随着计算机技术的飞速发展，嵌入式系统在人们的生产生活中发挥着越来越重要的作用。近年来，基于ARM处理器和μC/OS-II操作系统的嵌入式技术已经成为当前嵌入式领域的研究热点之一。 论文主要研究基于ARM7处理器和μC/OS-II操作系统的嵌入式测控平台架构，为测控系统开发提供一个方便功能扩展的软硬件环境。在此基础上，以加速度计为对象，利用嵌入式系统的丰富资源，完成对其内部温度及加速度信号的采集实例。硬件设计分为核心系统设计和数据采集控制子系统设计两部分。核心系统主要包括控制核心S3C44BOX模块、存储器模块、调试接口模块、液晶显示模块以及数控键盘模块等。完成了母板的设计与验证，并预留多种接口，增强了可扩展性。采集控制子系统作为数据采集及控制机构，主要由A/D转换芯片完成和串行通信模块，用来接收传感器传输的数据，经ARM处理器分析处理后，通过串行通讯方式与下位机通信。由于有多个下位系统，平台设计扩展了8路带高速缓冲的异步串行通信模块。最后，对各硬件模块进行总体调试，并对调试结果进行了分析。 调试结果表明，该硬件平台不仅响应速度快、成本低、可靠性好，而且具有良好的可移植性和可裁剪性，便于根据实际需求进行功能扩展和裁剪，达到了预期的设计目标。
上传时间： 2013-07-26
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仪器仪表产品的总体发展趋势是传统的仪器仪表将仍然朝着高性能、高精度、高灵敏、高稳定、高可靠、高环保和长寿命的“六高一长”的方向发展；新型的仪器仪表与元器件将朝着微型化、集成化、电子化、数字化、多功能化、智能化、网络化、计算机化的方向发展；其中占主导地位、起核心或关键的作用是微型化、智能化和网络化。而我国仪器仪表在工业自动化仪表方面重点发展基本上是基于现场总线技术的主控系统装置及智能化仪表和专用自动化仪表；闸门测控仪表一般的功能都是控制闸门开度、荷重，以及超限报警等基本功能。处理器核心也一般都是8/16位的单片机，8/16位单片机功能简单难以满足嵌入式设备的网络、图像传输等要求，而且对人际交互功能的支持也相对较弱。 本文正是针对现有闸门测控仪存在的功能单一、网络功能差、接口标准不统一、不具备监控功能等问题，开发设计高性能新型智能仪表。以设计出一种智能型闸门测控仪表为研究出发点，在分析国内主流仪表厂家的仪表操作方式和仪表功能的基础上，合理地进行软硬件设计，为在同一硬件平台下实现多种仪表的功能进行创新性和探索性研究。提出基于ARM的嵌入式闸门智能测控仪表的设计，构建基于ARM系统的硬件平台和基于嵌入式Linux操作系统的软件平台。应用嵌入式系统技术设计开发全新的智能闸门测控仪主要功能包括：闸门开度和荷重自动检测、实时性控制；过闸流量实时自动监测；闸门运行状态诊断与故障报警；实时工况图像处理；工业以太网现场总线接口与网络传输等。
上传时间： 2013-04-24
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旋转弯曲疲劳试验机是测定材料机械性能的基本设备之一，应用范围广泛。随着试验机技术和微电子技术的快速发展，旧有的试验机测控系统已逐渐不能适应广大用户的测试需求，迫切要求新一代试验机测控系统向数字化、智能化、集成化方面迈进。 本课题研究的主要任务是在分析和总结国内外同类试验机测控系统技术现状的基础上，吸收先进的微电子技术和试验机控制技术，开发一套新型的基于ARM微处理器的旋转弯曲疲劳试验机测控系统。论文围绕这个任务，主要进行了如下几个方面的研究工作： 1.分析旋转弯曲疲劳试验机的系统工作原理与测量参数，制定试验机测控系统的总体设计方案，并对测控系统中ARM主控制器要实现的功能进行具体分析。 2.依照总体方案，设计出以32位ARM微处理器LPC2210为核心的主控制器，对系统测量模块、驱动模块及外围电路进行了电路设计；分析系统交流驱动单元的工作原理，并对ARM实现系统交流电机的调速控制作出具体阐述。 3.针对系统交流电机的调速控制，在建立交流系统数学模型的基础上，采用一种基于现代控制理论的矢量控制算法并附以PID控制策略来实现无级精度调速。 4.移植实时嵌入式操作系统μC/OS-Ⅱ至LPC2210，编写启动代码和主任务程序，对各任务模块设计用户应用程序，并对上位机的软件系统设计进行结构规划。 5.对基于ARM的旋转弯曲疲劳试验机测控系统进行软硬件调试，并完成部分试验。
