本文讨论半导体产品特征循环及其对产品技术发展的 启示 。分析指出，半导体产品的主特征一直遵循着“通用” 与“专用”交替发展，每十年波动一次，目前正进入以嵌入 式可编程SoC为特征的专用（可称为专用可编程产品，ASPP波动阶段。同时还指出了牧村浪潮与我们提出的“半导体产品特征循环”的共同点与分歧。根据预测，半导体产品将在ASPP发展中，向用户可重构片上系统（U-SoC, User-reconfigurable SoC）方向发展，进入传统硅微电子技术的最后一次通用波动。文中最后分析了可重构计算的发展现状和存在的问题，以及今后的发展方向。
上传时间： 2017-05-27
上传用户：笨小孩
Meschach 可以解稠密或稀疏线性方程组、计算特征值和特征向量和解最小平方问题，另外还有其它功能。它为双精度数和复数提供了近 400 个函数。它提供的教程以说明性的小案例研究的形式介绍了这些函数。
上传时间： 2013-12-26
上传用户：bcjtao
特征矩阵的联合对角化法（JADE），独立分量分析（ICA）的一种方法，用matlab编写
上传时间： 2017-06-03
上传用户：z1191176801
基于JAVA实现的特征选择算法，并且使用Jfreechart实现图形显示
上传时间： 2017-06-05
上传用户：xuan‘nian
本书通过最新的Java特征和最佳实践阐释了经典著作《设计模式》中介绍的23种基本设计模式。作者根据自己丰富的编程经验，用实际的Java 5.0程序、清晰的UML图表以及引人入胜的实践讲述了每个模式。书中每章集中讨论一种特定的模式，之后给出一些自我突破题，自我突破题或者启发读者思考，或者要求编写代码来解决某个问题，有助于更深入地理解书中的概念。 本书适合于各层次的Java开发人员阅读。
上传时间： 2017-06-06
上传用户：wanqunsheng
这个ppt是用来介绍Forster特征提取的算法的，通过这个算法，可以编译出对应的程序
上传时间： 2017-06-08
上传用户：JIUSHICHEN
KLT方法对特征点进行跟踪，很好用的方法
上传时间： 2014-03-08
上传用户：shanml
这是一篇基于分层约束的人脸局部特征检测算法…很直得大家参考
上传时间： 2014-01-11
上传用户：xauthu
基于改进SVM的特征选择，可以帮助大家认识SVM
上传时间： 2014-01-05
上传用户：qiao8960
射频确认((RFID)正迅速改变生意跟踪盘货和资产的方式.从对美国国防部沃尔-马特和特斯科,早期努力正已经展示好处,但是为RFID软件,融合和数据处理使目前一挑战平息下来.如果你是一个设计师把发展一RFID系统记在一开发者金色上的,这本书是给你的.广阔经验鼓励,比尔Glover和Himanshu Bhatt为你提供重要的关于这新兴技术的信息.
上传时间： 2014-01-01
上传用户：稀世之宝039
