为了满足工业控制系统多功能和数据处理能力的需求，设计了基于CPCI总线的一体化数据处理中心。系统以FPGA芯片为硬件控制核心，利用硬件描述语言Verilog进行编程，采用自顶向下和模块化的设计方法，实现了在同一嵌入式产品上集成光纤通信、A/D、D/A、CPCI总线、SDRAM存储等功能，实现了系统的一体化、小型化。实际应用表明本系统稳定可靠、易于维护，满足工业控制领域的需求。
上传时间： 2013-10-18
上传用户：xmsmh
使用vs2005 c#编写的GPRS数据处理中心应用程序。
上传时间： 2013-12-20
上传用户：czl10052678
应用Delphi开发的GPS程序。DSC（Data Service Center）用来接收和处理DTU发送过来的数据 本DSC DEMO包括三部分功能： 1、 作为数据服务中心的功能； 2、 注册功能； 3、 短信功能；
上传时间： 2013-12-12
上传用户：李彦东
无线数据服务中心源代码：移动或联通的无限数据终端将采集到的数据通过Internet传送到数据中心，数据中心对数据进进行处理。
上传时间： 2013-12-29
上传用户：Amygdala
handb是一个纯Java编写的小型的关系数据库管理系统。 其中的“数据处理核心”由一为MIDP设计的关系数据查询程序更改而来； 数据存储管理在MIDP系统中由系统提供，而在该系统中提供一简单的实现； SQL语句解析部分，采用拆分和取关键字的方式实现，支持SQL-92中常用的一些语句； 用户接口由一简单的Java服务器更改而来，能够应付普通的访问； 请求调度部分的主要原则是以表为中心，保证表的原子访问。
上传时间： 2015-05-10
上传用户：15736969615
中华学习机数据处理
标签： 数据处理
上传时间： 2013-04-15
上传用户：eeworm
试验设计与数据处理
上传时间： 2013-07-14
上传用户：eeworm
专辑类-实用电子技术专辑-385册-3.609G 试验设计与数据处理-255页-5.1M.pdf
上传时间： 2013-04-24
上传用户：lwwhust
刀具状态的精确监测是保证金属切削加工过程顺利进行的关键，因此研制准确、可靠且成本低廉的刀具状态监测系统一直是研究人员所追求的目标。在众多刀具状态监测方法中，声发射监测技术，以其信号直接来源于切削区，具有灵敏度高、响应快，能有效避开低频干扰等优点，非常适用于刀具状态监测。 围绕如何获取高信噪比的刀具状态信号特征，拟结合嵌入式技术，构建准确、稳定、低成本的实时刀具状态监测与辨识系统。给出了基于ARM& WinCE平台的刀具状态监测系统数据处理平台软硬件初步解决方案。作为课题的前期研究本文主要进行了以下工作： （1）分析了声发射信号与刀具磨损状态的相关性，验证了利用声发射信号进行刀具状态监测的可行性； （2）确定刀具状态监测系统的整体方案，包括系统整体架构、软硬件设计方案。ARM& WinCE构成本系统的数据处理与显示平台，EVC为图形界面应用程序开发工具； （3）构建了数据处理与显示平台。选用MagicARM2410实验开发平台，简化了硬件设计；根据系统的功能需求，进行ARM平台的接口设计、操作系统和必要的驱动程序的剪裁及移植； （4）完成了数据处理与显示应用软件设计。系统软件包括界面模块、数据管理模块、数据处理模块、图形及结果显示模块、参数设置模块等，其中数据处理模块主要包括小波消噪、小波包分解特征提取等算法； （5）实现了ARM& WinCE平台与PC机的实时可靠通讯。
上传时间： 2013-04-24
上传用户：lanjisu111
在诸多行业的材料及材料制成品中，表面缺陷是影响产品质量的重要因素之一。研究具有显微图像实时记录、处理和显示功能的材料表面缺陷检测技术，对材料的分选和材料质量的检查及评价具有重要的意义。 本文以聚合物薄膜材料为被测对象，研究了适用于材料表面缺陷检测的基于现场可编程门阵列(FPGA)的缺陷数据实时处理技术，可实时提供缺陷显微图像信息，完成了对现有材料缺陷检测装置的数字化改造与性能扩展。本文利用FPGA并行结构、运算速度快的特点实现了材料缺陷的实时检测。搭建了以FPGA为核心的缺陷数据处理系统的硬件电路；重点针对聚合物薄膜材料缺陷信号的数据特征，设计了基于FPGA的缺陷图像预处理方案：首先对通过CCD获得的聚合物薄膜材料的缺陷信号进行处理，利用动态阈值定位缺陷区域，将高于阈值的数据即图像背景信息舍弃，保留低于阈值的数据，即完整保留缺陷显微图像的有用信息；然后按照预先设计的封装格式封装缺陷数据；最后通过USB2.0接口将封装数据传输至上位机进行缺陷显微图像重建。此方案大大减少了上传数据量，缓解了上位机的压力，提高了整个缺陷检测装置的检测速度。本文对标准模板和聚合物薄膜材料进行了实验验证。实验结果表明，应用了基于FPGA的缺陷数据实时处理技术的CCD扫描缺陷检测装置可对70μm～1000μm范围内的缺陷进行有效检测，实时重建的缺陷显微图像与实际缺陷在形状和灰度上都有很好的一致性。
上传时间： 2013-05-19
上传用户：Alibabgu