上传时间： 2013-06-06
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在基于工业以太网和现场总线技术的集散控制系统中，对智能测控模板— 热电偶(TC)信号输人模板进行了设计与研究。首先对该现场总线控制系统的结构与功能进行介绍和分析，然后给出了热电偶信号输人模板的设计与具
上传时间： 2013-04-24
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介绍了一种利用PIC 单片机、DS18B20 和PC 机构成的分布式测温阵列，在给出系统整体构成的基础上重点阐述了单片机与DS18B20 的接口电路设计和传感器自动识别与故障排除的方法，并给出
上传时间： 2013-06-19
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文章利用LabVIEW 虚拟仪器开发平台，实现了采用非接触方式的相位差法测量发动机轴功率系统设计，对发动机输出功率信号进行自动采集、数据处理以及结果显示，实现了功率信号的实时采集。
上传时间： 2013-04-24
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介绍了光电测速传感器的组成,分析了该传感器的工作原理。在分析该传感器信号的基础上,用SD2380 动态分析仪作了频谱分析。设计了相应的信号调理电路,并据此制作了车速仪,其准确度高,实用性强。
上传时间： 2013-04-24
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随着微处理器技术与信息技术的不断发展，嵌入式系统的应用也进入到国防、工业、能源、交通以及日常生活中的各个领域。嵌入式系统的软件核心是嵌入式操作系统。然而，国内在嵌入式系统软件开发上有很多困难，主要有：国外成熟的RTOS大都价格昂贵并且不公开源代码，用好这些操作系统需对计算机体系结构有深刻理解。针对以上问题，免费公开源代码的嵌入式操作系统就倍受瞩目了，μC/OS-II就是其中之一。μC/OS-II是面向中小型应用的、基于优先级的可剥夺嵌入式实时内核，其特点是小巧、性能稳定、可免费获得源代码。 本文在深入研究μC/OS-II内核基础上，将其运用于实际课题，完成了基于ARM架构的μC/OS-II移植及实时同步交流采样的误差补偿研究。本文主要工作内容和研究成果如下： 1.剖析了μC/OS-II操作系统内核，重点研究了μC/OS-II内核的任务管理与调度算法机理，得出了μC/OS-II内核优点：任务调度算法简洁、高效、实时性较好(与Linux相比)。 2.介绍了ARM9体系架构，重点讲叙了MMU(存储管理单元)功能。为了提高交流采样系统的取指令和读数据速度，成功将MMU功能应用于本嵌入式系统中。 3.完成了μC/OS-II操作系统在目标板上的移植，主要用汇编语言编写了启动代码、开关中断、任务切换和首次任务切换等函数。 4.针对国内外提出的同步交流采样误差补偿算法的局限性，本文从理论上对同步交流采样的准确误差进行了研究，并尝试根据被测信号周期的首尾过零点的三角形相似法，求出误差参数并对误差进行补偿。此外，考虑到采样周期△T不均匀，经多次采样后会产生累积误差，本文也给出了采样周期△T的优化算法。 5.完成了系统硬件设计，并根据补偿算法和△T优化法则，编写了相应采样驱动和串口驱动。最后对实验数据进行了分析和比较，得出重要结论：该补偿算法实现简单，计算机工作量小，精度较高。
上传时间： 2013-04-24
