建立了从裸芯片到KGD的质量与可靠性保证系统，确立了裸芯片测试、老化和评价技术，实现了工作温度为一55～+125℃ 的裸芯片静态、动态工作频率小于100MHz的测试和工作频率小于3MHz的1 25℃ 动态老化筛选，可保障裸芯片在技术指标和可靠性指标上达到封装成品的等级要求。
上传时间： 2013-11-08
上传用户：苍山观海
电子产品可靠性分析、评价的重点在于确定其高风险环节。基于充分考量失效机理的分析目的，采用了“元器件-失效模式-失效机理-影响因素”相关联的分析方法，通过相关物理模型和一个电子产品分析案例，实现了利用这一方式确定高风险环节和分析可靠性的全过程，得到了这一方法比采用FMEA等失效模式分析更为实际、准确的结论。
上传时间： 2013-11-19
上传用户：fanxiaoqie
系统可靠性综合评估的BAYES方法
上传时间： 2014-01-26
上传用户：gmh1314
具有高可靠性的高速连续数据采集的设计与实施方法，一篇有关数据采集的论文
上传时间： 2014-11-29
上传用户：zwei41
这个东东是我刚写出来的,这可以完成定时1秒的功能,并且使用定时器来完成,定时精度高,可靠性高.
上传时间： 2013-12-20
上传用户：xiaohuanhuan
可靠性基础知识，不言而喻是十分重要的。它决定着一个产品的质量。因此是每一个搞质量控制人士的必备知识。
上传时间： 2015-04-12
上传用户：2525775
SST28SF040是SST公司推出的高速可编程闪存。它具有512k*8的存储结构 芯片擦除及写入的时间快,可靠性高,能够重复写100,000次,低功耗.以上程序是用c51编写的驱动程序，希望对使用该芯片的同仁有所帮助
上传时间： 2014-12-22
上传用户：徐孺
如:检索迅速、查找方便、可靠性高、存储量大、保密性好、寿命长、成本低等。这些优点能够极大地提高的效率,也是学校科学化、正规化管理的重要条件。 因此，开发这样一套管理软件成为很有必要的事情,在下面的各章中我们将以开发一套学生管理系统为例,谈谈其开发过程和所涉及到的问题及解决方法。
上传时间： 2015-04-16
上传用户：caiiicc
这是程序可靠性资料,如果你想学好程序开发，这是一个不错的参考资料。
上传时间： 2014-01-06
上传用户：ouyangtongze
双口RAM硬件和软件可靠性握手的实现 双口RAM硬件和软件可靠性握手的实现
上传时间： 2014-11-30
上传用户：ZJX5201314
