10bit以上的A/D转换器面临无法顺利运作的窘境。另一典型实例是使用示波器量测某数字电路基板两点相隔10cm的ground电位,理论上ground电位应该是零,然而实际上却可观测到4.9mV数倍甚至数十倍的脉冲噪讯(pulse noise),如果该电位差是由模拟与数字混合电路的grand所造成的话,要测得4.9 mV的信号根本是不可能的事情,也就是说为了使模拟与数字混合电路顺利动作,必需在封装与电路设计有相对的对策,尤其是数字电路switching时,ground vance noise不会入侵analogue ground的防护对策,同时还需充分检讨各电路产生的电流回路(route)与电流大小,依此结果排除各种可能的干扰因素。以上介绍的实例都是设计模拟与数字混合电路时经常遇到的瓶颈,如果是设计12bit以上A/D转换器时,它的困难度会更加复杂。

    标签: 数字 模拟电路 设计技巧

    上传时间: 2014-02-12

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  • PC104数据采集卡

    ART2005板是PC104总线兼容的光电隔离型A/D板。A/D分辨率为12Bit,通过率为100KHZ。 ART2005板上安装有12Bit分辨率的A/D转换器。为用户提供了两种模拟信号输入方式:16路单端输入或8路双端输入方式。硬件增益可选1~1000。 A/D转换器模拟输入信号范围: ART2005(ADS7835):±2.5V,±5V,±10V ART2005A(ADS7818):0~5V, 0~10V ART2005板支持软件查询、中断申请数据传输工作方式。 ART2005与ART2005A只是模拟输入范围和数据格式不同,其它完全相同。

    标签: 104 PC 数据采集卡

    上传时间: 2013-10-20

    上传用户:fudong911

  • 晶体管参数测试仪的设计

    以LM3S1138芯片作为控制核心,设计了一个晶体管参数测试系统。该系统主要功能模块包括:恒流源阶梯信号、电压扫描信号、升压电路、保护电路等。利用8位D/A转换器产生稳定的控制电压,通过集成在LM3S1138芯片中的10位A/D模块完成电压的测量。通过RS232接口将测量数据传送到PC机,利用Matlab软件实现对测量数据的处理和显示。测试结果表明:该晶体管参数测试仪工作良好,测量结果都在数据手册给的参数范围之内。

    标签: 晶体管参数 仪的设计 测试

    上传时间: 2013-10-23

    上传用户:ZOULIN58