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洗衣机液位传感器是模糊洗衣机和全自动洗衣机重要零部件，负责控制洗衣机的水位。洗衣机水位的精确控制对洗衣机在节水、节能和减少洗涤时间方面起到重要作用。 洗衣机液位传感器出厂时需要调整传感器的调整螺母，使传感器的输出满足设计要求，传感器的调整精度和调整速度直接关系到传感器的生产质量和生产效率。 液位传感器生产厂家对传感器的调整的传统方法为人工升压、人工调整。人工调整一次只能调整一个，生产效率极低；调整过程中含有较多人为因素，调整方法因人而异，很难对调整精度进行有效管理；不能记录并反馈批次传感器的质量情况，较难实现对传感器生产质量的监控；工人的培养周期较长、培养成本高。 为此开发一套液位传感器自动检验调整系统。该系统以PC机作为核心的上位机和16个以ARM为核心的下位机，上位机负责协调整个系统工作、气室气压控制、记录和处理调整数据。下位机是一个测控系统，负责对传感器测量和调整。上位机与下位机通过CAN总线通信。 论文介绍了液位传感器的原理；介绍了基于PC机的气室气压控制模块的设计并针对系统特点设计了改进PID算法；对于下位机部分，研制了ARM主控模块、测频模块、步进电机控制模块、CAN总线模块并设计了新的测频方法、以及传感器调整算法。最后介绍了系统的自检与调试。 系统一次能调整16个传感器，生产效率大大提高；自动调整排除人工调整的人为因素，调整精度提高；PC机能记录传感器的调整数据，分析批次传感器的质量，从而达到对传感器生产质量的控制。
上传时间： 2013-07-19
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表面粗糙度是机械加工中描述工件表面微观形状重要的参数。在机械零件切削的过程中，刀具或砂轮遗留的刀痕，切屑分离时的塑性变形和机床振动等因素，会使零件的表面形成微小的蜂谷。这些微小峰谷的高低程度和间距状况就叫做表面粗糙度，也称为微观不平度。表面粗糙度的测量是几何测量中的一个重要部分，它对于现代制造业的发展起了重要的推动作用。世界各国竞相进行粗糙度测量仪的研制，随着科学技术的发展，各种各样的粗糙度测量系统也竞相问世。对于粗糙度的测量，随着技术的更新，国家标准也一直在变更。最新执行的国家标准(GB/T6062-2002)，规定了粗糙度测量的参数，以及制定了触针式测量粗糙度的仪器标准[1]。 随着新国家标准的执行，许多陈旧的粗糙度测量仪已经无法符合新标准的要求。而且生产工艺的提高使得原有方案的采集精度和采集速度，满足不了现代测量技术的需要。目前，各高校公差实验室及大多数企业的计量部门所使用的计量仪器(如光切显微镜、表面粗糙度检查仪等)只能测量单项参数，而能进行多参数测量的光电仪器价格较贵，一般实验室和计量室难以购置。因此如何利用现有的技术，结含现代测控技术的发展，职制出性能可靠的粗糙度测量仪，能有效地降低实验室测量仪器的成本，具有很好的实用价值和研究意义。 基于上述现状，本文在参考旧的触针式表面粗糙度测量仪技术方案的基础上，提出了一种基于ARM嵌入式系统的粗糙度测量仪的设计。这种测量仪采用了先进的传感器技术，保证了测量的范围和精度；采用了集成的信号调理电路，降低了信号在调制、检波、和放大的过程中的失真；采用了ARM处理器，快速的采集和控制测量仪系统；采用了强大的PC机人机交互功能，快速的计算粗糙度的相关参数和直观的显示粗糙度的特性曲线。 论文主要做了如下工作：首先，论文分析了触针式粗糙度测量仪的发展以及现状；然后，详细叙述了系统的硬件构成和设计，包括传感器的原理和结构分析、信号调理电路的设计、A/D转换电路的设计、微处理器系统电路以及与上位机接口电路的设计。同时，还对系统的数据采集进行了研究，开发了相应的固件程序及接口程序，完成数据采集软件的编写，并且对表面粗糙度参数的算法进行程序的实现。编写了控制应用程序，完成控制界面的设计。最终设计出一套多功能、多参数、高性能、高可靠、操作方便的表面粗糙度测量系统。
上传时间： 2013-04-24
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