用遗传算法及佳点集算法测试同一标准函数,普通的遗传算法和佳点集遗传算法的基本思想和不同点
上传时间： 2014-01-25
上传用户：cjl42111
佳点集算法测试一标准函数,理解普通的遗传算法和佳点集遗传算法的基本思想和不同点
上传时间： 2013-12-27
上传用户：维子哥哥
理解普通的遗传算法和佳点集遗传算法的基本思想和不同点,用遗传算法测试一标准函数。
上传时间： 2016-05-30
上传用户：sy_jiadeyi
计算机软件测试规程,用于软件测试领域.软件测试标准.
上传时间： 2013-12-12
上传用户：cainaifa
这是关于电力系统潮流优化的30个节点测试标准，基于MATLAB开发
上传时间： 2014-01-05
上传用户：kelimu
国际测试标准IEEE简易历史封装结构说明
上传时间： 2014-01-21
上传用户：努力努力再努力
高频非接触式电子标签测试标准ISO10373-6，对研究RFID的工程师非常有用。
上传时间： 2016-07-29
上传用户：c12228
标准编译原理词法分析器：源代码、可执行程序、测试程序文件、输入结果文件。
上传时间： 2016-07-31
上传用户：叶山豪
本测试板（下文简称为LPC764板）是专门针对Philips公司的低功耗单片机P87LPC764而设计。除了标准80C51的功能外,P87LPC764还增加(或增强)了许多新功能，从而使LPC76X系列成为8位单片机市场上性能比较高的单片机。LPC764板可以把P87LPC764的新功能进行演示和测试，详细测试程序和说明请看第四部分内容。当然，P87LPC762、767、768、769的管脚与P87LPC764是“兼容”的，所以此板也可以进行P87LPC762、767、768、769的测试。LPC764板对MCU的20个引脚都是“开放的”，只要你把你所需要的引脚的通过对应的跳线（在J5中）短接到“EXT”侧，即可从“LK1”把此脚接到外面的应用板上，这样，板内的资源加上扩展的资源（外面的应用板）足可以用P87LPC76X实验51单片机的多种基本功能及P87LPC76X的种种新功能。
上传时间： 2013-11-28
上传用户：jeffery
LED的相关标准01 为LED灯具的测试提供参考！
上传时间： 2016-10-11
上传用户：dianxin61
