在软件测试的单元测试中，需要找出满足某种覆盖率（如分支覆盖）的测试数据（函数参数值）来判断被测函数是否有bug。源程序利用遗传算法的全局寻优特性实现了测试数据的自动产生而不用人工凭经验输入参数值。程序中被测试函数用的是三角函数。源码用C++实现了GA的寻优过程，并注有必要的注释，运行结果能够很快找到解。
上传时间： 2013-12-01
上传用户：三人用菜
计算化合物热容，应用NASA提供的热力学参数计算不同物质的热容，焓，熵数据
上传时间： 2014-11-26
上传用户：hakim
此项为LM339测试程序，该四电压比较器LM339简介 LM339集成块内部装有四个独立的电压比较器，该电压比较器的特点是：1）失调电压小，典型值为2mV；2）电源电压范围宽，单电源为2-36V，双电源电压为±1V-±18V；3）对比较信号源的内阻限制较宽；4）共模范围很大，为0~（Ucc-1.5V）Vo；5）差动输入电压范围较大，大到可以等于电源电压；6）输出端电位可灵活方便地选用。 LM339集成块采用C-14型封装，由于LM339使用灵活，应用广泛，所以世界上各大IC生产厂、公司竟相推出自己的四比较器，如IR2339、ANI339、SF339等，它们的参数基本一致，可互换使用
上传时间： 2016-01-27
上传用户：lps11188
（1）写一个final参数类M，包括比较次数、交换次数、探测次数属性，并重写构造器和toString方法。 （2）写一个抽象类A，其中包括要排序的数据。提供三个final方法，分别完成比较、探测、交换操作的同时，正确改变私有的M类对象成员的相关属性。并提供一个虚方法doSort,同时提供一个final方法sort（先设置M对象初值，然后调用doSort方法，返回M对象引用） （3）写三个采用不同方法排序的A类的派生类A1,A2,A3 （4）写一个测试类作为主类，分别生成A1,A2,A3的对象并调用sort方法，显示三个方法在排序时候的性能参数。
上传时间： 2014-01-03
上传用户：牛津鞋
热释红外探测器的电路图和PCB图，已经经过测试，大家可以下来
上传时间： 2016-03-07
上传用户：妄想演绎师
批处理参数问题一点谈 最近编写了一个批处理程序，想让程序能够灵活的接收两个以下的参数，但在完成过程中几经卡壳，比如怎么解决数量不等的参数个数，怎么实现参数类型的判断。经过一段时间的思考和摸索，总算比较满意的解决了这些问题。接下来我谈谈这个过程，如果你想测试效果的话请在 NT 系统下进行。
上传时间： 2014-01-22
上传用户：lifangyuan12
基于Samsung2410平台的PCMCIA中的DMA测试程序和Wait程序，还有经编译后的CPLD参数。
上传时间： 2014-11-04
上传用户：sjyy1001
psotoolbox程序已经通过了测试函数，可用来进行svm或ann的参数优化
标签： psotoolbox 程序 测试 函数
上传时间： 2016-03-31
上传用户：JasonC
linux下的串口简单测试程序。实现打开串口，设置串口参数，发送数据功能
上传时间： 2013-12-16
上传用户：924484786
基于fpga的屏幕测试程序，可以根据测试要求在上位机的控制下生成各种图形图像，并调整参数
上传时间： 2013-12-14
上传用户：15071087253
